🗊Презентация Рентгендік құрылымдық талдау

Рентгендік құрылымдық талдау Қабылдаған: Салиходжа Ж. Орындаған: Жақсылық А.

Құрылымдық талдау, құрылымдық анализ — металдар мен материалдардың кристалдық құрылымын рентген сәулелері, электрондар мен нейтрондардың дифракциясы арқылы зерттеу. Осыған қарай Құрылымдық талдау рентгендік құрылымдық талдау, электроногриялық талдау және нейтроногиялық. талдау болып үш түрге бөлінеді.  Құрылымдық талдау, құрылымдық анализ — металдар мен материалдардың кристалдық құрылымын рентген сәулелері, электрондар мен нейтрондардың дифракциясы арқылы зерттеу. Осыған қарай Құрылымдық талдау рентгендік құрылымдық талдау, электроногриялық талдау және нейтроногиялық. талдау болып үш түрге бөлінеді. 

 Рентгендік құрылымдық талдау кристалды заттардың табиғи дифракциялық торына негізделген. Кристалдағы рентген сәулесінің дифракциясын 1912 жылы неміс физиктері М. Лауэ, В. Фридрих, П. Книппинг ашқан, ал теориялық түсінігін Вульф пен Брэгг берген болатын. Әдіс ретінде рентген структуралық анализді Дебай мен Шеррер жасаған.  Рентгендік құрылымдық талдау кристалды заттардың табиғи дифракциялық торына негізделген. Кристалдағы рентген сәулесінің дифракциясын 1912 жылы неміс физиктері М. Лауэ, В. Фридрих, П. Книппинг ашқан, ал теориялық түсінігін Вульф пен Брэгг берген болатын. Әдіс ретінде рентген структуралық анализді Дебай мен Шеррер жасаған.

Кристалға түсірілген рентген сәулелері әр түрлі атомдық жазықтықтардан шағылысып, дифракция құбылысын тудырады. Кристалдағы атомдық жазықтықтардың ара қашықтығының, атомдарының саны мен электрондық құрылымының алуан түрлі болып келуіне сәйкес заттардан шағылатын сәулелер де әр түрлі дифракциялық көрініс (рентгенограмма) береді. Рентгеногриялық талдау кристалдың ішкі құрылымын анықтауға жағдай жасайды. Кристалға түсірілген рентген сәулелері әр түрлі атомдық жазықтықтардан шағылысып, дифракция құбылысын тудырады. Кристалдағы атомдық жазықтықтардың ара қашықтығының, атомдарының саны мен электрондық құрылымының алуан түрлі болып келуіне сәйкес заттардан шағылатын сәулелер де әр түрлі дифракциялық көрініс (рентгенограмма) береді. Рентгеногриялық талдау кристалдың ішкі құрылымын анықтауға жағдай жасайды.

Лауэграмманың симметриясы, ондағы дифракциялық таңбалардың саны мен орналасу ерекшеліктері әр кристалдың ішкі құрылымына тікелей тәуелді болады. Сондықтан әр түрлі заттың лауэграммалары еш уақытта бір-біріне ұқсамайды. Температура мен қысымның және қорытпа құрамының өзгерісі кристалдың атомдық құрылымына да әсер етеді. Осы өзгерістер лауэграммаларда байқалатындықтан, бұл тәсіл Құрылымдық талдаудың негізгі бір тәсілі болып саналады. Кристалды айналдыру не тербелту тәсіліне бір орында тұрақтамайтын қозғалмалы кристалға толқын ұзындығы тұрақты (монохромат) рентген сәулесі түсіріледі. Кристалды сәуле түсірілетін бағытқа перпендикуляр осьтен айналдырып не белгілі бір бұрышқа (0 — 90Ә аралығында) тербелту арқылы оны айналдыра қоршаған фотопленкаға дифракциялық көрініс түсіріліп алынады. Мұндағы дифракциялық таңбалар қабаттық сызықтар деп аталатын қисықтардың бойында орналасады. Қабаттық сызықтардың, ондағы дақтардың орналасу ерекшеліктерін, сондай-ақ дақтардың қарқындылығын зерттей отырып, кристалдардың элементар торының периодын, атомдық жазықтықтардың орналасу қалпын және олардың ара қашықтықтарын әрі кристалл моделін анықтауға болады. Лауэграмманың симметриясы, ондағы дифракциялық таңбалардың саны мен орналасу ерекшеліктері әр кристалдың ішкі құрылымына тікелей тәуелді болады. Сондықтан әр түрлі заттың лауэграммалары еш уақытта бір-біріне ұқсамайды. Температура мен қысымның және қорытпа құрамының өзгерісі кристалдың атомдық құрылымына да әсер етеді. Осы өзгерістер лауэграммаларда байқалатындықтан, бұл тәсіл Құрылымдық талдаудың негізгі бір тәсілі болып саналады. Кристалды айналдыру не тербелту тәсіліне бір орында тұрақтамайтын қозғалмалы кристалға толқын ұзындығы тұрақты (монохромат) рентген сәулесі түсіріледі. Кристалды сәуле түсірілетін бағытқа перпендикуляр осьтен айналдырып не белгілі бір бұрышқа (0 — 90Ә аралығында) тербелту арқылы оны айналдыра қоршаған фотопленкаға дифракциялық көрініс түсіріліп алынады. Мұндағы дифракциялық таңбалар қабаттық сызықтар деп аталатын қисықтардың бойында орналасады. Қабаттық сызықтардың, ондағы дақтардың орналасу ерекшеліктерін, сондай-ақ дақтардың қарқындылығын зерттей отырып, кристалдардың элементар торының периодын, атомдық жазықтықтардың орналасу қалпын және олардың ара қашықтықтарын әрі кристалл моделін анықтауға болады.

