Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты

Нажмите для полного просмотра!

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №2

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №3

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №4

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №5

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №6

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №7

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №8

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №9

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №10

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №11

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №12

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №13

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №14

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №15

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №16

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №17

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №18

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №19

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №20

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №21

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №22

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №23

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №24

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №25

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №26

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №27

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №28

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №29

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №30

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №31

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №32

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №33

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №34

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №35

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №36

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №37

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №38

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №39

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №40

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №41

Содержание ▲

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты. Доклад-сообщение содержит 41 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1

Описание слайда:

Слайд 2

Описание слайда:

Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты Магнитооптические эффекты: продольные и поперечные; линейные и квадратичные по намагниченности

Слайд 3

Описание слайда:

Методы исследования магнитных структур

Слайд 4

Описание слайда:

Этапы любого исследования Этапы любого исследования Получение контраста Интерпретация результатов Характеристики методов исследования: Пространственная разрешающая способность Информационная глубина Время записи

Слайд 5

Описание слайда:

Метод Биттера (порошковых фигур).

Слайд 6

Описание слайда:

Слайд 7

Описание слайда:

Метод Биттера (порошковых фигур).

Слайд 8

Описание слайда:

Метод Биттера (порошковых фигур). Основные характеристики метода Пространственная разрешающая способность: более 100 – 500 нм Информативная глубина: менее 5 мкм Время записи: около 1 с

Слайд 9

Описание слайда:

Магнитооптические методы. Эффект Фарадея. (1845г.)

Слайд 10

Описание слайда:

Магнитооптические методы. Эффекты Керра (1876 г.)

Слайд 11

Описание слайда:

Магнитооптический контраст керровской микроскопии Интерференция и усиление благодаря диэлектрическому покрытию «Цифровой контраст»= «контраст образца» — «репера» (репер – в состоянии насыщения или усредненная картина под влиянием земного поля) Визуализация разных компонент намагниченности благодаря использованию разных плоскостей падения для одного образца.

Слайд 12

Описание слайда:

Слайд 13

Описание слайда:

Магнитооптические методы. Основные характеристики магнитооптических методов: Пространственная разрешающая способность: более 300 нм Информационная глубина: порядка 10 нм Время записи: 1 пс – 1 мкс и менее

Слайд 14

Описание слайда:

Метод темнопольной дифракции.

Слайд 15

Описание слайда:

Метод темнопольной дифракции.

Слайд 16

Описание слайда:

Схема экспериментальной установки для наблюдения ВБЛ в поляризационном световом микроскопе на основе метода темнопольной дифракции.

Слайд 17

Описание слайда:

Начальные положения трех ВБЛ – (а) темные и светлые пятна, отмеченные «+», (b) положение ВБЛ после приложения плоскостного импульсного магнитного поля.

Слайд 18

Описание слайда:

Лазерная сканирующая оптическая микроскопия (микроскопия ближнего поля). Идея микроскопии ближнего поля была предложена в 1928 году Сингхом (E.H. Syngh). В начале 80-х годов группа исследователей из Цюрихской лаборатории фирмы IBM во главе с Дитером Полем (D.W. Pohl) проникла внутрь дифракционного предела и продемонстрировала разрешение λ/20 на приборе, работающем в видимом оптическом диапазоне

Слайд 19

Описание слайда:

Лазерная сканирующая оптическая микроскопия (микроскопия ближнего поля).

Слайд 20

Описание слайда:

Рентгеновская фотоэмиссионная электронная микроскопия (X-PEEM)

Слайд 21

Описание слайда:

Рентгеновская фотоэмиссионная электронная микроскопия. Структура магнитного вихря. (контраст)

Слайд 22

Описание слайда:

Рентгеновская фотоэмисионная электронная микроскопия (X-PEEM) Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность ~ 5 нм Информационная глубина ~ 10 мкм Время записи: 1 минута

Слайд 23

Описание слайда:

Магнитная силовая микроскопия (MFM)

Слайд 24

Описание слайда:

Магнитная силовая микроскопия: контраст

Слайд 25

Описание слайда:

Магнитная силовая микроскопия: контраст

Слайд 26

Описание слайда:

Магнитная силовая микроскопия Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность ~ 10 нм Информационная глубина ~ 5 мкм Время записи: 1 минута

Слайд 27

Описание слайда:

Просвечивающая электронная микроскопия (Transmission electron microscopy TEM) Просвечивающий электронный микроскоп (TEM) – это устройство, в котором изображение от ультратонкого образца (толщиной порядка 0,1 мкм) формируется в результате взаимодействия пучка электронов с веществом образца Первый TEM создан немецкими инженерами-электронщиками Максом Кноллем и Эрнстом Руской в 1931 г. (Нобелевская премия в 1986 г.) Первый практический просвечивающий электронный микроскоп был построен Альбертом Пребусом и Дж. Хиллиером в университете Торонто (Канада) в 1938 г. на основе принципов, открытых ранее Кноллем и Руской.

Слайд 28

Описание слайда:

Просвечивающая электронная микроскопия (Transmission electron microscopy TEM) Типы ТЕМ Лоренцева микроскопия Дифференциальная фазовая микроскопия Электронная голография

Слайд 29

Описание слайда:

Дифференциальная фазовая микроскопия Повышение контраста в электронной микроскопии Дифференциальная фазовая микроскопия – сканирующая просвечивающая микроскопия (D-TEM) Электронная голография – голография на электронных пучках (H-TEM)

Слайд 30

Описание слайда:

Просвечивающая электронная микроскопия Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность: Лоренцева микроскопия более 50 нм Дифференциальная фазовая микроскопия более 10 нм Электронная голография более 5 нм Информационная глубина: порядка 100 нм Время записи: 1с

Слайд 31

Описание слайда:

Микроскопия на вторичных электронах Типы микроскопии на вторичных электронах: Сканирующая электронная микроскопия (SEM) Сканирующая электронная микроскопия с поляризационным анализом (SEMPA)

Слайд 32

Описание слайда:

Сканирующая электронная микроскопия (SEM)

Слайд 33

Описание слайда:

Сканирующая электронная микроскопия с поляризационным анализом (SEMPA) SEMPA (Koike, Hayakawa, 1984) – использование эффекта спиновой поляризации вторичных электронов

Слайд 34

Описание слайда:

Сравнение контраста разных методов изучения магнитной структуры Co

Слайд 35

Описание слайда:

Микроскопия на вторичных электронах Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность: SEM более 500 нм SEMPA более 10 нм Информационная глубина: SEM около 10 мкм SEMPA порядка 1 нм Время записи: 10 с