🗊Презентация Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии

Категория: Технология
Нажмите для полного просмотра!
Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №1Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №2Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №3Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №4Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №5Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №6Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №7Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №8Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №9Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №10Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №11Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №12Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №13Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №14Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №15Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №16Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №17Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №18Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №19Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №20Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №21Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №22Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №23Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №24Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №25Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №26Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №27Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №28Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №29Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №30Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №31Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №32Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №33Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №34Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №35Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №36Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №37Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №38Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №39Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №40Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №41Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №42

Содержание

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии. Доклад-сообщение содержит 42 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации


Слайд 1





Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии
РФСА –рентгенофлуоресцентный спектральный анализ
Описание слайда:
Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии РФСА –рентгенофлуоресцентный спектральный анализ

Слайд 2





Рентгенофлуоресцентные спектрометры  применяются в различных областях науки и техники: 
Рентгенофлуоресцентные спектрометры  применяются в различных областях науки и техники: 
экология и охрана окружающей среды, 
геология и минералогия, 
металлургия и химическая индустрия, 
лакокрасочная промышленность, 
ювелирная промышленность, 
нефтяная промышленность, 
пищевая промышленность, 
сельское хозяйство, археология и др.
Описание слайда:
Рентгенофлуоресцентные спектрометры применяются в различных областях науки и техники: Рентгенофлуоресцентные спектрометры применяются в различных областях науки и техники: экология и охрана окружающей среды, геология и минералогия, металлургия и химическая индустрия, лакокрасочная промышленность, ювелирная промышленность, нефтяная промышленность, пищевая промышленность, сельское хозяйство, археология и др.

Слайд 3





Область решаемых задач: 

Количественный элементный анализ (от Na до U) в жидких, твердых, сыпучих пробах органических и неорганических веществ.

Химический анализ минерального сырья, продуктов обогащения и переработки руд. Примеси в воде.
Химический анализ нефти и нефтепродуктов на содержание серы, фосфора, хлора и хлоридов, а также тяжелых металлов.
Элементный химический анализ масел и присадок.
Определение состава катализаторов и катализаторных шламов.
Определение состава продуктов коррозии.
Металлы в маслах, полимерах и почвах.
Состав сплавов
Описание слайда:
Область решаемых задач: Количественный элементный анализ (от Na до U) в жидких, твердых, сыпучих пробах органических и неорганических веществ. Химический анализ минерального сырья, продуктов обогащения и переработки руд. Примеси в воде. Химический анализ нефти и нефтепродуктов на содержание серы, фосфора, хлора и хлоридов, а также тяжелых металлов. Элементный химический анализ масел и присадок. Определение состава катализаторов и катализаторных шламов. Определение состава продуктов коррозии. Металлы в маслах, полимерах и почвах. Состав сплавов

Слайд 4





Теоретические основы
Метод РФСА основан на сборе и последующем анализе спектра, полученного путём воздействия на образец высокоэнергетическим рентгеновским излучением.
 В рентгенофлуоресцентном анализе используется излучение с длинами волн от 0,04 до 1,8 нм.
Часть излучения проходит через образец,
    часть рассеивается, и часть поглощается веществом образца. 
Поглощение рентгеновского излучения веществом приводит к проявлению сразу нескольких эффектов, одним из которых является рентгеновская флуоресценция – испускание веществом вторичного рентгеновского излучения.
Описание слайда:
Теоретические основы Метод РФСА основан на сборе и последующем анализе спектра, полученного путём воздействия на образец высокоэнергетическим рентгеновским излучением. В рентгенофлуоресцентном анализе используется излучение с длинами волн от 0,04 до 1,8 нм. Часть излучения проходит через образец, часть рассеивается, и часть поглощается веществом образца. Поглощение рентгеновского излучения веществом приводит к проявлению сразу нескольких эффектов, одним из которых является рентгеновская флуоресценция – испускание веществом вторичного рентгеновского излучения.

