🗊 Презентация Рентгеновская дифрактометрия

Категория: Физика
Нажмите для полного просмотра!
Рентгеновская дифрактометрия, слайд №1 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №2 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №3 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №4 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №5 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №6 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №7 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №8 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №9 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №10 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №11 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №12 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №13 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №14 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №15 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №16 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №17 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №18 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №19 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №20 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №21 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №22 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №23 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №24 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №25 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №26 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №27 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №28 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №29 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №30 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №31 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №32 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №33 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №34 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №35 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №36 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №37 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №38 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №39 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №40 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №41 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №42 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №43 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №44 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №45 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №46 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №47 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №48 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №49 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №50 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №51 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №52 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №53 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №54 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №55 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №56 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №57 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №58 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №59 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №60 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №61 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №62 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №63 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №64 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №65 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №66 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №67 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №68 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №69 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №70 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №71 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №72 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №73 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №74 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №75 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №76 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №77 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №78 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №79 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №80 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №81 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №82 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №83 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №84 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №85 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №86 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №87 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №88 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №89 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №90 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №91 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №92 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №93 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №94 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №95 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №96 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №97 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №98 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №99 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №100 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №101 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №102 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №103 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №104 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №105 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №106 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №107 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №108 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №109 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №110 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №111 Рентгеновская дифрактометрия, слайд №112
Скачать

Содержание ▲

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Рентгеновская дифрактометрия. Доклад-сообщение содержит 112 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1


Рентгеновская дифрактометрия
Описание слайда:
Рентгеновская дифрактометрия

Слайд 2


Открытие X-ray излучения
Описание слайда:
Открытие X-ray излучения

Слайд 3


Открытие X-ray излучения Позже Макс фон Лауэ предположил, что Рентгеновские лучи являются таким же электромагнитным излучением, как лучи видимого...
Описание слайда:
Открытие X-ray излучения Позже Макс фон Лауэ предположил, что Рентгеновские лучи являются таким же электромагнитным излучением, как лучи видимого света, но с меньшей длиной волны и к ним применимы все законы оптики; Рентгеновские лучи имеют длину волны, близкую к расстоянию между отдельными атомами в кристаллах, т.е. атомы в кристалле создают дифракционную решетку для рентгеновских лучей;

Слайд 4


Открытие X-ray излучения Как и любой волне X-лучам свойственны дифракция и интерференция; Рентгеновские лучи возникают при сильном ускорении...
Описание слайда:
Открытие X-ray излучения Как и любой волне X-лучам свойственны дифракция и интерференция; Рентгеновские лучи возникают при сильном ускорении заряженных частиц либо при высокоэнергетичных переходах в электронных оболочках атомов или молекул; В процессе ускорения-торможения лишь около 1% кинетической энергии электрона идёт на рентгеновское излучение, 99 % энергии превращается в тепло.

Слайд 5


Открытие X-ray излучения Дифракция рентгеновских лучей (ДРЛ) - явление, возникающее при упругом рассеянии рентгеновского излучения в кристаллах,...
Описание слайда:
Открытие X-ray излучения Дифракция рентгеновских лучей (ДРЛ) - явление, возникающее при упругом рассеянии рентгеновского излучения в кристаллах, аморфных телах, жидкостях или газах и состоящее в появлении отклонённых лучей, распространяющихся под определёнными углами к первичному пучку. Дифракционная картина может быть зафиксирована на фотоплёнке; её вид зависит от структуры объекта и метода.

Слайд 6


Открытие X-ray излучения ДРЛ впервые была экспериментально обнаружена на кристаллах физиками М.Лауэ, В.Фридрихом и П.Книппингом в 1912 и явилась...
Описание слайда:
Открытие X-ray излучения ДРЛ впервые была экспериментально обнаружена на кристаллах физиками М.Лауэ, В.Фридрихом и П.Книппингом в 1912 и явилась доказательством волновой природы рентгеновских лучей. Наиболее чётко ДРЛ выражена на кристаллах.

