🗊Презентация Глава 5

Категория: Образование
Нажмите для полного просмотра!
Глава 5, слайд №1Глава 5, слайд №2Глава 5, слайд №3Глава 5, слайд №4Глава 5, слайд №5Глава 5, слайд №6Глава 5, слайд №7Глава 5, слайд №8Глава 5, слайд №9Глава 5, слайд №10Глава 5, слайд №11Глава 5, слайд №12Глава 5, слайд №13Глава 5, слайд №14Глава 5, слайд №15Глава 5, слайд №16Глава 5, слайд №17Глава 5, слайд №18Глава 5, слайд №19Глава 5, слайд №20Глава 5, слайд №21Глава 5, слайд №22Глава 5, слайд №23Глава 5, слайд №24Глава 5, слайд №25Глава 5, слайд №26Глава 5, слайд №27Глава 5, слайд №28Глава 5, слайд №29Глава 5, слайд №30Глава 5, слайд №31Глава 5, слайд №32Глава 5, слайд №33Глава 5, слайд №34Глава 5, слайд №35Глава 5, слайд №36Глава 5, слайд №37Глава 5, слайд №38Глава 5, слайд №39Глава 5, слайд №40Глава 5, слайд №41Глава 5, слайд №42Глава 5, слайд №43Глава 5, слайд №44Глава 5, слайд №45Глава 5, слайд №46Глава 5, слайд №47Глава 5, слайд №48Глава 5, слайд №49Глава 5, слайд №50Глава 5, слайд №51Глава 5, слайд №52Глава 5, слайд №53Глава 5, слайд №54Глава 5, слайд №55Глава 5, слайд №56Глава 5, слайд №57Глава 5, слайд №58Глава 5, слайд №59Глава 5, слайд №60Глава 5, слайд №61Глава 5, слайд №62Глава 5, слайд №63Глава 5, слайд №64Глава 5, слайд №65Глава 5, слайд №66Глава 5, слайд №67Глава 5, слайд №68Глава 5, слайд №69Глава 5, слайд №70Глава 5, слайд №71Глава 5, слайд №72Глава 5, слайд №73Глава 5, слайд №74Глава 5, слайд №75Глава 5, слайд №76Глава 5, слайд №77Глава 5, слайд №78Глава 5, слайд №79Глава 5, слайд №80Глава 5, слайд №81Глава 5, слайд №82Глава 5, слайд №83Глава 5, слайд №84Глава 5, слайд №85Глава 5, слайд №86

Содержание

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Глава 5. Доклад-сообщение содержит 86 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации


Слайд 1





ЦИФРОВАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА

ГЛАВА 5: МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ ЦИТ 
В.Г. Кнорринг
Описание слайда:
ЦИФРОВАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА ГЛАВА 5: МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ ЦИТ В.Г. Кнорринг

Слайд 2





ГЛАВА 5. МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ ЦИТ
Содержание:
Общие соображения 
Статические характеристики микросхем ЦАП и АЦП
Динамические и «смешанные» характеристики микросхем ЦАП и АЦП
Помехоустойчивость средств ЦИТ
Описание слайда:
ГЛАВА 5. МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ ЦИТ Содержание: Общие соображения Статические характеристики микросхем ЦАП и АЦП Динамические и «смешанные» характеристики микросхем ЦАП и АЦП Помехоустойчивость средств ЦИТ

Слайд 3





ОБЩИЕ СООБРАЖЕНИЯ ОТНОСИТЕЛЬНО МЕТРОЛОГИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК СРЕДСТВ ЦИТ
Цифровые измерительные приборы и калибраторы являются средствами измерений, и их метрологические характеристики, вообще говоря, должны нормироваться по ГОСТ 8.009−84 
Интегральные микросхемы АЦП и ЦАП не являются средствами измерений. Называть их технические характеристики метрологическими можно только условно. Вместе с тем, характеристики микросхем, сообщаемые их изготовителями, являются исходными данными для предварительных оценочных расчётов погрешностей проектируемых студентами цифровых приборов и модулей. 
Поэтому именно точностным характеристикам микросхем будет уделено основное внимание. Характеристики приборов будут затрагиваться время от времени, когда в этом будет необходимость
Описание слайда:
ОБЩИЕ СООБРАЖЕНИЯ ОТНОСИТЕЛЬНО МЕТРОЛОГИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК СРЕДСТВ ЦИТ Цифровые измерительные приборы и калибраторы являются средствами измерений, и их метрологические характеристики, вообще говоря, должны нормироваться по ГОСТ 8.009−84 Интегральные микросхемы АЦП и ЦАП не являются средствами измерений. Называть их технические характеристики метрологическими можно только условно. Вместе с тем, характеристики микросхем, сообщаемые их изготовителями, являются исходными данными для предварительных оценочных расчётов погрешностей проектируемых студентами цифровых приборов и модулей. Поэтому именно точностным характеристикам микросхем будет уделено основное внимание. Характеристики приборов будут затрагиваться время от времени, когда в этом будет необходимость

