🗊Презентация Электротехника и электроника

Категория: Технология
Нажмите для полного просмотра!
Электротехника и электроника, слайд №1Электротехника и электроника, слайд №2Электротехника и электроника, слайд №3Электротехника и электроника, слайд №4Электротехника и электроника, слайд №5Электротехника и электроника, слайд №6Электротехника и электроника, слайд №7Электротехника и электроника, слайд №8Электротехника и электроника, слайд №9Электротехника и электроника, слайд №10Электротехника и электроника, слайд №11Электротехника и электроника, слайд №12Электротехника и электроника, слайд №13Электротехника и электроника, слайд №14Электротехника и электроника, слайд №15Электротехника и электроника, слайд №16Электротехника и электроника, слайд №17Электротехника и электроника, слайд №18

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Электротехника и электроника. Доклад-сообщение содержит 18 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации


Слайд 1





Дисциплина:
Электротехника и электроника

Лектор: Погодин Дмитрий Вадимович
Кандидат технических наук, 
доцент кафедры РИИТ 
(кафедра  Радиоэлектроники и информационно-измерительной техники)
Описание слайда:
Дисциплина: Электротехника и электроника Лектор: Погодин Дмитрий Вадимович Кандидат технических наук, доцент кафедры РИИТ (кафедра Радиоэлектроники и информационно-измерительной техники)

Слайд 2





Рекомендуемая литература
 Электротехника и электроника
Описание слайда:
Рекомендуемая литература Электротехника и электроника

Слайд 3





Дополнительная литература
Методические указания к лабораторным работам:
1. Ознакомление с основными измерительными приборами. Погодин Д.В. 2010.
2. Исследование частотных характеристик простейших цепей. Погодин Д.В., Краев В.В. 2010.
3. Исследование переходных характеристик простейших цепей. Погодин Д.В., Краев В.В. 2010.
4. Исследование характеристик одиночных колебательных контуров. Погодин Д.В., Краев В.В. 2010. 
5. Исследование полупроводниковых диодов. Погодин Д.В. Насырова Р.Г. 2010.
6. Биполярные транзисторы. Погодин Д.В. Насырова Р.Г. 2011.
7. Исследование усилителя с RC-связью. Погодин Д.В. 2011.
8. Линейные устройства на ОУ. Погодин Д.В.. 2011.
9. Компараторы напряжений. Евдокимов Ю. К. 2001. 
Пособия к выполнению курсовой работы:
1. Погодин Д.В., Насырова Р.Г.  Расчет частотных и переходных характеристик электрических цепей. Учебное пособие к курсовой и расчетно-графическим работам. Изд-во Казан. гос. тех. ун-та. Казань. 2005 г.
2. 
Пособия для самоподготовки:
1. Учебное пособие для самоподготовки к тестированию по Электротехнике. Погодин Д.В., 2009
2. Учебное пособие для самоподготовки к тестированию по Электротехнике. Погодин Д.В., 2009
Описание слайда:
Дополнительная литература Методические указания к лабораторным работам: 1. Ознакомление с основными измерительными приборами. Погодин Д.В. 2010. 2. Исследование частотных характеристик простейших цепей. Погодин Д.В., Краев В.В. 2010. 3. Исследование переходных характеристик простейших цепей. Погодин Д.В., Краев В.В. 2010. 4. Исследование характеристик одиночных колебательных контуров. Погодин Д.В., Краев В.В. 2010. 5. Исследование полупроводниковых диодов. Погодин Д.В. Насырова Р.Г. 2010. 6. Биполярные транзисторы. Погодин Д.В. Насырова Р.Г. 2011. 7. Исследование усилителя с RC-связью. Погодин Д.В. 2011. 8. Линейные устройства на ОУ. Погодин Д.В.. 2011. 9. Компараторы напряжений. Евдокимов Ю. К. 2001. Пособия к выполнению курсовой работы: 1. Погодин Д.В., Насырова Р.Г. Расчет частотных и переходных характеристик электрических цепей. Учебное пособие к курсовой и расчетно-графическим работам. Изд-во Казан. гос. тех. ун-та. Казань. 2005 г. 2. Пособия для самоподготовки: 1. Учебное пособие для самоподготовки к тестированию по Электротехнике. Погодин Д.В., 2009 2. Учебное пособие для самоподготовки к тестированию по Электротехнике. Погодин Д.В., 2009