Слайд 7


Основы РДМ Итак, методы рентгеновской дифрактометрии (РДМ) основаны на получении и анализе дифракционной картины X-лучей, возникающей в результате их...
Описание слайда:
Основы РДМ Итак, методы рентгеновской дифрактометрии (РДМ) основаны на получении и анализе дифракционной картины X-лучей, возникающей в результате их интерференции при рассеивании кристаллическим веществом

Слайд 8


Основы РДМ Дифракция (в узком смысле) – огибание волнами препятствий (экранов), размер которых сопоставим с длинной волны. Интерференция —...
Описание слайда:
Основы РДМ Дифракция (в узком смысле) – огибание волнами препятствий (экранов), размер которых сопоставим с длинной волны. Интерференция — перераспределение интенсивности волн в результате наложения (суперпозиции) нескольких когерентных (согласованных по фазе) волн. В современной физике дифракцию рассматривают как частный случай интерференции. Оба явления заключаются в перераспределении волнового потока в результате наложения волн.

Слайд 9


Основы РДМ Разница между дифракцией и интерференцией проявляется в том, что дифракция – есть наложение волн от большого числа источников когерентных...
Описание слайда:
Основы РДМ Разница между дифракцией и интерференцией проявляется в том, что дифракция – есть наложение волн от большого числа источников когерентных волн. При интерференции - всего два источника. Принцип Гюгенса-Френеля: Каждый элемент волнового фронта можно рассматривать как центр вторичного возмущения, порождающего вторичные сферические волны, а результирующее световое поле в каждой точке пространства будет определяться интерференцией этих волн.

Слайд 10


Основы РДМ
Описание слайда:
Основы РДМ

Слайд 11


Основы РДМ. Дифракция и Интерференция
Описание слайда:
Основы РДМ. Дифракция и Интерференция

Слайд 12


Существуют несколько способов получения дифракционной картины: Существуют несколько способов получения дифракционной картины: Полихроматический метод...
Описание слайда:
Существуют несколько способов получения дифракционной картины: Существуют несколько способов получения дифракционной картины: Полихроматический метод (метод Лауэ) – неподвижный кристалл облучается полихроматическим рентгеновским пучком Методы вращения и колебания кристалла, при которых различные кристаллографические плоскости поочередно выводятся в отражающее положение

Слайд 13


Метод Лауэ
Описание слайда:
Метод Лауэ

Слайд 14


Метод Лауэ
Описание слайда:
Метод Лауэ

Слайд 15


Метод вращения кристалла В методе используется монохроматическое рентгеновское излучение. Получаемая при этом на детекторе, пленке или пластине...
Описание слайда:
Метод вращения кристалла В методе используется монохроматическое рентгеновское излучение. Получаемая при этом на детекторе, пленке или пластине дифракционная картина – рентгенограмма вращения. Исследуемый кристалл вращается при помощи специального устройства.

Слайд 16


Метод вращения кристалла 1. Очистка исходного сырья и выращивание монокристаллов (например для выращивания кристаллов белков требуется от нескольких...
Описание слайда:
Метод вращения кристалла 1. Очистка исходного сырья и выращивание монокристаллов (например для выращивания кристаллов белков требуется от нескольких дней до нескольких лет). Размеры - доли миллиметра 2. Анализ дифракции рентгеновских лучей 3. Расчет параметров элементарной ячейки и оценка разрешения (a, b, c, α, β, γ). Например для кубической сингонии a=b=c, углы α=β=γ=90o

Слайд 17


Метод вращения кристалла 4. Анализ изоморфно-замещенных кристаллов (замещение атомами тяжелых металлов) 5. Расчет структурных факторов (полная...
Описание слайда:
Метод вращения кристалла 4. Анализ изоморфно-замещенных кристаллов (замещение атомами тяжелых металлов) 5. Расчет структурных факторов (полная характеристика падающей волны) 6. Расчет распределения электронной плотности в элементарной ячейке кристалла 7. Определение координат атомов (пространственная структура элементарной ячейки и образующих ее белковых молекул)

Слайд 18


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №18
Описание слайда:

Слайд 19


3. Метод порошка (метод Дебая-Шерера), в котором реализуется «статическое» вращение отражающих плоскостей. Порошок представляет из себя набор...
Описание слайда:
3. Метод порошка (метод Дебая-Шерера), в котором реализуется «статическое» вращение отражающих плоскостей. Порошок представляет из себя набор произвольно ориентированных монокристаллов (кристаллитов), размером примерно 10 мкм. Для любого значения брегговского угла (угла падения X-лучей) всегда найдется группа кристаллов правильно ориентированных к нему. Изменение брегговского угла достигается за счет работы гониометра. 3. Метод порошка (метод Дебая-Шерера), в котором реализуется «статическое» вращение отражающих плоскостей. Порошок представляет из себя набор произвольно ориентированных монокристаллов (кристаллитов), размером примерно 10 мкм. Для любого значения брегговского угла (угла падения X-лучей) всегда найдется группа кристаллов правильно ориентированных к нему. Изменение брегговского угла достигается за счет работы гониометра.

