Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия

Нажмите для полного просмотра!

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №2

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №3

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №4

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №5

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №6

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №7

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №8

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №9

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №10

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №11

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №12

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №13

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №14

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №15

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №16

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия, слайд №17

Содержание ▲

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия. Доклад-сообщение содержит 17 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1

Описание слайда:

Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия

Слайд 2

Описание слайда:

План 1. Принципы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) 2. Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) 3. Сканирующая атомно-силовая микроскопия (АСМ) 4. Применение средств СЗМ в изучении наноматериалов и наноструктур, СЗМ-наноинженерия

Слайд 3

Описание слайда:

Литература Scanning probe microscopy and spectroscopy: methods and applications by Roland Wiesendanger Cambridge University Press, 1994 ISBN 0521428475, 9780521428477 • Scanning Probe Microscopy - Analytical Methods by Roland Wiesendanger, Springer, 1998 ISBN 3540638156, 9783540638155 • Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy : Theory, Techniques, and Applications by Dawn Bonnell (Editor), Wiley-VCH, 2000 • Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip by Ernst Meyer ,Hans Josef Hug, Roland Bennewitz, Springer-Verlag, 2003, ISBN: 3540431802 • Основы сканирующий зондовой микроскопии, Миронов В. Л., 2004. Твердый переплет. 144 с. цена : 186,00 руб ( • Г. Бинниг, Г. Рорер, «Сканирующая туннельная микроскопия — от рождения к юности», УФН, 154 (2) (1988) • • • •

Слайд 4

Описание слайда:

Оптический микроскоп Дифракционный предел разрешения: апертура объектива 0.95 на воздухе, 1.5 в масле

Слайд 5

Описание слайда:

Электронный микроскоп

Слайд 6

Описание слайда:

СЭМ: принцип сканирования Принцип сканирования: увеличение M =L/l

Слайд 7

Описание слайда:

Сканирующий туннельный (зондовый) микроскоп

Слайд 8

Описание слайда:

1982 – 1-й СТМ

Слайд 9

Описание слайда:

Что такое «сканирующий зонд»?

Слайд 10

Описание слайда:

Основные элементы СЗМ

Слайд 11

Описание слайда:

Пьезосканер

Слайд 12

Описание слайда:

Подведение зонда к образцу

Слайд 13

Описание слайда:

Алгоритм подведения зонда Подведение зонда к образцу с первоначального расстояния от поверхности 1мм до расстояния 0.1 нм (за 1 минуту) эквивалентно полету к Луне с остановкой на высоте 40м над ее поверхностью (со скоростью 23 миллионов км/час)

Слайд 14

Описание слайда:

Примеры СЗМ и СТМ

Слайд 15

Описание слайда:

Принцип сканирования

Слайд 16

Описание слайда:

Формат данных в СЗМ HDF - Hierarchical Data Format (Иерархический формат данных) разрабатываемый The National Center for Supercomputing Applications ( с 1987г. и довольно широко используемый в настоящее время научным сообществом: Географические информационные системы (ГИС) и дистанционное зондирование Земли