🗊Презентация Ближнепольная оптическая спектроскопия

Категория: Физика
Нажмите для полного просмотра!
Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №1Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №2Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №3Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №4Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №5Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №6Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №7Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №8Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №9Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №10Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №11Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №12Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №13Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №14

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Ближнепольная оптическая спектроскопия. Доклад-сообщение содержит 14 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации


Слайд 1





Ближнепольная оптическая спектроскопия
Описание слайда:
Ближнепольная оптическая спектроскопия

Слайд 2





Дифракционный предел
Оптический микроскоп не способен различать объекты, размер которых меньше значения:
R=
 -  длина электромагнитной волны в вакууме
n - показатель преломления среды
θ – апертурный угол
У хороших микроскопов θ близок к 90°, и следовательно, предельное разрешение близко к дифракционному пределу R=λ/2n.
Меньший размер пятна не позволяет получить явление дифракции электромагнитных волн.
Описание слайда:
Дифракционный предел Оптический микроскоп не способен различать объекты, размер которых меньше значения: R= - длина электромагнитной волны в вакууме n - показатель преломления среды θ – апертурный угол У хороших микроскопов θ близок к 90°, и следовательно, предельное разрешение близко к дифракционному пределу R=λ/2n. Меньший размер пятна не позволяет получить явление дифракции электромагнитных волн.

Слайд 3





История развития теории БОМ
1928 - Сингом (E.H. Synge) была предложена теория БОМ.
1972 - Эшем (E.A. Ash) в опытах с микроволнами было получено её первое подтверждение.
1982 - Дитером Полем (лаборатория фирмы IBM, г. Цюрих, Швейцария) был изобретен ближнепольный оптический микроскоп (БОМ) (сразу вслед за изобретением туннельного микроскопа).
Описание слайда:
История развития теории БОМ 1928 - Сингом (E.H. Synge) была предложена теория БОМ. 1972 - Эшем (E.A. Ash) в опытах с микроволнами было получено её первое подтверждение. 1982 - Дитером Полем (лаборатория фирмы IBM, г. Цюрих, Швейцария) был изобретен ближнепольный оптический микроскоп (БОМ) (сразу вслед за изобретением туннельного микроскопа).

Слайд 4





Основные узлы БОМ
Микрообъектив, работающий в отраженном свете;
Микрообъектив, работающий в проходящем свете;
Пьезодвижитель для перемещения зонда с аппертурой D < λ и <250нм;
Зонд;
Лазер;
Сканер с возможностью перемещения стола в системах координат:
Х-У-Z, Х, У;
Описание слайда:
Основные узлы БОМ Микрообъектив, работающий в отраженном свете; Микрообъектив, работающий в проходящем свете; Пьезодвижитель для перемещения зонда с аппертурой D < λ и <250нм; Зонд; Лазер; Сканер с возможностью перемещения стола в системах координат: Х-У-Z, Х, У;

Слайд 5





Теория и Принцип работы БОМ
Описание слайда:
Теория и Принцип работы БОМ

Слайд 6





Схема и описание зонда
Описание слайда:
Схема и описание зонда

Слайд 7





Существует два способа локализации электромагнитного поля: апертурный и безапертурный.
Существует два способа локализации электромагнитного поля: апертурный и безапертурный.
1)    Для освещения объекта и/или детектирования сигнала используется апертура, размер которой может быть существенно меньше длины волны (d << λ). Как правило, для этой цели используются зонды на основе оптического волокна покрытого металлом и апертурой на конце зонда. При этом апертура должна располагаться на расстоянии от поверхности меньшем, чем длина волны (h << λ).
2)    Для локализации излучения используется иголка зонда, поднесенная к освещенной поверхности на расстояние меньше длины волны. В таком режиме острие рассеивает (превращает в дальнее) ближнее поле, локализованное у поверхности образца.
Описание слайда:
Существует два способа локализации электромагнитного поля: апертурный и безапертурный. Существует два способа локализации электромагнитного поля: апертурный и безапертурный. 1) Для освещения объекта и/или детектирования сигнала используется апертура, размер которой может быть существенно меньше длины волны (d << λ). Как правило, для этой цели используются зонды на основе оптического волокна покрытого металлом и апертурой на конце зонда. При этом апертура должна располагаться на расстоянии от поверхности меньшем, чем длина волны (h << λ). 2) Для локализации излучения используется иголка зонда, поднесенная к освещенной поверхности на расстояние меньше длины волны. В таком режиме острие рассеивает (превращает в дальнее) ближнее поле, локализованное у поверхности образца.

Слайд 8





Микроскопия ближнего поля с использованием апертуры
Описание слайда:
Микроскопия ближнего поля с использованием апертуры

Слайд 9





На данном этапе развития техники БОМ конкурируют с электронными микроскопами и имеют свои преимущества и недостатки.
На данном этапе развития техники БОМ конкурируют с электронными микроскопами и имеют свои преимущества и недостатки.
Сравнение БОМ и ЭМ
Описание слайда:
На данном этапе развития техники БОМ конкурируют с электронными микроскопами и имеют свои преимущества и недостатки. На данном этапе развития техники БОМ конкурируют с электронными микроскопами и имеют свои преимущества и недостатки. Сравнение БОМ и ЭМ

Слайд 10





Преимущества БОМ:
Преимущества БОМ:
 1.Световой работает как в воздухе, так и в жидкости и в вакууме, в отличие от ЭМ, работающего только в вакууме.
2.Субстрат может быть живой (клетки) или не живой, в отличие от ЭМ, в котором используется только не живой, так как процесс проводится в вакууме.
3.Изображение – цветное
4.БОМ значительно меньше по размерам, проще и дешевле
Недостатки БОМ:
1.Так как размер электрона намного меньше длины волны света, то разрешающая способность электронного микроскопа на несколько порядков больше чем у светового. Разрешающая способность светового микроскопа ограничена длиной световых волн.
2.Увеличение ЭМ больше, чем у БОМ.
Описание слайда:
Преимущества БОМ: Преимущества БОМ: 1.Световой работает как в воздухе, так и в жидкости и в вакууме, в отличие от ЭМ, работающего только в вакууме. 2.Субстрат может быть живой (клетки) или не живой, в отличие от ЭМ, в котором используется только не живой, так как процесс проводится в вакууме. 3.Изображение – цветное 4.БОМ значительно меньше по размерам, проще и дешевле Недостатки БОМ: 1.Так как размер электрона намного меньше длины волны света, то разрешающая способность электронного микроскопа на несколько порядков больше чем у светового. Разрешающая способность светового микроскопа ограничена длиной световых волн. 2.Увеличение ЭМ больше, чем у БОМ.

Слайд 11





Общий вид БОМ
Описание слайда:
Общий вид БОМ

Слайд 12





Приборы
Описание слайда:
Приборы

Слайд 13


Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №13
Описание слайда:

Слайд 14


Ближнепольная оптическая спектроскопия, слайд №14
Описание слайда:



Похожие презентации
Mypresentation.ru
Загрузить презентацию