🗊Презентация Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты

Категория: Физика
Нажмите для полного просмотра!
Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №1Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №2Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №3Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №4Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №5Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №6Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №7Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №8Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №9Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №10Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №11Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №12Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №13Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №14Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №15Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №16Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №17Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №18Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №19Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №20Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №21Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №22Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №23Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №24Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №25Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №26Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №27Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №28Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №29Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №30Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №31Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №32Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №33Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №34Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №35Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №36Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №37Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №38Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №39Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №40Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №41
Скачать

Содержание ▲

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты. Доклад-сообщение содержит 41 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1


Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №1
Описание слайда:

Слайд 2


Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты Магнитооптические эффекты: продольные и поперечные; линейные и квадратичные по намагниченности
Описание слайда:
Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты Магнитооптические эффекты: продольные и поперечные; линейные и квадратичные по намагниченности

Слайд 3


Методы исследования магнитных структур
Описание слайда:
Методы исследования магнитных структур

Слайд 4


Этапы любого исследования Этапы любого исследования Получение контраста Интерпретация результатов Характеристики методов исследования: Пространственная разрешающая способность Информационная глубина Время записи
Описание слайда:
Этапы любого исследования Этапы любого исследования Получение контраста Интерпретация результатов Характеристики методов исследования: Пространственная разрешающая способность Информационная глубина Время записи

Слайд 5


Метод Биттера (порошковых фигур).
Описание слайда:
Метод Биттера (порошковых фигур).

Слайд 6


Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №6
Описание слайда:

Слайд 7


Метод Биттера (порошковых фигур).
Описание слайда:
Метод Биттера (порошковых фигур).

Слайд 8


Метод Биттера (порошковых фигур). Основные характеристики метода Пространственная разрешающая способность: более 100 – 500 нм Информативная глубина: менее 5 мкм Время записи: около 1 с
Описание слайда:
Метод Биттера (порошковых фигур). Основные характеристики метода Пространственная разрешающая способность: более 100 – 500 нм Информативная глубина: менее 5 мкм Время записи: около 1 с

Слайд 9


Магнитооптические методы. Эффект Фарадея. (1845г.)
Описание слайда:
Магнитооптические методы. Эффект Фарадея. (1845г.)

Слайд 10


Магнитооптические методы. Эффекты Керра (1876 г.)
Описание слайда:
Магнитооптические методы. Эффекты Керра (1876 г.)

Слайд 11


Магнитооптический контраст керровской микроскопии Интерференция и усиление благодаря диэлектрическому покрытию «Цифровой контраст»= «контраст образца» — «репера» (репер – в состоянии насыщения или усредненная картина под влиянием земного поля) Визуализация разных компонент намагниченности благодаря использованию разных плоскостей падения для одного образца.
Описание слайда:
Магнитооптический контраст керровской микроскопии Интерференция и усиление благодаря диэлектрическому покрытию «Цифровой контраст»= «контраст образца» — «репера» (репер – в состоянии насыщения или усредненная картина под влиянием земного поля) Визуализация разных компонент намагниченности благодаря использованию разных плоскостей падения для одного образца.

Слайд 12


Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты, слайд №12
Описание слайда:

Слайд 13


Магнитооптические методы. Основные характеристики магнитооптических методов: Пространственная разрешающая способность: более 300 нм Информационная глубина: порядка 10 нм Время записи: 1 пс – 1 мкс и менее
Описание слайда:
Магнитооптические методы. Основные характеристики магнитооптических методов: Пространственная разрешающая способность: более 300 нм Информационная глубина: порядка 10 нм Время записи: 1 пс – 1 мкс и менее

Слайд 14


Метод темнопольной дифракции.
Описание слайда:
Метод темнопольной дифракции.

Слайд 15


Метод темнопольной дифракции.
Описание слайда:
Метод темнопольной дифракции.

Слайд 16


Схема экспериментальной установки для наблюдения ВБЛ в поляризационном световом микроскопе на основе метода темнопольной дифракции.
Описание слайда:
Схема экспериментальной установки для наблюдения ВБЛ в поляризационном световом микроскопе на основе метода темнопольной дифракции.

Слайд 17


Начальные положения трех ВБЛ – (а) темные и светлые пятна, отмеченные «+», (b) положение ВБЛ после приложения плоскостного импульсного магнитного поля.
Описание слайда:
Начальные положения трех ВБЛ – (а) темные и светлые пятна, отмеченные «+», (b) положение ВБЛ после приложения плоскостного импульсного магнитного поля.

Слайд 18


Лазерная сканирующая оптическая микроскопия (микроскопия ближнего поля). Идея микроскопии ближнего поля была предложена в 1928 году Сингхом (E.H. Syngh). В начале 80-х годов группа исследователей из Цюрихской лаборатории фирмы IBM во главе с Дитером Полем (D.W. Pohl) проникла внутрь дифракционного предела и продемонстрировала разрешение λ/20 на приборе, работающем в видимом оптическом диапазоне
Описание слайда:
Лазерная сканирующая оптическая микроскопия (микроскопия ближнего поля). Идея микроскопии ближнего поля была предложена в 1928 году Сингхом (E.H. Syngh). В начале 80-х годов группа исследователей из Цюрихской лаборатории фирмы IBM во главе с Дитером Полем (D.W. Pohl) проникла внутрь дифракционного предела и продемонстрировала разрешение λ/20 на приборе, работающем в видимом оптическом диапазоне

Слайд 19


Лазерная сканирующая оптическая микроскопия (микроскопия ближнего поля).
Описание слайда:
Лазерная сканирующая оптическая микроскопия (микроскопия ближнего поля).

Слайд 20


Рентгеновская фотоэмиссионная электронная микроскопия (X-PEEM)
Описание слайда:
Рентгеновская фотоэмиссионная электронная микроскопия (X-PEEM)

Слайд 21


Рентгеновская фотоэмиссионная электронная микроскопия. Структура магнитного вихря. (контраст)
Описание слайда:
Рентгеновская фотоэмиссионная электронная микроскопия. Структура магнитного вихря. (контраст)

Слайд 22


Рентгеновская фотоэмисионная электронная микроскопия (X-PEEM) Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность ~ 5 нм Информационная глубина ~ 10 мкм Время записи: 1 минута
Описание слайда:
Рентгеновская фотоэмисионная электронная микроскопия (X-PEEM) Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность ~ 5 нм Информационная глубина ~ 10 мкм Время записи: 1 минута

Слайд 23


Магнитная силовая микроскопия (MFM)
Описание слайда:
Магнитная силовая микроскопия (MFM)

Слайд 24


Магнитная силовая микроскопия: контраст
Описание слайда:
Магнитная силовая микроскопия: контраст

Слайд 25


Магнитная силовая микроскопия: контраст
Описание слайда:
Магнитная силовая микроскопия: контраст

Слайд 26


Магнитная силовая микроскопия Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность ~ 10 нм Информационная глубина ~ 5 мкм Время записи: 1 минута
Описание слайда:
Магнитная силовая микроскопия Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность ~ 10 нм Информационная глубина ~ 5 мкм Время записи: 1 минута

Слайд 27


Просвечивающая электронная микроскопия (Transmission electron microscopy TEM) Просвечивающий электронный микроскоп (TEM) – это устройство, в котором изображение от ультратонкого образца (толщиной порядка 0,1 мкм) формируется в результате взаимодействия пучка электронов с веществом образца Первый TEM создан немецкими инженерами-электронщиками Максом Кноллем и Эрнстом Руской в 1931 г. (Нобелевская премия в 1986 г.) Первый практический просвечивающий электронный микроскоп был построен Альбертом Пребусом и Дж. Хиллиером в университете Торонто (Канада) в 1938 г. на основе принципов, открытых ранее Кноллем и Руской.
Описание слайда:
Просвечивающая электронная микроскопия (Transmission electron microscopy TEM) Просвечивающий электронный микроскоп (TEM) – это устройство, в котором изображение от ультратонкого образца (толщиной порядка 0,1 мкм) формируется в результате взаимодействия пучка электронов с веществом образца Первый TEM создан немецкими инженерами-электронщиками Максом Кноллем и Эрнстом Руской в 1931 г. (Нобелевская премия в 1986 г.) Первый практический просвечивающий электронный микроскоп был построен Альбертом Пребусом и Дж. Хиллиером в университете Торонто (Канада) в 1938 г. на основе принципов, открытых ранее Кноллем и Руской.

Слайд 28


Просвечивающая электронная микроскопия (Transmission electron microscopy TEM) Типы ТЕМ Лоренцева микроскопия Дифференциальная фазовая микроскопия Электронная голография
Описание слайда:
Просвечивающая электронная микроскопия (Transmission electron microscopy TEM) Типы ТЕМ Лоренцева микроскопия Дифференциальная фазовая микроскопия Электронная голография

Слайд 29


Дифференциальная фазовая микроскопия Повышение контраста в электронной микроскопии Дифференциальная фазовая микроскопия – сканирующая просвечивающая микроскопия (D-TEM) Электронная голография – голография на электронных пучках (H-TEM)
Описание слайда:
Дифференциальная фазовая микроскопия Повышение контраста в электронной микроскопии Дифференциальная фазовая микроскопия – сканирующая просвечивающая микроскопия (D-TEM) Электронная голография – голография на электронных пучках (H-TEM)

Слайд 30


Просвечивающая электронная микроскопия Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность: Лоренцева микроскопия более 50 нм Дифференциальная фазовая микроскопия более 10 нм Электронная голография более 5 нм Информационная глубина: порядка 100 нм Время записи: 1с
Описание слайда:
Просвечивающая электронная микроскопия Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность: Лоренцева микроскопия более 50 нм Дифференциальная фазовая микроскопия более 10 нм Электронная голография более 5 нм Информационная глубина: порядка 100 нм Время записи: 1с

Слайд 31


Микроскопия на вторичных электронах Типы микроскопии на вторичных электронах: Сканирующая электронная микроскопия (SEM) Сканирующая электронная микроскопия с поляризационным анализом (SEMPA)
Описание слайда:
Микроскопия на вторичных электронах Типы микроскопии на вторичных электронах: Сканирующая электронная микроскопия (SEM) Сканирующая электронная микроскопия с поляризационным анализом (SEMPA)

Слайд 32


Сканирующая электронная микроскопия (SEM)
Описание слайда:
Сканирующая электронная микроскопия (SEM)

Слайд 33


Сканирующая электронная микроскопия с поляризационным анализом (SEMPA) SEMPA (Koike, Hayakawa, 1984) – использование эффекта спиновой поляризации вторичных электронов
Описание слайда:
Сканирующая электронная микроскопия с поляризационным анализом (SEMPA) SEMPA (Koike, Hayakawa, 1984) – использование эффекта спиновой поляризации вторичных электронов

Слайд 34


Сравнение контраста разных методов изучения магнитной структуры Co
Описание слайда:
Сравнение контраста разных методов изучения магнитной структуры Co

Слайд 35


Микроскопия на вторичных электронах Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность: SEM более 500 нм SEMPA более 10 нм Информационная глубина: SEM около 10 мкм SEMPA порядка 1 нм Время записи: 10 с
Описание слайда:
Микроскопия на вторичных электронах Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность: SEM более 500 нм SEMPA более 10 нм Информационная глубина: SEM около 10 мкм SEMPA порядка 1 нм Время записи: 10 с

Слайд 36


Сканирующая туннельная микроскопия (scanning tunneling microscope STM)
Описание слайда:
Сканирующая туннельная микроскопия (scanning tunneling microscope STM)

Слайд 37


Сканирующая туннельная микроскопия со спин-поляризованными электронами (SP-STM)
Описание слайда:
Сканирующая туннельная микроскопия со спин-поляризованными электронами (SP-STM)

Слайд 38


Методы исследования магнитных структур
Описание слайда:
Методы исследования магнитных структур

Слайд 39


Пространственное разрешение различных методов
Описание слайда:
Пространственное разрешение различных методов

Слайд 40


Временное разрешение различных методов
Описание слайда:
Временное разрешение различных методов

Слайд 41


Практикум: сделано-сдано
Описание слайда:
Практикум: сделано-сдано

Скачать

Похожие презентации
Mypresentation.ru
Загрузить презентацию