 Монохроматты рентген сәулесін өте ұлпа кристалл ұнтақтарына түсіргенде, ол сәуле дифракциялық көрініс (дебаеграмма) тудырады. Фотопленкадағы дифракциялық сызықтардың орналасу ерекшеліктерін зерттеп, кристалдағы атомдық жазықтықтардың ара қашықтығын, элементар тордың периодын және кристалл құрылымын нақтылауға мүмкіндік бар. Бұл әдіс — ұнтақтық Құрылымдық талдау деп аталады. Мұнымен қорытпаның фазалық құрамын, заттағы ішкі кернеулердің таралуын, термиялық және химиялық өңдеу процестері кезіндегі өзгерістерді (мысалы, алтын-мыс жүйелі қорытпада байқалатын атомдардың реттеле орналасуы) анықтауға болады. Рентгендік құрылымдық талдау тәсілдері соңғы кезде сұйықтар мен газдардың ішкі құрылысын зерттеу мақсаттарында да пайдаланылуда. Электрон сәулелерінің дифракциясына негізделген (қ. Де Бройль толқындары) әдіс электроногриялық талдау делінеді. Электрондардың затқа жұтылмай қарқынды шағылысатындығынан, электрондық дифракция құбылысын экранға түсіріп байқауға және лезде электронограмма алуға болады. Рентгенография қалыңд. 10–2 — 10–4 см шамасындағы зат қабаттарын зерттеуде пайдаланылса, электронография қалыңдығы 10–6 —10–7 см заттардың құрылымын зерттеуге мүмкіндік береді.  Монохроматты рентген сәулесін өте ұлпа кристалл ұнтақтарына түсіргенде, ол сәуле дифракциялық көрініс (дебаеграмма) тудырады. Фотопленкадағы дифракциялық сызықтардың орналасу ерекшеліктерін зерттеп, кристалдағы атомдық жазықтықтардың ара қашықтығын, элементар тордың периодын және кристалл құрылымын нақтылауға мүмкіндік бар. Бұл әдіс — ұнтақтық Құрылымдық талдау деп аталады. Мұнымен қорытпаның фазалық құрамын, заттағы ішкі кернеулердің таралуын, термиялық және химиялық өңдеу процестері кезіндегі өзгерістерді (мысалы, алтын-мыс жүйелі қорытпада байқалатын атомдардың реттеле орналасуы) анықтауға болады. Рентгендік құрылымдық талдау тәсілдері соңғы кезде сұйықтар мен газдардың ішкі құрылысын зерттеу мақсаттарында да пайдаланылуда. Электрон сәулелерінің дифракциясына негізделген (қ. Де Бройль толқындары) әдіс электроногриялық талдау делінеді. Электрондардың затқа жұтылмай қарқынды шағылысатындығынан, электрондық дифракция құбылысын экранға түсіріп байқауға және лезде электронограмма алуға болады. Рентгенография қалыңд. 10–2 — 10–4 см шамасындағы зат қабаттарын зерттеуде пайдаланылса, электронография қалыңдығы 10–6 —10–7 см заттардың құрылымын зерттеуге мүмкіндік береді.

