🗊Презентация Разработка прогнозной модели качества приборов на основе экстремума погрешности

Категория: Технология
Нажмите для полного просмотра!
Разработка прогнозной модели качества приборов на основе экстремума погрешности, слайд №1Разработка прогнозной модели качества приборов на основе экстремума погрешности, слайд №2Разработка прогнозной модели качества приборов на основе экстремума погрешности, слайд №3Разработка прогнозной модели качества приборов на основе экстремума погрешности, слайд №4Разработка прогнозной модели качества приборов на основе экстремума погрешности, слайд №5Разработка прогнозной модели качества приборов на основе экстремума погрешности, слайд №6Разработка прогнозной модели качества приборов на основе экстремума погрешности, слайд №7Разработка прогнозной модели качества приборов на основе экстремума погрешности, слайд №8Разработка прогнозной модели качества приборов на основе экстремума погрешности, слайд №9
Скачать
Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Разработка прогнозной модели качества приборов на основе экстремума погрешности. Доклад-сообщение содержит 9 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1


«РАЗРАБОТКА ПРОГНОЗНОЙ МОДЕЛИ КАЧЕСТВА ПРИБОРОВ НА ОСНОВЕ ЭКСТРЕМУМА ПОГРЕШНОСТИ» СТУДЕНТКА ГР.МА15Р ЧАНОВА М.И. РУКОВОДИТЕЛЬ: КАЧАЛОВ О.Б. АРЗАМАС,2016
Описание слайда:
«РАЗРАБОТКА ПРОГНОЗНОЙ МОДЕЛИ КАЧЕСТВА ПРИБОРОВ НА ОСНОВЕ ЭКСТРЕМУМА ПОГРЕШНОСТИ» СТУДЕНТКА ГР.МА15Р ЧАНОВА М.И. РУКОВОДИТЕЛЬ: КАЧАЛОВ О.Б. АРЗАМАС,2016

Слайд 2


ЦЕЛЬ РАБОТЫ: Разработка прогнозной модели на примере параметров качества стабилитронов. ЗАДАЧИ РЕШАЕМЫЕ В РАБОТЕ: 1. Уменьшение погрешности расчета зависимой переменной (у) в нейросетевой модели на основе экстремума погрешности; 2. Прогноз значений напряжения стабилизации при времени t=1000 часов по значениям этого параметра при t=25 ч и t=100 ч
Описание слайда:
ЦЕЛЬ РАБОТЫ: Разработка прогнозной модели на примере параметров качества стабилитронов. ЗАДАЧИ РЕШАЕМЫЕ В РАБОТЕ: 1. Уменьшение погрешности расчета зависимой переменной (у) в нейросетевой модели на основе экстремума погрешности; 2. Прогноз значений напряжения стабилизации при времени t=1000 часов по значениям этого параметра при t=25 ч и t=100 ч

Слайд 3


ОБУЧАЮЩАЯ ВЫБОРКА
Описание слайда:
ОБУЧАЮЩАЯ ВЫБОРКА

Слайд 4


ПРОВЕРОЧНАЯ ВЫБОРКА
Описание слайда:
ПРОВЕРОЧНАЯ ВЫБОРКА

Слайд 5


НЕЙРОСЕТЕВАЯ МОДЕЛЬ: Рассматривалась нейросетевая модель со стандартной функцией программы MATLAB, имеющая следующий вид: net = newrb(P, T, GOAL, SPREAD), где P – матрица входных данных ; T – вектор выходных данных ; GOAL – среднеквадратичная ошибка (в нашей модели принята равной 0,3); SPREAD – параметр влияния радиально-базисной функции (в нашей модели принят равным 2,3).
Описание слайда:
НЕЙРОСЕТЕВАЯ МОДЕЛЬ: Рассматривалась нейросетевая модель со стандартной функцией программы MATLAB, имеющая следующий вид: net = newrb(P, T, GOAL, SPREAD), где P – матрица входных данных ; T – вектор выходных данных ; GOAL – среднеквадратичная ошибка (в нашей модели принята равной 0,3); SPREAD – параметр влияния радиально-базисной функции (в нашей модели принят равным 2,3).

Слайд 6


МЕТОДОЛОГИЯ: Нами было показано, что в любой аппроксимирующей модели можно кратно снизить погрешность за счет: 1. Нахождение интервала погрешности обучающих точек, в котором погрешности проверочных точек сравнительно малы; Эти же методы повышают эффективность распознавания в задачах распознавания образов. В данном примере эффективность распознавания повышена на 8%.
Описание слайда:
МЕТОДОЛОГИЯ: Нами было показано, что в любой аппроксимирующей модели можно кратно снизить погрешность за счет: 1. Нахождение интервала погрешности обучающих точек, в котором погрешности проверочных точек сравнительно малы; Эти же методы повышают эффективность распознавания в задачах распознавания образов. В данном примере эффективность распознавания повышена на 8%.

Слайд 7


Разработка прогнозной модели качества приборов на основе экстремума погрешности, слайд №7
Описание слайда:

Слайд 8


СРАВНЕНИЕ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ И РАСЧЕТНЫХ ДАННЫХ
Описание слайда:
СРАВНЕНИЕ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ И РАСЧЕТНЫХ ДАННЫХ

Слайд 9


ВЫВОД: Предлагаемая модель прогнозирования качества полупроводниковых приборов позволит сократить интервал обучения, может найти широкое применение при анализе качества авиационной аппаратуры при большом интервале прогноза.
Описание слайда:
ВЫВОД: Предлагаемая модель прогнозирования качества полупроводниковых приборов позволит сократить интервал обучения, может найти широкое применение при анализе качества авиационной аппаратуры при большом интервале прогноза.

Скачать

Похожие презентации
Mypresentation.ru
Загрузить презентацию