🗊Презентация Электронная микроскопия

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ Тбилиский государственный медицинский университет Выполнили студенты 1 курса Группы №2 Сихарулидзе Михаил и гоГолаури Таисия

Содержание: Виды микроскопии; История развития; Виды электронной микроскопии; Схема электронного микроскопа; Основные типы сигналов, которые генерируются и детектируются в процессе работы РЭМ; Характеристика современного микроскопа; Ограничения и недостатки; Список литературы;

Виды микроскопии:

Световая микроскопия. Фазово-контрастная микроскопия. Электронная микроскопия.  Атомно-силовой микроскоп.

История развития электронного микроскопа. В 1931 году Р. Руденберг получил патент на просвечивающий электроны микроскоп, а в 1932 году М. Кнолль и Э.Руска  построили первый прототип современного прибора. Эта работа Э. Руски в 1986 году была отмечена Нобелевской премией по физике, которую присудили ему и изобретателям . Использование просвечивающего электронного микроскопа для научных исследований было начато в конце 1930-х годов. В конце 1930-х — начале 1940-х годов появились первые растровые электронные микроскопы, формирующие изображение объекта при последовательном перемещении электронного зонда малого сечения по объекту. Массовое применение этих приборов в научных исследованиях началось в 1960-х годах, когда они достигли значительного технического совершенства.

Просвечивающая электронная микроскопия Просвечивающий (трансмиссионный) электронный микроскоп— устройство для получения изображения ультратонкого образца путём пропускания через него пучка электронов. Ультратонким считается образец толщиной порядка 0,1 мкм. Прошедший через образец и провзаимодействовавший с ним пучок электронов увеличивается магнитными линзами (объективом) и регистрируется на флуоресцентном экране, фотоплёнке или сенсорном приборе с зарядовой связью (на ПЗС-матрице).

Просвечивающая растровая (сканирующая) электронная микроскопия (ПРЭМ) Просвечивающий растровый электронный микроскоп (ПРЭМ, РПЭМ, редко СТЭМ - сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп,  - Как и в любой просвечивающей схеме освещения электроны проходят через весьма тонкий образец. Однако в отличие от традиционной ПЭМ в ПРЭМ электронный пучок фокусируется в точку, которой проводят растровое сканирование. Обычно ПРЭМ - это традиционный просвечивающий электронный микроскоп, оснащенный дополнительными сканирующими линзами, детекторами и необходимыми схемами, однако также существуют и специализированные ПРЭМ приборы. Применение корректора аберраций позволяет получить электронный зонд суб-ангстремного диаметра, что заметно увеличивает разрешение.

Растровая (сканирующая) электронная микроскопия Растровый электронный микроскоп— прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нанометра) пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым объектом. Современный РЭМ позволяет работать в широком диапазоне увеличений приблизительно от 3-10 крат (то есть эквивалентно увеличению сильной ручной линзы) до 1 000 000 крат, что приблизительно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов. Сегодня возможности растровой электронной микроскопии используются практически во всех областях науки и промышленности, от биологии до наук о материалах. Существует огромное число выпускаемых рядом фирм разнообразных конструкций и типов РЭМ, оснащенных детекторами различных типов.

Ограничения и недостатки, которые особенно сильно проявляются в субмикронном и нанометровом диапазонах измерений: НЕДОСТАТОЧНО ВЫСОКОЕ ПРОСТРАНСТВЕННОЕ РАЗРЕШЕНИЕ; СЛОЖНОСТЬ ПОЛУЧЕНИЯ ТРЕХМЕРНЫХ ИЗОБРАЖЕНИЙ ПОВЕРХНОСТИ, ОБУСЛОВЛЕННАЯ В ПЕРВУЮ ОЧЕРЕДЬ ТЕМ, ЧТО ВЫСОТА РЕЛЬЕФА В РЭМ ОПРЕДЕЛЯЕТСЯ ПО ЭФФЕКТИВНОСТИ УПРУГОГО И НЕУПРУГОГО РАССЕЯНИЯ ЭЛЕКТРОНОВ И ЗАВИСИТ ОТ ГЛУБИНЫ ПРОНИКНОВЕНИЯ ПЕРВИЧНЫХ ЭЛЕКТРОНОВ В ПОВЕРХНОСТНЫЙ СЛОЙ; НЕОБХОДИМОСТЬ НАНЕСЕНИЯ ДОПОЛНИТЕЛЬНОГО ТОКОСЪЕМНОГО СЛОЯ НА ПЛОХОПРОВОДЯЩИЕ ПОВЕРХНОСТИ ДЛЯ ПРЕДОТВРАЩЕНИЯ ЭФФЕКТОВ, СВЯЗАННЫХ С НАКОПЛЕНИЕМ ЗАРЯДА; ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ ТОЛЬКО В УСЛОВИЯХ ВАКУУМА; ВОЗМОЖНОСТЬ ПОВРЕЖДЕНИЯ ИЗУЧАЕМОЙ ПОВЕРХНОСТИ ВЫСОКОЭНЕРГЕТИЧНЫМ СФОКУСИРОВАННЫМ ПУЧКОМ ЭЛЕКТРОНОВ. 

Список литературы: wikipedia.org/wiki/Растровый_электронный_микроскоп wikipedia.org/wiki/Просвечивающий_растровый_электронный_микроскоп myshared.ru/slide/1330990 wikipedia.org/wiki/Руска,_Эрнст_Август wikipedia.org/wiki/Электронный_микроскоп wikipedia.org/wiki/Сканирующий_атомно-силовой_микроскоп studopedia.org/13-133503.html studfiles.net/preview/5244850/page:8/ studopedia.ru/3_210828_pravila-raboti-s-mikroskopom.html

Спасибо за внимание! Спасибо за внимание!