Слайд 4





ПРАВИЛА АТТЕСТАЦИИ СТУДЕНТОВ ПО УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЕ
В СООТВЕТСТВИЕ С МОДУЛЬНО –БАЛЬНО- РЕЙТИНГОВОЙ СИСТЕМОЙ ОЦЕНОК

1.Учебный цикл.
Учебный семестр подразделяется на 2 учебных модуля, каждый из которых заканчивается  аттестацией путем компьютерного тестирования. Продолжительность первого модуля: 1-8 неделя, второго: 9-16  неделя. Учебный цикл заканчивается итоговой аттестацией - экзаменом  путем компьютерного тестирования или по билетам. 
2 Бальная шкала.
В университете действует следующая шкала балльно-рейтинговой оценки для дисциплины:
86 - 100 баллов − «отлично»,    76 – 85  баллов − «хорошо»,     51 – 75 баллов − «удовлетворительно».
3. Распределение баллов на дисциплину по семестру.
Экзамен оценивается в 50 баллов. Студент считается сдавшим экзамен, если он на экзамене получил не менее 25 баллов.
Остальные 50 баллов распределяются между двумя промежуточными контрольными мероприятиями после 8-ой неделе и после 16 неделе. На каждое из них отводится по 25 баллов, из них 17 баллов за тестирование по теоретическому курсу и  8 баллов за своевременное и  успешное выполнение и защиту  лабораторных работ 
На одну лабораторную работу выделяется 2 балла. Из них 1 балл за своевременное выполнение и еще 1 балл за своевременную сдачу теоретической части и оформленного отчета работы. Своевременным выполнением считается выполнение в составе группы по расписанию, своевременной сдачей − сдача до проведения следующей лабораторной работы. Пропуск занятия без уважительных причин отмечается оценкой 0 баллов с отработкой в конце семестра -1 балл. 
Активность студентов на занятиях оценивается с максимальной  оценкой в 10 дополнительных  баллов. 
«Стоимость» в баллах вопросов в билете на экзамене (зачете), устанавливается преподавателем индивидуально. Оценка за каждый вопрос проставляется дифференцированно с учетом дополнительных вопросов по теме вопроса. 
4. Контроль учебной работы студента.
Сроки контрольных мероприятий: промежуточных - 8, 16, неделя и итоговый контроль на экзамене.
Отсутствие студента на промежуточном контроле без уважительной причины оценивается нулевым баллом.
Если контрольное мероприятие пропущено по уважительной причине (например, болезнь, подтвержденная справкой медицинского учреждения), то снижение баллов при дополнительном выполнении контрольного мероприятия не производится. Для таких студентов организуется ликвидация задолжностей в дополнительное время.
Описание слайда:
ПРАВИЛА АТТЕСТАЦИИ СТУДЕНТОВ ПО УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЕ В СООТВЕТСТВИЕ С МОДУЛЬНО –БАЛЬНО- РЕЙТИНГОВОЙ СИСТЕМОЙ ОЦЕНОК 1.Учебный цикл. Учебный семестр подразделяется на 2 учебных модуля, каждый из которых заканчивается аттестацией путем компьютерного тестирования. Продолжительность первого модуля: 1-8 неделя, второго: 9-16 неделя. Учебный цикл заканчивается итоговой аттестацией - экзаменом путем компьютерного тестирования или по билетам. 2 Бальная шкала. В университете действует следующая шкала балльно-рейтинговой оценки для дисциплины: 86 - 100 баллов − «отлично», 76 – 85 баллов − «хорошо», 51 – 75 баллов − «удовлетворительно». 3. Распределение баллов на дисциплину по семестру. Экзамен оценивается в 50 баллов. Студент считается сдавшим экзамен, если он на экзамене получил не менее 25 баллов. Остальные 50 баллов распределяются между двумя промежуточными контрольными мероприятиями после 8-ой неделе и после 16 неделе. На каждое из них отводится по 25 баллов, из них 17 баллов за тестирование по теоретическому курсу и 8 баллов за своевременное и успешное выполнение и защиту лабораторных работ На одну лабораторную работу выделяется 2 балла. Из них 1 балл за своевременное выполнение и еще 1 балл за своевременную сдачу теоретической части и оформленного отчета работы. Своевременным выполнением считается выполнение в составе группы по расписанию, своевременной сдачей − сдача до проведения следующей лабораторной работы. Пропуск занятия без уважительных причин отмечается оценкой 0 баллов с отработкой в конце семестра -1 балл. Активность студентов на занятиях оценивается с максимальной оценкой в 10 дополнительных баллов. «Стоимость» в баллах вопросов в билете на экзамене (зачете), устанавливается преподавателем индивидуально. Оценка за каждый вопрос проставляется дифференцированно с учетом дополнительных вопросов по теме вопроса. 4. Контроль учебной работы студента. Сроки контрольных мероприятий: промежуточных - 8, 16, неделя и итоговый контроль на экзамене. Отсутствие студента на промежуточном контроле без уважительной причины оценивается нулевым баллом. Если контрольное мероприятие пропущено по уважительной причине (например, болезнь, подтвержденная справкой медицинского учреждения), то снижение баллов при дополнительном выполнении контрольного мероприятия не производится. Для таких студентов организуется ликвидация задолжностей в дополнительное время.