Слайд 5





При рентгеновской флуоресценции атомы каждого химического элемента излучают фотоны со строго определенной энергией, которая фактически не зависит от строения вещества. 
При рентгеновской флуоресценции атомы каждого химического элемента излучают фотоны со строго определенной энергией, которая фактически не зависит от строения вещества. 
Рентгеновскую флуоресценцию можно рассмотреть как процесс, происходящий в три стадии:
- рентгеновский фотон с высокой энергией «выбивает» из атома электрон с одной из его внутренних электронных оболочек;
- возникает нестабильное высокоэнергетическое состояние атома с электронной вакансией;
- вакансию занимает электрон с одной из внешних электронных оболочек;      избыточная энергия выделяется в виде кванта рентгеновской флуоресценции.
Описание слайда:
При рентгеновской флуоресценции атомы каждого химического элемента излучают фотоны со строго определенной энергией, которая фактически не зависит от строения вещества. При рентгеновской флуоресценции атомы каждого химического элемента излучают фотоны со строго определенной энергией, которая фактически не зависит от строения вещества. Рентгеновскую флуоресценцию можно рассмотреть как процесс, происходящий в три стадии: - рентгеновский фотон с высокой энергией «выбивает» из атома электрон с одной из его внутренних электронных оболочек; - возникает нестабильное высокоэнергетическое состояние атома с электронной вакансией; - вакансию занимает электрон с одной из внешних электронных оболочек; избыточная энергия выделяется в виде кванта рентгеновской флуоресценции.

Слайд 6


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №6
Описание слайда:

Слайд 7


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №7
Описание слайда:

Слайд 8






Определение химических элементов с помощью рентгенофлуоресцентного анализа возможно, так как

 энергия (ν, кэВ) или длина волны (λ, нм) рентгеновского кванта для каждого элемента, из которого он был эмитирован, имеет строго определенное значение. 
Это излучение называется характеристическим рентгеновским излучением.
Описание слайда:
Определение химических элементов с помощью рентгенофлуоресцентного анализа возможно, так как энергия (ν, кэВ) или длина волны (λ, нм) рентгеновского кванта для каждого элемента, из которого он был эмитирован, имеет строго определенное значение. Это излучение называется характеристическим рентгеновским излучением.

Слайд 9


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №9
Описание слайда:

Слайд 10


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №10
Описание слайда:

Слайд 11


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №11
Описание слайда:

Слайд 12





Принципиальная схема прибора
Описание слайда:
Принципиальная схема прибора

Слайд 13





Принципиальная схема рентгеноспектральной установки
Описание слайда:
Принципиальная схема рентгеноспектральной установки

Слайд 14





Сцинтилляционный счетчик с фотоумножителем
Описание слайда:
Сцинтилляционный счетчик с фотоумножителем

Слайд 15





Полупроводниковый энергодисперсионный детектор
Полупроводниковый энергодисперсионный детектор
Поперечное сечение чипа  кремниевого дрейфового детектора SDD
"дрейф" в данном контексте относится к подвижности носителей заряда. Внутри чипа создаётся воронкообразный потенциал электрического поля, и эмиссионные фотоэлектроны по "воронке" дрейфуют к аноду.
Низкая емкость чипа обуславливает очень короткое время формирования импульса, позволяющее детектору работать c высокой скоростью счета (до 750 000 имп/с).
Описание слайда:
Полупроводниковый энергодисперсионный детектор Полупроводниковый энергодисперсионный детектор Поперечное сечение чипа кремниевого дрейфового детектора SDD "дрейф" в данном контексте относится к подвижности носителей заряда. Внутри чипа создаётся воронкообразный потенциал электрического поля, и эмиссионные фотоэлектроны по "воронке" дрейфуют к аноду. Низкая емкость чипа обуславливает очень короткое время формирования импульса, позволяющее детектору работать c высокой скоростью счета (до 750 000 имп/с).