Слайд 20


Примеры атомных плоскостей в кубической гранецентрированной решетке
Описание слайда:
Примеры атомных плоскостей в кубической гранецентрированной решетке

Слайд 21


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №21
Описание слайда:

Слайд 22


Основы РДМ. Условие дифракции Дифракция возможная когда длина волны (λ) сравнима с размерами препятствия (d).
Описание слайда:
Основы РДМ. Условие дифракции Дифракция возможная когда длина волны (λ) сравнима с размерами препятствия (d).

Слайд 23


Основы РДМ. Условие max интерференции Если разность хода волн (Δ) равна целому числу, то достигается максимум интерференции.
Описание слайда:
Основы РДМ. Условие max интерференции Если разность хода волн (Δ) равна целому числу, то достигается максимум интерференции.

Слайд 24


Отражение X-лучей от кристаллографических плоскостей
Описание слайда:
Отражение X-лучей от кристаллографических плоскостей

Слайд 25


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №25
Описание слайда:

Слайд 26


Современные методы РДМ позволяют решать задачи изучения фазового состава вещества (РФА), а также определение симметрии и параметров кристаллической...
Описание слайда:
Современные методы РДМ позволяют решать задачи изучения фазового состава вещества (РФА), а также определение симметрии и параметров кристаллической решетки, определением межатомных расстояний (РСА) Современные методы РДМ позволяют решать задачи изучения фазового состава вещества (РФА), а также определение симметрии и параметров кристаллической решетки, определением межатомных расстояний (РСА)

Слайд 27


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №27
Описание слайда:

Слайд 28


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №28
Описание слайда:

Слайд 29


XRD В ЦКП
Описание слайда:
XRD В ЦКП

Слайд 30


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №30
Описание слайда:

Слайд 31


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №31
Описание слайда:

Слайд 32


Схема устройства головной части XRD
Описание слайда:
Схема устройства головной части XRD

Слайд 33


Электромагнитный спектр
Описание слайда:
Электромагнитный спектр

Слайд 34


Электромагнитный спектр
Описание слайда:
Электромагнитный спектр

Слайд 35


Схематическое изображение рентгеновской трубки
Описание слайда:
Схематическое изображение рентгеновской трубки

Слайд 36


Схематическое изображение рентгеновской трубки
Описание слайда:
Схематическое изображение рентгеновской трубки

Слайд 37


Рентгеновская трубка
Описание слайда:
Рентгеновская трубка

Слайд 38


Принцип работы рентгеновской трубки
Описание слайда:
Принцип работы рентгеновской трубки

Слайд 39


Принцип работы рентгеновской трубки
Описание слайда:
Принцип работы рентгеновской трубки

Слайд 40


Принцип работы рентгеновской трубки
Описание слайда:
Принцип работы рентгеновской трубки

Слайд 41


Принцип работы рентгеновской трубки
Описание слайда:
Принцип работы рентгеновской трубки

Слайд 42


Типичные материалы анода рентгеновской трубки 47 Ag (λAg-Kα = 0.056 нм) 42 Mo (λMo-Kα = 0.071 нм) 29 Cu (λCu-Kα = 0.154 нм) 27 Co (λCo-Kα = 0.179 нм)...
Описание слайда:
Типичные материалы анода рентгеновской трубки 47 Ag (λAg-Kα = 0.056 нм) 42 Mo (λMo-Kα = 0.071 нм) 29 Cu (λCu-Kα = 0.154 нм) 27 Co (λCo-Kα = 0.179 нм) 26 Fe (λFe-Kα = 0.194 нм) 24 Cr (λCr-Kα = 0.229 нм)

Слайд 43


Аноды X-ray трубок
Описание слайда:
Аноды X-ray трубок

Слайд 44


Медный анод Наиболее распространено использование анодного зеркала из Cu, т.к. медь обладает хорошей теплопроводностью и высокой температурой...
Описание слайда:
Медный анод Наиболее распространено использование анодного зеркала из Cu, т.к. медь обладает хорошей теплопроводностью и высокой температурой плавления, а длина волны рентгеновского излучения является оптимальной в плане получения разрешения дифракционной картины. Независимо от материала зеркала анода «тело» обычно изготавливают из меди.