Слайд 5





ЭЛЕКТРОТЕХНИКА И ЭЛЕКТРОНИКА
Учебное пособие для студентов заочного и дневного отделения
Описание слайда:
ЭЛЕКТРОТЕХНИКА И ЭЛЕКТРОНИКА Учебное пособие для студентов заочного и дневного отделения

Слайд 6





Оглавление
Описание слайда:
Оглавление

Слайд 7


Электротехника и электроника, слайд №7
Описание слайда:

Слайд 8





1.1.2. Собственные полупроводники
Атомы собственного полупроводника располагаются в пространстве в строго определённом порядке, образуя кристаллическую решётку. Она возникает за счёт обобществления валентных электронов соседними атомами (такая связь называется ковалентной). Плоская модель кристаллической решётки собственного четырехвалентного полупроводника приведена на рис.2.1.
В собственных полупроводниках при Т=00K свободных носителей заряда нет. Все электроны участвуют в образовании ковалентной связи, и полупроводник является диэлектриком. С повышением температуры электроны приобретают дополнительную энергию, и некоторые из них покидают ковалентные связи, становясь свободными. Незаполненная ковалентная связь заполняется одним из валентных электронов соседнего атома. На месте этого электрона образуется новая незаполненная связь, и далее процесс повторяется. Свободная ковалентная связь называется вакансией, её можно рассматривать, как свободный положительный носитель заряда, который называют дыркой. Процесс образования свободного электрона и дырки называется генерацией свободной электронно-дырочной пары. Свободные электроны, двигаясь по объёму полупроводника, теряют часть своей энергии и могут занимать место дырки. Этот процесс взаимного исчезновения электрона и дырки называется рекомбинацией. В результате рекомбинации электрон и дырка перестают существовать. В чистом беспримесном полупроводнике (их называют полупроводниками i – типа) всегда выполняется условие ni = pi причем
где: ni и pi – соответственно концентрация электронов и дырок в полупроводнике;
А - постоянный коэффициент; Т - температура по шкале Кельвина;
Е - ширина запрещённой зоны (это энергия, которую должен приобрести электрон, чтобы разорвать ковалентную связь и стать свободным, она зависит от материала полупроводника). Она составляет 0,803 эВ для Ge, для Si - 1,12эВ, а для GaAs  - 1,43эВ; k – постоянная Больцмана.
Чистые полупроводники при создании полупроводниковых приборов практически не используются, так как их свойства зависят только от температуры и других внешних факторов.
Описание слайда:
1.1.2. Собственные полупроводники Атомы собственного полупроводника располагаются в пространстве в строго определённом порядке, образуя кристаллическую решётку. Она возникает за счёт обобществления валентных электронов соседними атомами (такая связь называется ковалентной). Плоская модель кристаллической решётки собственного четырехвалентного полупроводника приведена на рис.2.1. В собственных полупроводниках при Т=00K свободных носителей заряда нет. Все электроны участвуют в образовании ковалентной связи, и полупроводник является диэлектриком. С повышением температуры электроны приобретают дополнительную энергию, и некоторые из них покидают ковалентные связи, становясь свободными. Незаполненная ковалентная связь заполняется одним из валентных электронов соседнего атома. На месте этого электрона образуется новая незаполненная связь, и далее процесс повторяется. Свободная ковалентная связь называется вакансией, её можно рассматривать, как свободный положительный носитель заряда, который называют дыркой. Процесс образования свободного электрона и дырки называется генерацией свободной электронно-дырочной пары. Свободные электроны, двигаясь по объёму полупроводника, теряют часть своей энергии и могут занимать место дырки. Этот процесс взаимного исчезновения электрона и дырки называется рекомбинацией. В результате рекомбинации электрон и дырка перестают существовать. В чистом беспримесном полупроводнике (их называют полупроводниками i – типа) всегда выполняется условие ni = pi причем где: ni и pi – соответственно концентрация электронов и дырок в полупроводнике; А - постоянный коэффициент; Т - температура по шкале Кельвина; Е - ширина запрещённой зоны (это энергия, которую должен приобрести электрон, чтобы разорвать ковалентную связь и стать свободным, она зависит от материала полупроводника). Она составляет 0,803 эВ для Ge, для Si - 1,12эВ, а для GaAs - 1,43эВ; k – постоянная Больцмана. Чистые полупроводники при создании полупроводниковых приборов практически не используются, так как их свойства зависят только от температуры и других внешних факторов.

Слайд 9





1.1.3.  Примесные полупроводники
Описание слайда:
1.1.3. Примесные полупроводники

Слайд 10





1.1.4. Токи в полупроводнике. Дрейф и диффузия
Описание слайда:
1.1.4. Токи в полупроводнике. Дрейф и диффузия

Слайд 11


Электротехника и электроника, слайд №11
Описание слайда:

Слайд 12





1.2. Электрические переходы
1.2.1. Классификация электрических переходов
Описание слайда:
1.2. Электрические переходы 1.2.1. Классификация электрических переходов

Слайд 13





1.2.2. P-n переход
Описание слайда:
1.2.2. P-n переход

Слайд 14





1.2.3. Образование p-n перехода.
P-n переход в равновесном состоянии
Описание слайда:
1.2.3. Образование p-n перехода. P-n переход в равновесном состоянии

Слайд 15





1.2.4. Р-n переход при внешнем напряжении,
приложенном к нему
Описание слайда:
1.2.4. Р-n переход при внешнем напряжении, приложенном к нему

Слайд 16





1.2.5. ВАХ р-n перехода
Описание слайда:
1.2.5. ВАХ р-n перехода

Слайд 17





1.2.6.  Ёмкость p-n перехода
Описание слайда:
1.2.6. Ёмкость p-n перехода

Слайд 18





1.2.7. Пробой p-n перехода
Описание слайда:
1.2.7. Пробой p-n перехода



Похожие презентации
Mypresentation.ru
Загрузить презентацию