Слайд 16


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №16
Описание слайда:

Слайд 17


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №17
Описание слайда:

Слайд 18


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №18
Описание слайда:

Слайд 19






Рентгено-флуоресцентный спектрометр Quant`X - спектрометр высокого разрешения, позволяющий анализировать все элементы от Na до U на уровне концентраций от ppm до процентов. 
Погрешность количественного анализа, как правило, не превышает 1%.
Описание слайда:
Рентгено-флуоресцентный спектрометр Quant`X - спектрометр высокого разрешения, позволяющий анализировать все элементы от Na до U на уровне концентраций от ppm до процентов. Погрешность количественного анализа, как правило, не превышает 1%.

Слайд 20





Технические характеристики 
Источник возбуждения - рентгеновская трубка. Программируемый  блок с автоматически устанавливаемыми фильтрами. Оптимальные параметры возбуждения выбираются автоматически.  
	Это безопасно с точки зрения защиты от радиации (рентгеновская трубка может быть выключена, а радионуклид нет).
Камера для образца - позволяет анализировать образцы самой различной формы и размеров - от менее чем 1 мм до десятков см в автоматическом и ручном режиме. 
	Создание гелиевой атмосферы или вакуума позволяет анализировать лёгкие элементы.
Описание слайда:
Технические характеристики Источник возбуждения - рентгеновская трубка. Программируемый блок с автоматически устанавливаемыми фильтрами. Оптимальные параметры возбуждения выбираются автоматически. Это безопасно с точки зрения защиты от радиации (рентгеновская трубка может быть выключена, а радионуклид нет). Камера для образца - позволяет анализировать образцы самой различной формы и размеров - от менее чем 1 мм до десятков см в автоматическом и ручном режиме. Создание гелиевой атмосферы или вакуума позволяет анализировать лёгкие элементы.

Слайд 21





Автоматическая цифровая обработка спектров обеспечивает вычитание фоновой составляющей спектра, учёт спектральных наложений и получение чистых интенсивностей спектральных пиков.
Автоматическая цифровая обработка спектров обеспечивает вычитание фоновой составляющей спектра, учёт спектральных наложений и получение чистых интенсивностей спектральных пиков.
Методы количественного анализа - выбираются в зависимости от матрицы анализируемого образца и имеющихся стандартов.
Описание слайда:
Автоматическая цифровая обработка спектров обеспечивает вычитание фоновой составляющей спектра, учёт спектральных наложений и получение чистых интенсивностей спектральных пиков. Автоматическая цифровая обработка спектров обеспечивает вычитание фоновой составляющей спектра, учёт спектральных наложений и получение чистых интенсивностей спектральных пиков. Методы количественного анализа - выбираются в зависимости от матрицы анализируемого образца и имеющихся стандартов.

Слайд 22





Чувствительность, разрешение и селективность - обеспечиваются использованием фильтруемого рентгеновского излучения и твердотельного детектора. 
Чувствительность, разрешение и селективность - обеспечиваются использованием фильтруемого рентгеновского излучения и твердотельного детектора. 
Техника микрообъёмов (MXA) - используется при анализе водных образцов. Позволяет снизить пределы обнаружения элементов в пробах воды.
Описание слайда:
Чувствительность, разрешение и селективность - обеспечиваются использованием фильтруемого рентгеновского излучения и твердотельного детектора. Чувствительность, разрешение и селективность - обеспечиваются использованием фильтруемого рентгеновского излучения и твердотельного детектора. Техника микрообъёмов (MXA) - используется при анализе водных образцов. Позволяет снизить пределы обнаружения элементов в пробах воды.