1913 жылы У. Л Брэгг пен бірге Г. В. Вульф кристалдағы дифракция сәулелерінің шығуын ұсынды. Олар кез келген дифракциялық сәуледен кристалдық жазықтықтағы бір жүйеден түскен сәуле бейнесін көруге болатынын айтты. Осы жылы Брэгг алғаш рет рентгендік дифракция әдісінің көмегімен қарапайым кристалдағы атомның құрылымын зерттеді. 1913 жылы У. Л Брэгг пен бірге Г. В. Вульф кристалдағы дифракция сәулелерінің шығуын ұсынды. Олар кез келген дифракциялық сәуледен кристалдық жазықтықтағы бір жүйеден түскен сәуле бейнесін көруге болатынын айтты. Осы жылы Брэгг алғаш рет рентгендік дифракция әдісінің көмегімен қарапайым кристалдағы атомның құрылымын зерттеді.

Шарт еш өзгеріссіз толқын ұзындығының шашыраған кристалымен рентген сәулесіндегі интерференциялық максимум жағдайын анықтауға мүмкіндік береді . Шарт еш өзгеріссіз толқын ұзындығының шашыраған кристалымен рентген сәулесіндегі интерференциялық максимум жағдайын анықтауға мүмкіндік береді . Брег-Вульф шартын келесі түрде жазуға болады:

Рентген сәулелерінің жеңіл атомдардан шағылысуы мардымсыз болатындықтан, ол бұларды зерттеуге жарамайды. Электронография кристалдардағы жеңіл атомдардың орналасу қалпын анықтауға мүмкіндік береді. Рентгенограммадағы өте майда фазалардың сызықтары көмескі көрінетіндіктен, оларды жоғары дәлдікпен өлшеу мүмкін емес. Ал электронография заттардың өте ұсақ бөлшектерін, металдар мен қорытпалардың беттік жұқа қабықшаларын, нитридтік фазалардың ішкі құрылымын зерттеуге кеңінен пайдаланылады. Нейтроногриялық талдау нейтрондардың тек ядр. күштермен ғана әсерлесу құбылысына негізделген. Рентген сәулелерінің жеңіл атомдардан шағылысуы мардымсыз болатындықтан, ол бұларды зерттеуге жарамайды. Электронография кристалдардағы жеңіл атомдардың орналасу қалпын анықтауға мүмкіндік береді. Рентгенограммадағы өте майда фазалардың сызықтары көмескі көрінетіндіктен, оларды жоғары дәлдікпен өлшеу мүмкін емес. Ал электронография заттардың өте ұсақ бөлшектерін, металдар мен қорытпалардың беттік жұқа қабықшаларын, нитридтік фазалардың ішкі құрылымын зерттеуге кеңінен пайдаланылады. Нейтроногриялық талдау нейтрондардың тек ядр. күштермен ғана әсерлесу құбылысына негізделген.

 Нейтрондар парамагнитті және ферромагнитті материалдардың магниттік моменті бар атомдарымен ғана әсерлеседі. Кристалдардың магниттік моменттері әр түрлі атомдарымен әсерлескен нейтрондар ағыны заттан өткенде белгілі бір бұрышқа ауытқып дифракциялық көрініс (нейтроно-грамма) тудырады. Бұл әдіс элементтердің периодтық жүйесіндегі өзара көрші орналасқан атомдардың кристалдарының орналасу ерекшеліктерін анықтауға, кристалдағы жеңіл атомдардың орнын анықтауға мүмкіндік береді. Сондықтан нейтроногриялық талдау ферромагнитті, парамагнитті және антиферромагнитті заттардың электрондық құрылымын зерттеуге арналған тікелей тәсіл болып табылады.  Нейтрондар парамагнитті және ферромагнитті материалдардың магниттік моменті бар атомдарымен ғана әсерлеседі. Кристалдардың магниттік моменттері әр түрлі атомдарымен әсерлескен нейтрондар ағыны заттан өткенде белгілі бір бұрышқа ауытқып дифракциялық көрініс (нейтроно-грамма) тудырады. Бұл әдіс элементтердің периодтық жүйесіндегі өзара көрші орналасқан атомдардың кристалдарының орналасу ерекшеліктерін анықтауға, кристалдағы жеңіл атомдардың орнын анықтауға мүмкіндік береді. Сондықтан нейтроногриялық талдау ферромагнитті, парамагнитті және антиферромагнитті заттардың электрондық құрылымын зерттеуге арналған тікелей тәсіл болып табылады.