Сканирующий атомно-силовой микроскоп - презентация, доклад, проект скачать

Нажмите для полного просмотра!

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №1

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №2

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №3

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №4

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №5

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №6

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №7

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №8

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №9

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №10

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №11

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №12

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №13

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №14

Сканирующий атомно-силовой микроскоп, слайд №15

Содержание ▲

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Сканирующий атомно-силовой микроскоп. Доклад-сообщение содержит 15 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1

Описание слайда:

Сканирующий атомно-силовой микроскоп Казанский (Приволжский) федеральный университет Институт физики Кафедра физики твердого тела

Слайд 2

Описание слайда:

Немного истории…

Слайд 3

Описание слайда:

Возможности ССМ Получение изображений поверхности образцов Изучение электронных и магнитных состояний поверхности Изучение атомно-силовых взаимодействий Атомное конструирование Литография

Слайд 4

Описание слайда:

Физические основы метода

Слайд 5

Описание слайда:

Слайд 6

Описание слайда:

Датчики ССМ

Слайд 7

Описание слайда:

Конструкция атомно-силового микроскопа Основными конструктивными составляющими атомно-силового микроскопа являются: •Жёсткий корпус, удерживающий систему •Держатель образца, на котором образец впоследствии закрепляется •Устройства манипуляции •Зонд •Система регистрации отклонения зонда -Оптическая (включает лазер и фотодиод, наиболее распространённая) - Пьезоэлектрическая (использует прямой и обратный пьезоэффект) -Интерферометрическая (состоит из лазера и оптоволокна) -Ёмкостная (измеряется изменение ёмкости между кантилевером и расположенной выше неподвижной пластиной) -Туннельная (исторически первая, регистрирует изменение туннельного тока между проводящим кантилевером и расположенной выше туннельной иглой) •Система обратной связи •Управляющий блок с электроникой

Слайд 8

Описание слайда:

Система регистрации изгиба

Слайд 9

Описание слайда:

Принцип работы

Слайд 10

Описание слайда:

Слайд 11

Описание слайда:

Два приема ССМ

Слайд 12

Описание слайда:

Режимы работы

Слайд 13

Описание слайда:

ССМ

Слайд 14

Описание слайда:

Список литературы Миронов, В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В.Л. Миронов. – Н. Новгород. – 2004. – 114 с. Материалы лекций, методические пособия- Сканирующая зондовая спектроскопия Bhanu. Methods in Cell / Bhanu, P. Jena, J. Heinrich, K. Horber // Biology. – 2002. – Vol 68. Li, Hong-Qiang. “Atomic Force Microscopy”.