Слайд 23






Методы флуоресцентного рентгеноспектрального анализа нашли применение на обогатительных фабриках цветной металлургии (для экспрессного анализа продуктов флотации, определения меди в шлаках), в чёрной металлургии (для анализа руды, кокса, сплавов, сталей разных марок), на цементных заводах (для анализа сырьевых смесей) , при анализе нефтепродуктов и т. д.
Методами РФСА определяют состав и толщины тонких плёнок, для чего разработано несколько  итерационных методов (ИТЕРАЦИЯ – автоматическое ритмическое повторение одного и того же действия, при этом используется результат предыдущей аналогичной операции).
Описание слайда:
Методы флуоресцентного рентгеноспектрального анализа нашли применение на обогатительных фабриках цветной металлургии (для экспрессного анализа продуктов флотации, определения меди в шлаках), в чёрной металлургии (для анализа руды, кокса, сплавов, сталей разных марок), на цементных заводах (для анализа сырьевых смесей) , при анализе нефтепродуктов и т. д. Методами РФСА определяют состав и толщины тонких плёнок, для чего разработано несколько итерационных методов (ИТЕРАЦИЯ – автоматическое ритмическое повторение одного и того же действия, при этом используется результат предыдущей аналогичной операции).

Слайд 24






Разработаны также методы РФСА  с возбуждением спектра радиоактивным излучением (рентгено-радиометрический анализ); соответствующая аппаратура малогабаритна, её вес невелик. 
Эти методы используют в полевых условиях, с их помощью осуществляют каротаж скважин.
Описание слайда:
Разработаны также методы РФСА с возбуждением спектра радиоактивным излучением (рентгено-радиометрический анализ); соответствующая аппаратура малогабаритна, её вес невелик. Эти методы используют в полевых условиях, с их помощью осуществляют каротаж скважин.

Слайд 25





Определение валового состава по флуоресцентному излучению образцов (кратко) 
	
РФСА производят по одной из наиболее интенсивных линий в спектре анализируемого элемента (т. н. аналитических линии). 
Зависимость интенсивности  аналитической  линии от содержания  элемента  в пробе (аналитический, или градуировочный,  график) может быть построена по стандартным образцам известного состава.  

Метод неразрушающий  (удобно при анализе твёрдых тел) и высокопроизводительный (весь процесс анализа занимает 5-10 мин);
Описание слайда:
Определение валового состава по флуоресцентному излучению образцов (кратко) РФСА производят по одной из наиболее интенсивных линий в спектре анализируемого элемента (т. н. аналитических линии). Зависимость интенсивности аналитической линии от содержания элемента в пробе (аналитический, или градуировочный, график) может быть построена по стандартным образцам известного состава. Метод неразрушающий (удобно при анализе твёрдых тел) и высокопроизводительный (весь процесс анализа занимает 5-10 мин);

Слайд 26





I Один из наиболее распространённых методов РФСА- метод внутреннего стандарта состоит в том, что в пробу добавляют известное количество элемента В, соседнего (по периодической системе элементов) с анализируемым элементом А. 
I Один из наиболее распространённых методов РФСА- метод внутреннего стандарта состоит в том, что в пробу добавляют известное количество элемента В, соседнего (по периодической системе элементов) с анализируемым элементом А. 
Интенсивность аналитической линий элементов А и В, расположенных в спектре близко один от другого, с изменением состава матрицы изменяется почти одинаково. 
Для градуировочного графика строят зависимость отношений интенсивностей линий А и В от отношения их концентраций. В анализируемой пробе так же находят отношение интенсивностей А и В.
Описание слайда:
I Один из наиболее распространённых методов РФСА- метод внутреннего стандарта состоит в том, что в пробу добавляют известное количество элемента В, соседнего (по периодической системе элементов) с анализируемым элементом А. I Один из наиболее распространённых методов РФСА- метод внутреннего стандарта состоит в том, что в пробу добавляют известное количество элемента В, соседнего (по периодической системе элементов) с анализируемым элементом А. Интенсивность аналитической линий элементов А и В, расположенных в спектре близко один от другого, с изменением состава матрицы изменяется почти одинаково. Для градуировочного графика строят зависимость отношений интенсивностей линий А и В от отношения их концентраций. В анализируемой пробе так же находят отношение интенсивностей А и В.

