🗊Презентация Атомно-силовой микроскоп

Категория: Физика
Нажмите для полного просмотра!
Атомно-силовой микроскоп, слайд №1Атомно-силовой микроскоп, слайд №2Атомно-силовой микроскоп, слайд №3Атомно-силовой микроскоп, слайд №4Атомно-силовой микроскоп, слайд №5Атомно-силовой микроскоп, слайд №6Атомно-силовой микроскоп, слайд №7Атомно-силовой микроскоп, слайд №8Атомно-силовой микроскоп, слайд №9Атомно-силовой микроскоп, слайд №10Атомно-силовой микроскоп, слайд №11Атомно-силовой микроскоп, слайд №12
Скачать
Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Атомно-силовой микроскоп. Доклад-сообщение содержит 12 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1


Презентация на тему: «Атомно-силовой микроскоп»
Описание слайда:
Презентация на тему: «Атомно-силовой микроскоп»

Слайд 2


Атомно-силовой микроскоп Атомно-силовая микроскопия — вид зондовой микроскопии, в основе которого лежит силовое взаимодействие атомов (строго говоря обменное взаимодействие атомов зонда и исследуемого образца). Атомно-силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM – atomic-force microscope) - сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного. В отличие от сканирующего туннельного микроскопа, с помощью атомно-силового микроскопа можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности.
Описание слайда:
Атомно-силовой микроскоп Атомно-силовая микроскопия — вид зондовой микроскопии, в основе которого лежит силовое взаимодействие атомов (строго говоря обменное взаимодействие атомов зонда и исследуемого образца). Атомно-силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM – atomic-force microscope) - сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного. В отличие от сканирующего туннельного микроскопа, с помощью атомно-силового микроскопа можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности.

Слайд 3


История изобретения АСМ В 1982 году (момент опубликования в Phys. Rev. Lett.) Генрихом Рорером и Гердом Биннигом был открыт метода сканирующей туннельной микроскопии. В 1986 году Гердом Биннигом, Кельвином Куэйтом и Кристофером Гербером в США, был изобретен первый атомно-силовой микроскоп.
Описание слайда:
История изобретения АСМ В 1982 году (момент опубликования в Phys. Rev. Lett.) Генрихом Рорером и Гердом Биннигом был открыт метода сканирующей туннельной микроскопии. В 1986 году Гердом Биннигом, Кельвином Куэйтом и Кристофером Гербером в США, был изобретен первый атомно-силовой микроскоп.

Слайд 4


Конструкция АСМ
Описание слайда:
Конструкция АСМ

Слайд 5


Основные технические сложности при создании микроскопа: Создание иглы, заострённой действительно до атомных размеров. Обеспечение механической (в том числе тепловой и вибрационной) стабильности на уровне лучше 0,1 ангстрема. Создание детектора, способного надёжно фиксировать столь малые перемещения. Создание системы развёртки с шагом в доли ангстрема. Обеспечение плавного сближения иглы с поверхностью.
Описание слайда:
Основные технические сложности при создании микроскопа: Создание иглы, заострённой действительно до атомных размеров. Обеспечение механической (в том числе тепловой и вибрационной) стабильности на уровне лучше 0,1 ангстрема. Создание детектора, способного надёжно фиксировать столь малые перемещения. Создание системы развёртки с шагом в доли ангстрема. Обеспечение плавного сближения иглы с поверхностью.

Слайд 6


Принцип работы АСМ На расстоянии около одного ангстрема между атомами образца и атомом зонда (кантилевера) возникают силы отталкивания, а на больших расстояниях - силы притяжения. Идея устройства очень проста - кантилевер, перемещаясь относительно поверхности и реагируя на силовое взаимодействие, регистрирует ее рельеф
Описание слайда:
Принцип работы АСМ На расстоянии около одного ангстрема между атомами образца и атомом зонда (кантилевера) возникают силы отталкивания, а на больших расстояниях - силы притяжения. Идея устройства очень проста - кантилевер, перемещаясь относительно поверхности и реагируя на силовое взаимодействие, регистрирует ее рельеф

Слайд 7


Принцип работы АСМ
Описание слайда:
Принцип работы АСМ

Слайд 8


Под силами, действующими между зондом и образцом, в первую очередь подразумевают дальнодействующие силы Ван-дер-Ваальса, которые сначала являются силами притяжения, а при дальнейшем сближении переходят в силы отталкивания. Под силами, действующими между зондом и образцом, в первую очередь подразумевают дальнодействующие силы Ван-дер-Ваальса, которые сначала являются силами притяжения, а при дальнейшем сближении переходят в силы отталкивания.
Описание слайда:
Под силами, действующими между зондом и образцом, в первую очередь подразумевают дальнодействующие силы Ван-дер-Ваальса, которые сначала являются силами притяжения, а при дальнейшем сближении переходят в силы отталкивания. Под силами, действующими между зондом и образцом, в первую очередь подразумевают дальнодействующие силы Ван-дер-Ваальса, которые сначала являются силами притяжения, а при дальнейшем сближении переходят в силы отталкивания.

Слайд 9


Режимы работы В зависимости от расстояний от иглы до образца возможны следующие режимы работы атомно-силового микроскопа: • контактный режим (contact mode); • бесконтактный режим (non-contact mode); • полуконтактный режим (tapping mode).
Описание слайда:
Режимы работы В зависимости от расстояний от иглы до образца возможны следующие режимы работы атомно-силового микроскопа: • контактный режим (contact mode); • бесконтактный режим (non-contact mode); • полуконтактный режим (tapping mode).

Слайд 10


Преимущества и недостатки АСМ Преимущества: Атомно-силовая микроскопия позволяет получить истинно трёхмерный рельеф поверхности; Изучаемая поверхность не требует нанесения проводящего металлического покрытия, которое часто приводит к заметной деформации поверхности. большинство режимов атомно-силовой микроскопии могут быть реализованы на воздухе или даже в жидкости.
Описание слайда:
Преимущества и недостатки АСМ Преимущества: Атомно-силовая микроскопия позволяет получить истинно трёхмерный рельеф поверхности; Изучаемая поверхность не требует нанесения проводящего металлического покрытия, которое часто приводит к заметной деформации поверхности. большинство режимов атомно-силовой микроскопии могут быть реализованы на воздухе или даже в жидкости.

Слайд 11


Обработка полученной информации и восстановление полученных изображений Снятое на сканирующем зондовом микроскопе изображение трудно поддается расшифровке из-за присущих данному методу искажений. Практически всегда результаты первоначального сканирования подвергаются математической обработке.
Описание слайда:
Обработка полученной информации и восстановление полученных изображений Снятое на сканирующем зондовом микроскопе изображение трудно поддается расшифровке из-за присущих данному методу искажений. Практически всегда результаты первоначального сканирования подвергаются математической обработке.

Слайд 12


ПРОИЗВОДИТЕЛИ АСМ В РОССИИ И СНГ В АЛФАВИТНОМ ПОРЯДКЕ ООО «АИСТ-НТ» ООО «Нано Скан Технология» «Микротестмашины», Беларусь ЗАО «Нанотехнология МДТ» ЗАО «Центр перспективных технологий»
Описание слайда:
ПРОИЗВОДИТЕЛИ АСМ В РОССИИ И СНГ В АЛФАВИТНОМ ПОРЯДКЕ ООО «АИСТ-НТ» ООО «Нано Скан Технология» «Микротестмашины», Беларусь ЗАО «Нанотехнология МДТ» ЗАО «Центр перспективных технологий»

Скачать

Похожие презентации
Mypresentation.ru
Загрузить презентацию