Электронная микроскопия - презентация, доклад, проект скачать

Нажмите для полного просмотра!

Содержание ▲

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Электронная микроскопия. Доклад-сообщение содержит 18 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1

Описание слайда:

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ Тбилиский государственный медицинский университет Выполнили студенты 1 курса Группы №2 Сихарулидзе Михаил и гоГолаури Таисия

Слайд 2

Описание слайда:

Содержание: Виды микроскопии; История развития; Виды электронной микроскопии; Схема электронного микроскопа; Основные типы сигналов, которые генерируются и детектируются в процессе работы РЭМ; Характеристика современного микроскопа; Ограничения и недостатки; Список литературы;

Слайд 3

Описание слайда:

Виды микроскопии:

Слайд 4

Описание слайда:

Световая микроскопия. Фазово-контрастная микроскопия. Электронная микроскопия. Атомно-силовой микроскоп.

Слайд 5

Описание слайда:

История развития электронного микроскопа. В 1931 году Р. Руденберг получил патент на просвечивающий электроны микроскоп, а в 1932 году М. Кнолль и Э.Руска построили первый прототип современного прибора. Эта работа Э. Руски в 1986 году была отмечена Нобелевской премией по физике, которую присудили ему и изобретателям . Использование просвечивающего электронного микроскопа для научных исследований было начато в конце 1930-х годов. В конце 1930-х — начале 1940-х годов появились первые растровые электронные микроскопы, формирующие изображение объекта при последовательном перемещении электронного зонда малого сечения по объекту. Массовое применение этих приборов в научных исследованиях началось в 1960-х годах, когда они достигли значительного технического совершенства.

Слайд 6

Описание слайда:

Слайд 7

Описание слайда:

Просвечивающая электронная микроскопия Просвечивающий (трансмиссионный) электронный микроскоп— устройство для получения изображения ультратонкого образца путём пропускания через него пучка электронов. Ультратонким считается образец толщиной порядка 0,1 мкм. Прошедший через образец и провзаимодействовавший с ним пучок электронов увеличивается магнитными линзами (объективом) и регистрируется на флуоресцентном экране, фотоплёнке или сенсорном приборе с зарядовой связью (на ПЗС-матрице).

Слайд 8

Описание слайда:

Просвечивающая растровая (сканирующая) электронная микроскопия (ПРЭМ) Просвечивающий растровый электронный микроскоп (ПРЭМ, РПЭМ, редко СТЭМ - сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп, - Как и в любой просвечивающей схеме освещения электроны проходят через весьма тонкий образец. Однако в отличие от традиционной ПЭМ в ПРЭМ электронный пучок фокусируется в точку, которой проводят растровое сканирование. Обычно ПРЭМ - это традиционный просвечивающий электронный микроскоп, оснащенный дополнительными сканирующими линзами, детекторами и необходимыми схемами, однако также существуют и специализированные ПРЭМ приборы. Применение корректора аберраций позволяет получить электронный зонд суб-ангстремного диаметра, что заметно увеличивает разрешение.

Слайд 9

Описание слайда:

Растровая (сканирующая) электронная микроскопия Растровый электронный микроскоп— прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нанометра) пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым объектом. Современный РЭМ позволяет работать в широком диапазоне увеличений приблизительно от 3-10 крат (то есть эквивалентно увеличению сильной ручной линзы) до 1 000 000 крат, что приблизительно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов. Сегодня возможности растровой электронной микроскопии используются практически во всех областях науки и промышленности, от биологии до наук о материалах. Существует огромное число выпускаемых рядом фирм разнообразных конструкций и типов РЭМ, оснащенных детекторами различных типов.

Слайд 10

Описание слайда:

Слайд 11

Описание слайда:

Слайд 12

Описание слайда:

Слайд 13

Описание слайда:

Слайд 14

Описание слайда:

Ограничения и недостатки, которые особенно сильно проявляются в субмикронном и нанометровом диапазонах измерений: НЕДОСТАТОЧНО ВЫСОКОЕ ПРОСТРАНСТВЕННОЕ РАЗРЕШЕНИЕ; СЛОЖНОСТЬ ПОЛУЧЕНИЯ ТРЕХМЕРНЫХ ИЗОБРАЖЕНИЙ ПОВЕРХНОСТИ, ОБУСЛОВЛЕННАЯ В ПЕРВУЮ ОЧЕРЕДЬ ТЕМ, ЧТО ВЫСОТА РЕЛЬЕФА В РЭМ ОПРЕДЕЛЯЕТСЯ ПО ЭФФЕКТИВНОСТИ УПРУГОГО И НЕУПРУГОГО РАССЕЯНИЯ ЭЛЕКТРОНОВ И ЗАВИСИТ ОТ ГЛУБИНЫ ПРОНИКНОВЕНИЯ ПЕРВИЧНЫХ ЭЛЕКТРОНОВ В ПОВЕРХНОСТНЫЙ СЛОЙ; НЕОБХОДИМОСТЬ НАНЕСЕНИЯ ДОПОЛНИТЕЛЬНОГО ТОКОСЪЕМНОГО СЛОЯ НА ПЛОХОПРОВОДЯЩИЕ ПОВЕРХНОСТИ ДЛЯ ПРЕДОТВРАЩЕНИЯ ЭФФЕКТОВ, СВЯЗАННЫХ С НАКОПЛЕНИЕМ ЗАРЯДА; ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ ТОЛЬКО В УСЛОВИЯХ ВАКУУМА; ВОЗМОЖНОСТЬ ПОВРЕЖДЕНИЯ ИЗУЧАЕМОЙ ПОВЕРХНОСТИ ВЫСОКОЭНЕРГЕТИЧНЫМ СФОКУСИРОВАННЫМ ПУЧКОМ ЭЛЕКТРОНОВ.

Слайд 15

Описание слайда:

Слайд 16

Описание слайда:

Слайд 17

Описание слайда:

Список литературы: wikipedia.org/wiki/Растровый_электронный_микроскоп wikipedia.org/wiki/Просвечивающий_растровый_электронный_микроскоп myshared.ru/slide/1330990 wikipedia.org/wiki/Руска,_Эрнст_Август wikipedia.org/wiki/Электронный_микроскоп wikipedia.org/wiki/Сканирующий_атомно-силовой_микроскоп studopedia.org/13-133503.html studfiles.net/preview/5244850/page:8/ studopedia.ru/3_210828_pravila-raboti-s-mikroskopom.html