Слайд 27





II Mетод, основанный на 
II Mетод, основанный на 
введении в пробу нескольких  различных добавок анализируемого элемента СА,
 построении графика зависимости интенсивности IА  от СА  
 и экстраполяции его до абсциссы, т. е. до значения IА = 0, для отсчитывания значения (СА)о . 
Искомое значение концентрации А равно (СА)о.
Описание слайда:
II Mетод, основанный на II Mетод, основанный на введении в пробу нескольких различных добавок анализируемого элемента СА, построении графика зависимости интенсивности IА от СА и экстраполяции его до абсциссы, т. е. до значения IА = 0, для отсчитывания значения (СА)о . Искомое значение концентрации А равно (СА)о.

Слайд 28


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №28
Описание слайда:

Слайд 29







Метод разбавления пробы нейтральной средой заключается в том, что элементом, мало влияющим на интенсивность аналитической линии, разбавляют пробу в 5-10 раз, тем самым снижая влияние мешающих элементов; его применяют в том случае, когда содержание определяемого элемента достаточно велико.
Описание слайда:
Метод разбавления пробы нейтральной средой заключается в том, что элементом, мало влияющим на интенсивность аналитической линии, разбавляют пробу в 5-10 раз, тем самым снижая влияние мешающих элементов; его применяют в том случае, когда содержание определяемого элемента достаточно велико.

Слайд 30





III Метод фундаментальных параметров:
используется при отсутствии необходимого количества стандартных образцов. 
Программа использует данные, записанные в память прибора для одного или группы стандартов, включая чистые элементы или их смеси.
Применяется точная  зависимость интенсивности аналитической линии элемента от основных физических параметров пробы. 
Эти данные  ранее найдены  для смешанного характеристического и тормозного первичного излучения рентгеновской трубки.
Описание слайда:
III Метод фундаментальных параметров: используется при отсутствии необходимого количества стандартных образцов. Программа использует данные, записанные в память прибора для одного или группы стандартов, включая чистые элементы или их смеси. Применяется точная зависимость интенсивности аналитической линии элемента от основных физических параметров пробы. Эти данные ранее найдены для смешанного характеристического и тормозного первичного излучения рентгеновской трубки.

Слайд 31





IV Метод внешнего стандарта:
IV Метод внешнего стандарта:
Неизвестную концентрацию элемента СА определяют путем сравнения интенсивности IА с аналогичными величинами стандартных образцов - Iст, для которых известны значения концентрации Сст определяемого элемента. 
Метод позволяет учесть поправки, связанные с аппаратурой, однако для точного учета влияния матрицы стандартный образец должен быть близок по составу к анализируемому. 
В других случаях применяют метод теоретических поправок , который предполагает аддитивность поправок, вносимых каждым элементом матрицы в интенсивность аналитической линии.
Описание слайда:
IV Метод внешнего стандарта: IV Метод внешнего стандарта: Неизвестную концентрацию элемента СА определяют путем сравнения интенсивности IА с аналогичными величинами стандартных образцов - Iст, для которых известны значения концентрации Сст определяемого элемента. Метод позволяет учесть поправки, связанные с аппаратурой, однако для точного учета влияния матрицы стандартный образец должен быть близок по составу к анализируемому. В других случаях применяют метод теоретических поправок , который предполагает аддитивность поправок, вносимых каждым элементом матрицы в интенсивность аналитической линии.