Слайд 45


На практике генерация X-квантов незначительна, а преобладает так называемое тормозное излучение, образующееся при потере энергии электронами в ходе...
Описание слайда:
На практике генерация X-квантов незначительна, а преобладает так называемое тормозное излучение, образующееся при потере энергии электронами в ходе торможения в электростатическом поле анода. На практике генерация X-квантов незначительна, а преобладает так называемое тормозное излучение, образующееся при потере энергии электронами в ходе торможения в электростатическом поле анода. Такая энергия переходит в тепловую, что генерирует спектр непрерывного тормозного излучения анода.

Слайд 46


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №46
Описание слайда:

Слайд 47


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №47
Описание слайда:

Слайд 48


Когда энергия бомбардирующих анод электронов становится достаточной для вырывания электронов из внутренних оболочек атома, на фоне тормозного...
Описание слайда:
Когда энергия бомбардирующих анод электронов становится достаточной для вырывания электронов из внутренних оболочек атома, на фоне тормозного излучения появляются резкие линии характеристического излучения Когда энергия бомбардирующих анод электронов становится достаточной для вырывания электронов из внутренних оболочек атома, на фоне тормозного излучения появляются резкие линии характеристического излучения

Слайд 49


Спектр наложения тормозного и характеристического излучений
Описание слайда:
Спектр наложения тормозного и характеристического излучений

Слайд 50


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №50
Описание слайда:

Слайд 51


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №51
Описание слайда:

Слайд 52


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №52
Описание слайда:

Слайд 53


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №53
Описание слайда:

Слайд 54


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №54
Описание слайда:

Слайд 55


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №55
Описание слайда:

Слайд 56


Отражение X-лучей от кристаллографических плоскостей
Описание слайда:
Отражение X-лучей от кристаллографических плоскостей

Слайд 57


Отражение X-лучей от кристаллографических плоскостей
Описание слайда:
Отражение X-лучей от кристаллографических плоскостей

Слайд 58


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №58
Описание слайда:

Слайд 59


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №59
Описание слайда:

Слайд 60


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №60
Описание слайда:

Слайд 61


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №61
Описание слайда:

Слайд 62


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №62
Описание слайда:

Слайд 63


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №63
Описание слайда:

Слайд 64


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №64
Описание слайда:

Слайд 65


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №65
Описание слайда:

Слайд 66


Рентгеновская дифрактометрия, слайд №66
Описание слайда:

Слайд 67


Детекторы для РДМ Ионизационная камера (счетчик Гейгера); Сцинтилляционный детектор; Полупроводниковый детектор.
Описание слайда:
Детекторы для РДМ Ионизационная камера (счетчик Гейгера); Сцинтилляционный детектор; Полупроводниковый детектор.

Слайд 68


Счетчик Гейгера (ионизационная камера)
Описание слайда:
Счетчик Гейгера (ионизационная камера)

Слайд 69


Счетчик Гейгера
Описание слайда:
Счетчик Гейгера

Слайд 70


Сцинтилляционный детектор
Описание слайда:
Сцинтилляционный детектор

Слайд 71


Сцинтилляционный детектор
Описание слайда:
Сцинтилляционный детектор

Слайд 72


Сцинтилляционный детектор
Описание слайда:
Сцинтилляционный детектор

Слайд 73


Полупроводниковый детектор Что такое полупроводники?
Описание слайда:
Полупроводниковый детектор Что такое полупроводники?

Слайд 74


Полупроводниковый детектор
Описание слайда:
Полупроводниковый детектор

Слайд 75


Полупроводниковый детектор
Описание слайда:
Полупроводниковый детектор

Слайд 76


Полупроводниковый детектор
Описание слайда:
Полупроводниковый детектор

Слайд 77


Полупроводниковый детектор
Описание слайда:
Полупроводниковый детектор

Слайд 78


Визуализация
Описание слайда:
Визуализация

Слайд 79


Загрязненный корунд – α-Al2O3
Описание слайда:
Загрязненный корунд – α-Al2O3

Слайд 80


Стандартный образец корунда
Описание слайда:
Стандартный образец корунда

Слайд 81


Ряд закономерностей РДМ
Описание слайда:
Ряд закономерностей РДМ

Слайд 82


Ряд закономерностей РДМ
Описание слайда:
Ряд закономерностей РДМ

Слайд 83


Применение РДМ Качественный и количественный структурный и фазовый анализ; Определение размеров элементов структуры (ОКР, размеров кристаллитов);...
Описание слайда:
Применение РДМ Качественный и количественный структурный и фазовый анализ; Определение размеров элементов структуры (ОКР, размеров кристаллитов); Анализ структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления; Текстурный анализ (ориентация кристаллов в образце); Установление степени совершенства кристаллической структуры, дефектности, определение макро- и микродеформаций; Анализ микроструктуры (микронапряжений).

