🗊Презентация Металлографические исследования поверхности материалов

СОВРЕМЕННЫЕ МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛОВ

Общие требования к металлографическим методам определения величины зерна по ГОСТ 21073.0-75 Общие требования к металлографическим методам определения величины зерна по ГОСТ 21073.0-75

Интерфейс электронной таблицы “SIAMS Photolab” Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел SIAMS 700 на базе управляющей программы SIAMS Photolab реализует современные технологии автоматизированного анализа цифровых изображений микроструктуры металлов и сплавов. Комплекс обеспечивает определение количественных характеристик и микроструктур материалов, статистический анализ и отчеты по результатам исследования

Анализ пористости ферритовых материалов

Анализ величины зерна ферритовых материалов Оценка размера зерна металлов, как и любое другое изучение микроструктуры, является важной задачей, поскольку размер зерна — один из параметров микроструктуры металла, а микроструктура, как известно, определяет свойства.

Определение содержания светлой фазы в образцах Ir-Ce Проводится анализ изображений нетравленой поверхности образцов с целью определения доли пористости и размерных характеристик пор. Обработка изображений выполняется за 4 шага: Предобработка; Выделение пор; Фильтрация пор; Измерения. .

Предобработка Предобработка Заключается в преобразовании исходного изображения в полутоновое Параметры: discard colors scale unit low percentile high percentile Выделение пор Параметр: intensity – пороги интенсивности в функции Пороговая сегментация. Изменяя пороги, добейтесь наиболее точного выделения пор на изображении; Дефекты образца (царапины, загрязнения) могут вызывать погрешности построения маски. Если таких погрешностей немного, редактор объектов (см. раздел Описание специализированных редакторов, п. Редактор маски) позволяет устранить их вручную. Если же ручные операции требуют значительного времени, рекомендуется добиться более корректного результата с помощью настройки параметров, перечисленных выше. !Формирование маски на этом шаге еще не закончено. Используйте редактор только для удаления крупных дефектов, которые приводят к искажению результатов анализа. Фильтрация пор Выполняется обработка бинарной маски пор и её гранулометрическая реконструкция. Параметры: filter pattern – шаблон в операциях Закрытие и Открытие, сглаживающих границы пор и удаляющих мелкие дефекты. min pore area – минимальная площадь анализируемых пор (в пикселях). На изображении будут выделены поры, площадь которых превышает данное значение; max inner pore area – максимальная площадь фрагментов поля внутри анализируемых пор (в пикселях), которые будут залиты (включены в маску пор). На изображении будут залиты фрагменты поля внутри маски пор, площадь которых меньше данного значения. При необходимости Вы можете сравнить полученную маску с исходным изображением и откорректировать ее вручную. Для этого откройте окно редактора для них обоих, совместите окна и переключайтесь клавишами Alt+Tab. Документация к редактору содержится в разделе Описание специализированных редакторов, п. Редактор маски. Измерения Параметры: decimal places – количество знаков после запятой; histogram min value – минимальное значение измеряемого параметра на гистограмме; histogram max value – максимальное значение измеряемого параметра на гистограмме; histogram bar count – количество столбцов в гистограмме. Определяются пористость материала и распределения численных и объемных долей пор по размерам. Пористость определяется как отношение общей площади пор на изображении к площади изображения. Определяемые характеристики: Число полей зрения; Проанализированная площадь, кв.мкм; Пористость, %; Число пор; Минимальный размер, мкм; Максимальный размер, мкм; Средний размер, мкм; СКО размеров, мкм; Максимальное межчастичное расстояние, мкм; Минимальное межчастичное расстояние, мкм; Среднее межчастичное расстояние, мкм; Гистограммы дифференциального и интегрального распределения размеров пор по количеству, по площади, по объему* и распределения значений межчастичных расстояний.

Анализ керамики ВК-94 (ПТК-39)