Слайд 32





прямой способ внешнего стандарта
Описание слайда:
прямой способ внешнего стандарта

Слайд 33


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №33
Описание слайда:

Слайд 34





Пояснение к рисунку:
Исследуемая проба состоит из анализируемого элемента и матрицы - всей остальной части пробы. Вид аналитического графика зависит от способности матрицы и анализируемого элемента поглощать излучение : если они одинаковы, график представляет собой прямую (рис. 1), если матрица поглощает больше (меньше), чем анализируемый элемент, то график - кривая, обращённая выпуклостью вниз (вверх). Интенсивность аналитической линии сильно зависит от состава матрицы и гетерогенности пробы (крупности зёрен). Существуют различные методы преодоления этих трудностей, связанные в основном с приготовлением пробы.
Описание слайда:
Пояснение к рисунку: Исследуемая проба состоит из анализируемого элемента и матрицы - всей остальной части пробы. Вид аналитического графика зависит от способности матрицы и анализируемого элемента поглощать излучение : если они одинаковы, график представляет собой прямую (рис. 1), если матрица поглощает больше (меньше), чем анализируемый элемент, то график - кривая, обращённая выпуклостью вниз (вверх). Интенсивность аналитической линии сильно зависит от состава матрицы и гетерогенности пробы (крупности зёрен). Существуют различные методы преодоления этих трудностей, связанные в основном с приготовлением пробы.

Слайд 35





В поточном производстве методом внешнего стандарта часто производят РФСА на все элементы пробы по интенсивностям аналитических линий анализируемого элемента и соответствующих линий стандартных образцов. Один из таких методов – 
В поточном производстве методом внешнего стандарта часто производят РФСА на все элементы пробы по интенсивностям аналитических линий анализируемого элемента и соответствующих линий стандартных образцов. Один из таких методов – 
V метод множественной регрессии; в нём для определения концентрации См элемента М используют полином (расчет производит ЭВМ):
Описание слайда:
В поточном производстве методом внешнего стандарта часто производят РФСА на все элементы пробы по интенсивностям аналитических линий анализируемого элемента и соответствующих линий стандартных образцов. Один из таких методов – В поточном производстве методом внешнего стандарта часто производят РФСА на все элементы пробы по интенсивностям аналитических линий анализируемого элемента и соответствующих линий стандартных образцов. Один из таких методов – V метод множественной регрессии; в нём для определения концентрации См элемента М используют полином (расчет производит ЭВМ):

Слайд 36


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №36
Описание слайда:

Слайд 37


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №37
Описание слайда:

Слайд 38


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №38
Описание слайда:

Слайд 39


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №39
Описание слайда:

Слайд 40


Определение элементного состава вещества методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, слайд №40
Описание слайда:

Слайд 41





Портативный анализатор металлов Bruker S1 Turbo LE
Портативный анализатор металлов Bruker S1 Turbo LE
Описание слайда:
Портативный анализатор металлов Bruker S1 Turbo LE Портативный анализатор металлов Bruker S1 Turbo LE

Слайд 42





Рентгенофлуоресцентный спектрометр Shimadzu XRF 1800, ТГУ, центр коллективного пользования
Рентгенофлуоресцентный спектрометр Shimadzu XRF 1800, ТГУ, центр коллективного пользования
Прибор позволяет анализировать все элементы от бериллия до урана в жидких, твердых и порошкообразных пробах. Уровень измеряемых концентраций от долей ppm до 100%. Объекты исследования - металлы, концентраты, руды, огнеупоры, шлаки, золы, топлива, сточные воды и многие другие.
Описание слайда:
Рентгенофлуоресцентный спектрометр Shimadzu XRF 1800, ТГУ, центр коллективного пользования Рентгенофлуоресцентный спектрометр Shimadzu XRF 1800, ТГУ, центр коллективного пользования Прибор позволяет анализировать все элементы от бериллия до урана в жидких, твердых и порошкообразных пробах. Уровень измеряемых концентраций от долей ppm до 100%. Объекты исследования - металлы, концентраты, руды, огнеупоры, шлаки, золы, топлива, сточные воды и многие другие.



Похожие презентации
Mypresentation.ru
Загрузить презентацию