Слайд 84


Преимущества и возможности порошковой РДМ Неразрушающий метод; Требуется от 0,1 до 2,0 г образца; Возможно определение параметров элементарной ячейки...
Описание слайда:
Преимущества и возможности порошковой РДМ Неразрушающий метод; Требуется от 0,1 до 2,0 г образца; Возможно определение параметров элементарной ячейки кристалла и проведение структурного анализа; Проведение фазового анализа; 5. Полуколичественный и количественный анализ; 6. Относительно простая пробоподготовка

Слайд 85


Недостатки и ограничения порошковой РДМ Анализ преимущественно кристаллических образцов и сплавов; Относительно низкая чувствительность (по фазовому...
Описание слайда:
Недостатки и ограничения порошковой РДМ Анализ преимущественно кристаллических образцов и сплавов; Относительно низкая чувствительность (по фазовому анализу ~ единицы процентов); Длительный анализ (при получении качественных дифрактограмм на широком значении углов с меньшим уровнем шума); В ряде случает не удается отличить фазы друг от друга (например Ag и Al на медном аноде).

Слайд 86


Рентгеноспектральный микроанализ (РСМА)
Описание слайда:
Рентгеноспектральный микроанализ (РСМА)

Слайд 87


Основы метода Метод основан на регистрации вторичного рентгеновского излучения (рентгенофлуоресценции), образующегося в ходе облучения образца...
Описание слайда:
Основы метода Метод основан на регистрации вторичного рентгеновского излучения (рентгенофлуоресценции), образующегося в ходе облучения образца электронным зондом (e-) или пучком первичного рентгеновского излучения (X-rays).

Слайд 88


Основы метода Отличается от РДМ главным образом тем, что регистрируется энергия вторичного рентгеновского излучения, а не когерентно рассеянные...
Описание слайда:
Основы метода Отличается от РДМ главным образом тем, что регистрируется энергия вторичного рентгеновского излучения, а не когерентно рассеянные кристаллами рентгеновские лучи.

Слайд 89


Основы метода «Микро» говорит о том, что воздействию излучения подвергается конкретный узкий участок образца и соответственно мы получаем точечные...
Описание слайда:
Основы метода «Микро» говорит о том, что воздействию излучения подвергается конкретный узкий участок образца и соответственно мы получаем точечные данные, что в свою очередь вносит погрешность и предъявляет высокие требования к получению однородного образца.

Слайд 90


Рентгенофлуоресценция
Описание слайда:
Рентгенофлуоресценция

Слайд 91


Стадии рентгеновской флуоресценции
Описание слайда:
Стадии рентгеновской флуоресценции

Слайд 92


Рентгенофлуоресценция
Описание слайда:
Рентгенофлуоресценция

Слайд 93


Рентгенофлуоресценция
Описание слайда:
Рентгенофлуоресценция

Слайд 94


РСМА
Описание слайда:
РСМА

Слайд 95


Дисперсия Дисперсия - зависимость фазовой скорости излучения в веществе от частоты (или длины волны)
Описание слайда:
Дисперсия Дисперсия - зависимость фазовой скорости излучения в веществе от частоты (или длины волны)

Слайд 96


Энергодисперсионный РСМА (EDX)
Описание слайда:
Энергодисперсионный РСМА (EDX)

Слайд 97


Энергодисперсионный спектр
Описание слайда:
Энергодисперсионный спектр

Слайд 98


Энергодисперсионный спектр Fe2O3 с примесями
Описание слайда:
Энергодисперсионный спектр Fe2O3 с примесями

Слайд 99


Возможности EDX Анализ элементного состава твердого тела Экспрессность Обычно простая пробоподготовка: наклеивание порошка на скотч (большая...
Описание слайда:
Возможности EDX Анализ элементного состава твердого тела Экспрессность Обычно простая пробоподготовка: наклеивание порошка на скотч (большая погрешность по углероду), тромбование порошка на специальном предметном столике, либо без пробоподготовки (некорродированные сплавы) Уточнить

Слайд 100


Ограничения EDX Как и метод XRD применим только для твердых образцов Большая погрешность количественного анализа при неравномерности поверхности...
Описание слайда:
Ограничения EDX Как и метод XRD применим только для твердых образцов Большая погрешность количественного анализа при неравномерности поверхности Относительно низкая чувствительность (0,01 % для тяжелых элементов; 0,2 % и более для легких)

Слайд 101


Ограничения EDX 4. Низкая или близкая к нулю чувствительность для легких элементов (от H до Be). На биогенные элементы (C, H, O, N, S и т.д.) высокая...
Описание слайда:
Ограничения EDX 4. Низкая или близкая к нулю чувствительность для легких элементов (от H до Be). На биогенные элементы (C, H, O, N, S и т.д.) высокая погрешность 5. Большие погрешности количественного анализа при отсутствии калибровочного стандарта Для химиков данный метод полезен возможностью экспрессного получения информации о качественном элементном составе

Слайд 102


Волнодисперсионный РСМА (WDX)
Описание слайда:
Волнодисперсионный РСМА (WDX)

Слайд 103


Волнодисперсионный РСМА (WDX) Диспергирующим элементом является кристалл. Дифракция происходит на его атомных плоскостях. Волнодисперсионный...
Описание слайда:
Волнодисперсионный РСМА (WDX) Диспергирующим элементом является кристалл. Дифракция происходит на его атомных плоскостях. Волнодисперсионный спектрометр простейшего типа содержит плоский кристалл, расположенный на пути пучка рентгеновских лучей, и счётчик фотонов, установленный так, чтобы собирать лучи.

Слайд 104


Волнодисперсионный РСМА (WDX) Поворачивая кристалл и счётчик, и изменяя тем самым угол Брэгга θ (счётчик должен двигаться с вдвое большей угловой...
Описание слайда:
Волнодисперсионный РСМА (WDX) Поворачивая кристалл и счётчик, и изменяя тем самым угол Брэгга θ (счётчик должен двигаться с вдвое большей угловой скоростью, чем кристалл), можно записать спектральное распределение рентгеновской эмиссии.

Слайд 105


Схема волнодисперсионного спектрометра
Описание слайда:
Схема волнодисперсионного спектрометра

Слайд 106


Волнодисперсионный РСМА (WDX) В реальности используется система кристаллов с изогнутой (вовнутрь) плоскостью для увеличения его рабочей площади. При...
Описание слайда:
Волнодисперсионный РСМА (WDX) В реальности используется система кристаллов с изогнутой (вовнутрь) плоскостью для увеличения его рабочей площади. При этом используется система фокусировки по Иогансону

Слайд 107


Фокусировка по Иогансену
Описание слайда:
Фокусировка по Иогансену

Слайд 108


Волнодисперсионный РСМА (WDX) Наиболее часто используются кристаллы PET (пентажритрит), ADP (аммноний дигидрофосфат), KAP (кислый фталат калия), TAP...
Описание слайда:
Волнодисперсионный РСМА (WDX) Наиболее часто используются кристаллы PET (пентажритрит), ADP (аммноний дигидрофосфат), KAP (кислый фталат калия), TAP и RAP (кислые фталаты таллия и рубидия), а также фтористый литий. В качестве детекторов рентгеновского излучения в системах с волновой дисперсией используются газонаполненные счётчики, работающие в режиме ионизационной камеры (аналогично счетчику Гейгера см. РДМ) или детекторы сцинтилляционного типа

Слайд 109


WDX vs EDX
Описание слайда:
WDX vs EDX

Слайд 110


Варианты исполнения Энергодисперсионная или волновая приставки в просвечивающих (трансмиссионных) и сканирующих микроскопах (источник первичного...
Описание слайда:
Варианты исполнения Энергодисперсионная или волновая приставки в просвечивающих (трансмиссионных) и сканирующих микроскопах (источник первичного излучения – электронный зонд) 2. Рентгенофлюоресцентные спектрометры (источник первичного излучения – рентгеновская трубка)

Слайд 111


Особенности работы с химическими образцами при элементном анализе методом РСМА на просвечивающих и сканирующих микроскопах
Описание слайда:
Особенности работы с химическими образцами при элементном анализе методом РСМА на просвечивающих и сканирующих микроскопах

Слайд 112


Особенности работы с химическими образцами при элементном анализе методом РСМА на просвечивающих и сканирующих микроскопах
Описание слайда:
Особенности работы с химическими образцами при элементном анализе методом РСМА на просвечивающих и сканирующих микроскопах

Скачать

Похожие презентации
Mypresentation.ru
Загрузить презентацию