Слайд 4





СТАТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ЦАП И АЦП
Идеальные статические характеристики
			ЦАП				АЦП
Описание слайда:
СТАТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ЦАП И АЦП Идеальные статические характеристики ЦАП АЦП

Слайд 5





ДИАПАЗОН ПРЕОБРАЗОВАНИЯ И КВАНТ
Характеристика n-разрядного двоичного ЦАП имеет в диапазоне преобразования 2n  точек, включая нулевую. Расстояние между точками по оси выходного сигнала назовём квантом q  Последняя точка отстоит на квант от предела FS.
Характеристика n-разрядного двоичного АЦП имеет в диапазоне преобразования 2n  ступеней, включая нулевую. Ширину ступени (по оси входного сигнала) назовём квантом q; скачки между ступенями − кодовыми переходами. Последний кодовый переход отстоит на 1,5q  от предела FS.
В англоязычной литературе для кванта принято обозначение LSB − Least Significant Bit. Этим же термином обозначается младший разряд в кодовой комбинации.
Описание слайда:
ДИАПАЗОН ПРЕОБРАЗОВАНИЯ И КВАНТ Характеристика n-разрядного двоичного ЦАП имеет в диапазоне преобразования 2n точек, включая нулевую. Расстояние между точками по оси выходного сигнала назовём квантом q Последняя точка отстоит на квант от предела FS. Характеристика n-разрядного двоичного АЦП имеет в диапазоне преобразования 2n ступеней, включая нулевую. Ширину ступени (по оси входного сигнала) назовём квантом q; скачки между ступенями − кодовыми переходами. Последний кодовый переход отстоит на 1,5q от предела FS. В англоязычной литературе для кванта принято обозначение LSB − Least Significant Bit. Этим же термином обозначается младший разряд в кодовой комбинации.

Слайд 6





АДДИТИВНАЯ И МУЛЬТИПЛИКАТИВНАЯ ПОГРЕШНОСТИ 
Реальные ЦАП и АЦП имеют аддитивную и мультипликативную погрешности, понимаемые соответственно как параллельный сдвиг и изменение наклона (gain) линейной характеристики преобразования. 
Аддитивная и мультипликативная погрешности микросхемы АЦП могут быть корректированы в аналоговой части  измерительного канала, в микроконтроллере или в самом АЦП.
Описание слайда:
АДДИТИВНАЯ И МУЛЬТИПЛИКАТИВНАЯ ПОГРЕШНОСТИ Реальные ЦАП и АЦП имеют аддитивную и мультипликативную погрешности, понимаемые соответственно как параллельный сдвиг и изменение наклона (gain) линейной характеристики преобразования. Аддитивная и мультипликативная погрешности микросхемы АЦП могут быть корректированы в аналоговой части измерительного канала, в микроконтроллере или в самом АЦП.

Слайд 7





МЕТОДЫ КОРРЕКЦИИ СИСТЕМАТИЧЕСКИХ ПОГРЕШНОСТЕЙ 
Систематические погрешности, вызванные влияющими факторами, могут быть корректированы методом вспомогательных измерений. Для этого в некоторых микросхемах (например, серии ADuC) предусматриваются вспомогательные  (auxiliary) каналы − в основном для измерения температуры. 
Систематические погрешности любого происхождения могут быть корректированы методом образцовых сигналов, он же метод калибровки. 
Если в микросхеме АЦП предусмотрена калибровка, она бывает двух видов: самокалибровка (self calibration) и системная калибровка (system calibration).  Последняя позволяет корректировать погрешности не только АЦП, но и всей предшествующей ему части измерительного канала.
Описание слайда:
МЕТОДЫ КОРРЕКЦИИ СИСТЕМАТИЧЕСКИХ ПОГРЕШНОСТЕЙ Систематические погрешности, вызванные влияющими факторами, могут быть корректированы методом вспомогательных измерений. Для этого в некоторых микросхемах (например, серии ADuC) предусматриваются вспомогательные (auxiliary) каналы − в основном для измерения температуры. Систематические погрешности любого происхождения могут быть корректированы методом образцовых сигналов, он же метод калибровки. Если в микросхеме АЦП предусмотрена калибровка, она бывает двух видов: самокалибровка (self calibration) и системная калибровка (system calibration). Последняя позволяет корректировать погрешности не только АЦП, но и всей предшествующей ему части измерительного канала.

Слайд 8





ПРИМЕР: ТАБЛИЦА РЕЖИМОВ МИКРОСХЕМ АЦП AD7798/AD7799
(НАЧАЛО)
Описание слайда:
ПРИМЕР: ТАБЛИЦА РЕЖИМОВ МИКРОСХЕМ АЦП AD7798/AD7799 (НАЧАЛО)

Слайд 9





ТАБЛИЦА РЕЖИМОВ МИКРОСХЕМ АЦП AD7798/AD7799 (ПРОДОЛЖЕНИЕ)
Описание слайда:
ТАБЛИЦА РЕЖИМОВ МИКРОСХЕМ АЦП AD7798/AD7799 (ПРОДОЛЖЕНИЕ)

Слайд 10





ТАБЛИЦА РЕЖИМОВ МИКРОСХЕМ АЦП AD7798/AD7799 (ОКОНЧАНИЕ)
Описание слайда:
ТАБЛИЦА РЕЖИМОВ МИКРОСХЕМ АЦП AD7798/AD7799 (ОКОНЧАНИЕ)

Слайд 11





ПРЕДЕЛЫ КАЛИБРОВКИ
Калибровка, встроенная в АЦП, не может устранить погрешность произвольно большого размера. Обычно возможности встроенной калибровки как нуля, так и полного диапазона ограничиваются ± 5% диапазона.
Если понадобится обеспечить более широкий диапазон, придётся переносить вычислительные операции в микроконтроллер.
Описание слайда:
ПРЕДЕЛЫ КАЛИБРОВКИ Калибровка, встроенная в АЦП, не может устранить погрешность произвольно большого размера. Обычно возможности встроенной калибровки как нуля, так и полного диапазона ограничиваются ± 5% диапазона. Если понадобится обеспечить более широкий диапазон, придётся переносить вычислительные операции в микроконтроллер.

Слайд 12





НЕЛИНЕЙНОСТЬ
Нелинейность характеристики преобразования ЦАП и АЦП считается более серьёзным недостатком, чем легко поддающиеся коррекции аддитивная и мультипликативная погрешности. 
В аналоговой технике это не так: нелинейность легко учесть градуировкой шкалы. Цифровой же отсчёт этого не допускает.
Другое отличие цифровой техники от аналоговой: нелинейность ЦАП и АЦП характеризуется двумя различными параметрами: интегральной и дифференциальной нелинейностями.
Описание слайда:
НЕЛИНЕЙНОСТЬ Нелинейность характеристики преобразования ЦАП и АЦП считается более серьёзным недостатком, чем легко поддающиеся коррекции аддитивная и мультипликативная погрешности. В аналоговой технике это не так: нелинейность легко учесть градуировкой шкалы. Цифровой же отсчёт этого не допускает. Другое отличие цифровой техники от аналоговой: нелинейность ЦАП и АЦП характеризуется двумя различными параметрами: интегральной и дифференциальной нелинейностями.

Слайд 13





ИНТЕГРАЛЬНАЯ НЕЛИНЕЙНОСТЬ
Интегральная нелинейность (или просто нелинейность) ЦАП − это максимальное по модулю отклонение точек характеристики от некоторой аппроксимирующей прямой. 
Интегральная нелинейность (или просто нелинейность) АЦП − это максимальное по модулю отклонение середин ступеней характеристики (см. слайд 4) от некоторой аппроксимирующей прямой.
Вместо положения середин ступеней возможно использовать положение кодовых переходов.
Нелинейность выражается в процентах полной шкалы, в миллионных долях (ppm) или в LSB.
Описание слайда:
ИНТЕГРАЛЬНАЯ НЕЛИНЕЙНОСТЬ Интегральная нелинейность (или просто нелинейность) ЦАП − это максимальное по модулю отклонение точек характеристики от некоторой аппроксимирующей прямой. Интегральная нелинейность (или просто нелинейность) АЦП − это максимальное по модулю отклонение середин ступеней характеристики (см. слайд 4) от некоторой аппроксимирующей прямой. Вместо положения середин ступеней возможно использовать положение кодовых переходов. Нелинейность выражается в процентах полной шкалы, в миллионных долях (ppm) или в LSB.

Слайд 14





ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНАЯ НЕЛИНЕЙНОСТЬ
Дифференциальная нелинейность ЦАП − это максимальное по модулю отклонение единичного приращения выходного сигнала от приращения, среднего по характеристике. 
Дифференциальная нелинейность АЦП − это максимальное по модулю отклонение ширины ступеней характеристики от ширины, средней по характеристике.
Дифференциальная нелинейность, как правило, выражается в LSB.
Описание слайда:
ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНАЯ НЕЛИНЕЙНОСТЬ Дифференциальная нелинейность ЦАП − это максимальное по модулю отклонение единичного приращения выходного сигнала от приращения, среднего по характеристике. Дифференциальная нелинейность АЦП − это максимальное по модулю отклонение ширины ступеней характеристики от ширины, средней по характеристике. Дифференциальная нелинейность, как правило, выражается в LSB.

Слайд 15





ВОЗМОЖНЫЕ СЛЕДСТВИЯ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОЙ НЕЛИНЕЙНОСТИ
Наличие дифференциальной нелинейности может привести к немонотонности характеристики ЦАП или АЦП.
У АЦП наличие дифференциальной нелинейности может привести к пропускам кодовых комбинаций (missing codes).
Описание слайда:
ВОЗМОЖНЫЕ СЛЕДСТВИЯ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОЙ НЕЛИНЕЙНОСТИ Наличие дифференциальной нелинейности может привести к немонотонности характеристики ЦАП или АЦП. У АЦП наличие дифференциальной нелинейности может привести к пропускам кодовых комбинаций (missing codes).

Слайд 16





ПРИМЕР БОЛЬШОЙ ИНТЕГРАЛЬНОЙ И МАЛОЙ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОЙ НЕЛИНЕЙНОСТИ
Рисунок из книги: Марцинкявичюс
Описание слайда:
ПРИМЕР БОЛЬШОЙ ИНТЕГРАЛЬНОЙ И МАЛОЙ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОЙ НЕЛИНЕЙНОСТИ Рисунок из книги: Марцинкявичюс

Слайд 17





СПОСОБЫ ПРОВЕДЕНИЯ АППРОКСИМИРУЮЩЕЙ ПРЯМОЙ
	Следует предпочесть оценивание нелинейности методом конечных точек (endpoint nonlinearity)
Описание слайда:
СПОСОБЫ ПРОВЕДЕНИЯ АППРОКСИМИРУЮЩЕЙ ПРЯМОЙ Следует предпочесть оценивание нелинейности методом конечных точек (endpoint nonlinearity)

Слайд 18





ПРИМЕР НУЛЕВОЙ ИНТЕГРАЛЬНОЙ И БОЛЬШОЙ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОЙ НЕЛИНЕЙНОСТИ
Рисунок из книги: Марцинкявичюс
Описание слайда:
ПРИМЕР НУЛЕВОЙ ИНТЕГРАЛЬНОЙ И БОЛЬШОЙ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОЙ НЕЛИНЕЙНОСТИ Рисунок из книги: Марцинкявичюс

Слайд 19





РЕАЛЬНАЯ НЕЛИНЕЙНОСТЬ МИКРОСХЕМЫ ЦАП
Описание слайда:
РЕАЛЬНАЯ НЕЛИНЕЙНОСТЬ МИКРОСХЕМЫ ЦАП

Слайд 20





КВАНТОВАНИЕ И ШУМ АЦП
	Если бы характеристика АЦП была идеальной (как на слайде 4), единственной погрешностью была бы погрешность квантования − разность между ступенчатой и линейной функциями.
Описание слайда:
КВАНТОВАНИЕ И ШУМ АЦП Если бы характеристика АЦП была идеальной (как на слайде 4), единственной погрешностью была бы погрешность квантования − разность между ступенчатой и линейной функциями.

Слайд 21





ПОГРЕШНОСТЬ
КВАНТОВАНИЯ 
КАК НЕСЛУЧАЙНАЯ 
(ПИЛООБРАЗНАЯ) 
ФУНКЦИЯ  СЛУЧАЙНОЙ 
ПРЕОБРАЗУЕМОЙ 
ВЕЛИЧИНЫ
Описание слайда:
ПОГРЕШНОСТЬ КВАНТОВАНИЯ КАК НЕСЛУЧАЙНАЯ (ПИЛООБРАЗНАЯ) ФУНКЦИЯ СЛУЧАЙНОЙ ПРЕОБРАЗУЕМОЙ ВЕЛИЧИНЫ

Слайд 22





ПРАКТИЧЕСКАЯ ОЦЕНКА ПОГРЕШНОСТИ КВАНТОВАНИЯ
При идеальной характеристике преобразования погрешность квантования находится в пределах ± q/2. Однако практически возможно смещение идеальной характеристики влево или вправо в пределах ступени квантования. Оно не будет замечено: при подаче нулевого напряжения АЦП покажет нуль.  
В этой ситуации можно считать, что погрешность квантования входит в результат дважды: один раз, систематическим образом, при установке нуля, и второй раз, случайным образом, при преобразовании. 
Тогда практическая оценка погрешности квантования выглядит так: предельные значения ± q; дисперсия q2/12.
Описание слайда:
ПРАКТИЧЕСКАЯ ОЦЕНКА ПОГРЕШНОСТИ КВАНТОВАНИЯ При идеальной характеристике преобразования погрешность квантования находится в пределах ± q/2. Однако практически возможно смещение идеальной характеристики влево или вправо в пределах ступени квантования. Оно не будет замечено: при подаче нулевого напряжения АЦП покажет нуль. В этой ситуации можно считать, что погрешность квантования входит в результат дважды: один раз, систематическим образом, при установке нуля, и второй раз, случайным образом, при преобразовании. Тогда практическая оценка погрешности квантования выглядит так: предельные значения ± q; дисперсия q2/12.

Слайд 23





ПРИВЕДЁННАЯ ПОГРЕШНОСТЬ КВАНТОВАНИЯ
Если измерительный канал рассчитан так, что диапазон АЦП использован полностью, то приведённая погрешность квантования ± q будет прямо связана с разрядностью АЦП:  

			Число двоичных	Приведённая
			разрядов n		погрешность γкв
				  8			0,4%
				10			0,1%
				12			0,025% = 250 ppm
				14			0,006% = 60 ppm
				16			0,0015% = 15 ppm
Если диапазон АЦП выбрать с запасом, приведённая погрешность соответственно  возрастёт!
Описание слайда:
ПРИВЕДЁННАЯ ПОГРЕШНОСТЬ КВАНТОВАНИЯ Если измерительный канал рассчитан так, что диапазон АЦП использован полностью, то приведённая погрешность квантования ± q будет прямо связана с разрядностью АЦП: Число двоичных Приведённая разрядов n погрешность γкв 8 0,4% 10 0,1% 12 0,025% = 250 ppm 14 0,006% = 60 ppm 16 0,0015% = 15 ppm Если диапазон АЦП выбрать с запасом, приведённая погрешность соответственно возрастёт!

Слайд 24





ВЛИЯНИЕ МАЛОГО ШУМА
 	Шум, составляющий малую долю кванта, вызывает разброс результатов преобразования только в небольшой области вблизи кодового перехода. Математическое ожидание результатов выглядит как «размытый» кодовый переход. Этот «размыв» есть интегральная кривая распределения вероятностей шума.
Описание слайда:
ВЛИЯНИЕ МАЛОГО ШУМА Шум, составляющий малую долю кванта, вызывает разброс результатов преобразования только в небольшой области вблизи кодового перехода. Математическое ожидание результатов выглядит как «размытый» кодовый переход. Этот «размыв» есть интегральная кривая распределения вероятностей шума.

Слайд 25





У ХОРОШЕГО АЦП ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНЫХ ПРИБЛИЖЕНИЙ ШУМОВОЙ РАЗБРОС ОТСЧЁТОВ МАЛ ИЛИ ОТСУТСТВУЕТ
Описание слайда:
У ХОРОШЕГО АЦП ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНЫХ ПРИБЛИЖЕНИЙ ШУМОВОЙ РАЗБРОС ОТСЧЁТОВ МАЛ ИЛИ ОТСУТСТВУЕТ

Слайд 26





У АЦП С ΣΔ-МОДУЛЯТОРАМИ 
«ШУМ КВАНТОВАНИЯ» МОДУЛЯТОРА МОЖЕТ ВЫЗВАТЬ РАЗБРОС РЕЗУЛЬТАТОВ НА ДЕСЯТКИ КВАНТОВ 
ПРИМЕР − МИКРОСХЕМА AD7799
Описание слайда:
У АЦП С ΣΔ-МОДУЛЯТОРАМИ «ШУМ КВАНТОВАНИЯ» МОДУЛЯТОРА МОЖЕТ ВЫЗВАТЬ РАЗБРОС РЕЗУЛЬТАТОВ НА ДЕСЯТКИ КВАНТОВ ПРИМЕР − МИКРОСХЕМА AD7799

Слайд 27





ГИСТОГРАММА РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ОТСЧЁТОВ АЦП, СООТВЕТСТВУЮЩАЯ 
ГРАФИКУ ПРЕДЫДУЩЕГО СЛАЙДА
Описание слайда:
ГИСТОГРАММА РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ОТСЧЁТОВ АЦП, СООТВЕТСТВУЮЩАЯ ГРАФИКУ ПРЕДЫДУЩЕГО СЛАЙДА

Слайд 28





ЭФФЕКТИВНАЯ РАЗРЯДНОСТЬ МИКРОСХЕМЫ AD7799
(Повторение таблицы со слайда 94 третьей части главы 4)
Описание слайда:
ЭФФЕКТИВНАЯ РАЗРЯДНОСТЬ МИКРОСХЕМЫ AD7799 (Повторение таблицы со слайда 94 третьей части главы 4)

Слайд 29





	Некоторые другие статические характеристики микросхем ЦАП и АЦП можно увидеть на следующих примерах реальных описаний микросхем
	Некоторые другие статические характеристики микросхем ЦАП и АЦП можно увидеть на следующих примерах реальных описаний микросхем
Описание слайда:
Некоторые другие статические характеристики микросхем ЦАП и АЦП можно увидеть на следующих примерах реальных описаний микросхем Некоторые другие статические характеристики микросхем ЦАП и АЦП можно увидеть на следующих примерах реальных описаний микросхем

Слайд 30





ПРИМЕР СТАТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОСХЕМЫ ЦАП
Описание слайда:
ПРИМЕР СТАТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОСХЕМЫ ЦАП

Слайд 31





СЖАТЫЙ ПЕРЕЧЕНЬ СТАТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОСХЕМЫ АЦП (AD7452)
Описание слайда:
СЖАТЫЙ ПЕРЕЧЕНЬ СТАТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОСХЕМЫ АЦП (AD7452)

Слайд 32





БОЛЕЕ ПОДРОБНЫЙ ПЕРЕЧЕНЬ СТАТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОСХЕМЫ АЦП
Описание слайда:
БОЛЕЕ ПОДРОБНЫЙ ПЕРЕЧЕНЬ СТАТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОСХЕМЫ АЦП

Слайд 33





ДИНАМИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ ЦИТ
Полные динамические характеристики (по стандарту ГОСТ 8.256−77) позволяют оценить динамическую погрешность при любом законе изменения измеряемой величины. Их можно нормировать только для аналоговых средств измерений, описываемых линейными дифференциальными уравнениями.
Цифровые средства измерений нелинейны, для них можно установить лишь частные динамические характеристики, позволяющие описать поведение средства измерений при входных воздействиях определённого вида.
Описание слайда:
ДИНАМИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ ЦИТ Полные динамические характеристики (по стандарту ГОСТ 8.256−77) позволяют оценить динамическую погрешность при любом законе изменения измеряемой величины. Их можно нормировать только для аналоговых средств измерений, описываемых линейными дифференциальными уравнениями. Цифровые средства измерений нелинейны, для них можно установить лишь частные динамические характеристики, позволяющие описать поведение средства измерений при входных воздействиях определённого вида.

Слайд 34





«СМЕШАННЫЕ» ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ ЦИТ
«Смешанными» можно назвать частные характеристики, которые определяются в динамическом режиме, но в основном отражают влияние нелинейности (статической и динамической) ЦАП или АЦП, в том числе эффекты квантования. 
«Смешанные» характеристики обычно определяют при синусоидальном входном воздействии. Измеряемые параметры характеризуют шумы и гармоники, появляющиеся  в выходном сигнале.
Описание слайда:
«СМЕШАННЫЕ» ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ ЦИТ «Смешанными» можно назвать частные характеристики, которые определяются в динамическом режиме, но в основном отражают влияние нелинейности (статической и динамической) ЦАП или АЦП, в том числе эффекты квантования. «Смешанные» характеристики обычно определяют при синусоидальном входном воздействии. Измеряемые параметры характеризуют шумы и гармоники, появляющиеся в выходном сигнале.

Слайд 35





	Теперь, прежде чем двигаться дальше, уместно привести перечни терминов из документации на микросхемы ЦАП и АЦП
	Теперь, прежде чем двигаться дальше, уместно привести перечни терминов из документации на микросхемы ЦАП и АЦП
Описание слайда:
Теперь, прежде чем двигаться дальше, уместно привести перечни терминов из документации на микросхемы ЦАП и АЦП Теперь, прежде чем двигаться дальше, уместно привести перечни терминов из документации на микросхемы ЦАП и АЦП

Слайд 36





ТЕРМИНОЛОГИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ЦАП  − НАЧАЛО СТРАНИЦЫ
Описание слайда:
ТЕРМИНОЛОГИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ЦАП − НАЧАЛО СТРАНИЦЫ

Слайд 37





ТЕРМИНОЛОГИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ЦАП  − КОНЕЦ СТРАНИЦЫ
Описание слайда:
ТЕРМИНОЛОГИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ЦАП − КОНЕЦ СТРАНИЦЫ

Слайд 38





ТЕРМИНОЛОГИЯ ХАРАКТЕРИСТИК АЦП  − НАЧАЛО ПЕРВОЙ СТРАНИЦЫ
Описание слайда:
ТЕРМИНОЛОГИЯ ХАРАКТЕРИСТИК АЦП − НАЧАЛО ПЕРВОЙ СТРАНИЦЫ

Слайд 39





ТЕРМИНОЛОГИЯ ХАРАКТЕРИСТИК АЦП  − КОНЕЦ ПЕРВОЙ СТРАНИЦЫ
Описание слайда:
ТЕРМИНОЛОГИЯ ХАРАКТЕРИСТИК АЦП − КОНЕЦ ПЕРВОЙ СТРАНИЦЫ

Слайд 40





ТЕРМИНОЛОГИЯ ХАРАКТЕРИСТИК АЦП  − ВТОРАЯ СТРАНИЦА
Описание слайда:
ТЕРМИНОЛОГИЯ ХАРАКТЕРИСТИК АЦП − ВТОРАЯ СТРАНИЦА

Слайд 41





ОСНОВНАЯ ДИНАМИЧЕСКАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА ЦАП − 
ВРЕМЯ УСТАНОВЛЕНИЯ ВЫХОДНОГО СИГНАЛА
Описание слайда:
ОСНОВНАЯ ДИНАМИЧЕСКАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА ЦАП − ВРЕМЯ УСТАНОВЛЕНИЯ ВЫХОДНОГО СИГНАЛА

Слайд 42





ДИНАМИЧЕСКИЕ И ШУМОВЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ МИКРОСХЕМЫ ЦАП С ВЫХОДОМ ПО НАПРЯЖЕНИЮ
Описание слайда:
ДИНАМИЧЕСКИЕ И ШУМОВЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ МИКРОСХЕМЫ ЦАП С ВЫХОДОМ ПО НАПРЯЖЕНИЮ

Слайд 43





ОСОБЕННОСТЬ ДИНАМИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОСХЕМ ЦАП С ВЫХОДОМ ПО ТОКУ
	Если микросхема ЦАП (например, множительного) рассчитана на подключение внешнего операционного усилителя для преобразования ток→напряжение, то для этой микросхемы сообщается время установления тока, которое не учитывает инерционности преобразования ток→напряжение.
Описание слайда:
ОСОБЕННОСТЬ ДИНАМИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОСХЕМ ЦАП С ВЫХОДОМ ПО ТОКУ Если микросхема ЦАП (например, множительного) рассчитана на подключение внешнего операционного усилителя для преобразования ток→напряжение, то для этой микросхемы сообщается время установления тока, которое не учитывает инерционности преобразования ток→напряжение.

Слайд 44





К ДИНАМИЧЕСКИМ ХАРАКТЕРИСТИКАМ МИКРОСХЕМ ЦАП ОТНОСЯТСЯ ВЫБРОСЫ (GLITCHES)
	Обычно указывается выброс при изменении кодовой комбинации на 1 LSB вокруг «главного кодового перехода» (major carry): 0111…111→1000…000.
Описание слайда:
К ДИНАМИЧЕСКИМ ХАРАКТЕРИСТИКАМ МИКРОСХЕМ ЦАП ОТНОСЯТСЯ ВЫБРОСЫ (GLITCHES) Обычно указывается выброс при изменении кодовой комбинации на 1 LSB вокруг «главного кодового перехода» (major carry): 0111…111→1000…000.

Слайд 45





БЫСТРОДЕЙСТВИЕ МИКРОСХЕМ АЦП
Обобщающей характеристикой быстродействия АЦП является пропускная способность (throughput rate). Она выражается числом преобразований в секунду. 
Пропускная способность АЦП последовательных приближений учитывает − по минимуму − все составляющие интервала времени между последовательными преобразованиями: время выборки УВХ, время установления входных цепей, собственно преобразование, время обмена данными с микроконтроллером или другим потребителем, интервал «покоя» перед следующим преобразованием (перечисленные интервалы времени могут перекрываться). 
Быстродействие АЦП с ΣΔ-модуляторами, нормальным режимом которых является непрерывное преобразование, характеризуется частотой обновления выходных данных (output update rate).
Описание слайда:
БЫСТРОДЕЙСТВИЕ МИКРОСХЕМ АЦП Обобщающей характеристикой быстродействия АЦП является пропускная способность (throughput rate). Она выражается числом преобразований в секунду. Пропускная способность АЦП последовательных приближений учитывает − по минимуму − все составляющие интервала времени между последовательными преобразованиями: время выборки УВХ, время установления входных цепей, собственно преобразование, время обмена данными с микроконтроллером или другим потребителем, интервал «покоя» перед следующим преобразованием (перечисленные интервалы времени могут перекрываться). Быстродействие АЦП с ΣΔ-модуляторами, нормальным режимом которых является непрерывное преобразование, характеризуется частотой обновления выходных данных (output update rate).

Слайд 46





ЕДИНИЦЫ ПРОПУСКНОЙ СПОСОБНОСТИ АЦП
Число преобразований в секунду в англоязычной документации выражается 
	в единицах SPS − samples per second (выборки в секунду). 
Кратные единицы: 	1000 SPS = 1 kSPS;
					106 SPS = 1 MSPS;
					109 SPS = 1 GSPS.
Описание слайда:
ЕДИНИЦЫ ПРОПУСКНОЙ СПОСОБНОСТИ АЦП Число преобразований в секунду в англоязычной документации выражается в единицах SPS − samples per second (выборки в секунду). Кратные единицы: 1000 SPS = 1 kSPS; 106 SPS = 1 MSPS; 109 SPS = 1 GSPS.

Слайд 47





ПОЛОСА ПРОПУСКАНИЯ ВХОДНЫХ ЦЕПЕЙ АЦП
ГОСТ 8.009−84 рекомендует указывать для входных цепей АЦП полные динамические характеристики. По-видимому, эта рекомендация практически невыполнима. 
В документации Analog Devices для входных цепей указывается полоса пропускания для полного сигнала (full power bandwidth), а иногда также для малого сигнала. Наряду со стандартной полосой, ограниченной частотой, на которой сигнал затухает на 3 дБ, может приводиться полоса для граничного затухания  0,1 дБ (см. слайд 55).
Описание слайда:
ПОЛОСА ПРОПУСКАНИЯ ВХОДНЫХ ЦЕПЕЙ АЦП ГОСТ 8.009−84 рекомендует указывать для входных цепей АЦП полные динамические характеристики. По-видимому, эта рекомендация практически невыполнима. В документации Analog Devices для входных цепей указывается полоса пропускания для полного сигнала (full power bandwidth), а иногда также для малого сигнала. Наряду со стандартной полосой, ограниченной частотой, на которой сигнал затухает на 3 дБ, может приводиться полоса для граничного затухания 0,1 дБ (см. слайд 55).

Слайд 48





ГРАНИЦА ПОЛОСЫ ПРОПУСКАНИЯ ВХОДНЫХ ЦЕПЕЙ АЦП МОЖЕТ БЫТЬ ВЫШЕ ЧАСТОТЫ ПРЕОБРАЗОВАНИЙ 
	Широкая полоса пропускания позволяет, в частности, выполнять стробоскопическое преобразование периодического входного сигнала
Описание слайда:
ГРАНИЦА ПОЛОСЫ ПРОПУСКАНИЯ ВХОДНЫХ ЦЕПЕЙ АЦП МОЖЕТ БЫТЬ ВЫШЕ ЧАСТОТЫ ПРЕОБРАЗОВАНИЙ Широкая полоса пропускания позволяет, в частности, выполнять стробоскопическое преобразование периодического входного сигнала

Слайд 49





ПОГРЕШНОСТЬ ДАТИРОВАНИЯ АЦП
	Определение по ГОСТ 8.009−84, Приложение 3:
Описание слайда:
ПОГРЕШНОСТЬ ДАТИРОВАНИЯ АЦП Определение по ГОСТ 8.009−84, Приложение 3:

Слайд 50





ПОГРЕШНОСТЬ ПО НАПРЯЖЕНИЮ, ВЫЗВАННАЯ 
АПЕРТУРНОЙ ДРОЖЬЮ
Описание слайда:
ПОГРЕШНОСТЬ ПО НАПРЯЖЕНИЮ, ВЫЗВАННАЯ АПЕРТУРНОЙ ДРОЖЬЮ

Слайд 51





БОЛЬШИНСТВО «СМЕШАННЫХ» ХАРАКТЕРИСТИК АЦП ОПРЕДЕЛЯЕТСЯ ПО ГРАФИКУ ПРЕОБРАