ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ

Содержание ▲

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ. Доклад-сообщение содержит 13 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1

Описание слайда:

ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ О СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИКАХ МАТЕРИАЛОВ

Слайд 2

Описание слайда:

Слайд 3

Описание слайда:

Слайд 4

Описание слайда:

Слайд 5

Описание слайда:

Слайд 6

Описание слайда:

Слайд 7

Описание слайда:

МЕТОДЫ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ, В ОСНОВЕ КОТОРЫХ ЛЕЖИТ ЯВЛЕНИЕ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОГЛОЩЕНИЯ I = Ioexp(mt), где m – массовый коэффициент ослабления лучей, равный сумме коэффициентов истинного поглощения (m) и рассеяния (m): m = m + m.

Слайд 8

Описание слайда:

Слайд 9

Описание слайда:

Слайд 10

Описание слайда:

Слайд 11

Описание слайда:

Слайд 12

Описание слайда:

EXAFS (ТСРП) – АНАЛИЗ ТОНКОЙ СТРУКТУРЫ РЕНТГЕНОВСКОГО ПОГЛОЩЕНИЯ EXAFS ( Extended X-ray Absorption Fine Structure ) спектром называют медленные, с небольшой амплитудой осцилляции коэффициенты поглощения, наблюдающиеся при значениях энергии 50 – 1000 эВ, выше порога поглощения.

Слайд 13

Описание слайда:

Спектры элементов, входящих в состав исследуемого вещества не перекрываются, даже если эти элементы являются соседними в периодической системе а) Исходный экспериментальный спектр EXAFS  (k) K-края поглощения железа. б) Расчетная гладкая кривая o(k). в). Нормированная кривая k(k), полученная с применением функции Ханнинга к 10% начальных и конечных экспериментальных данных. г) Фурье-образ (r) кривой k(k)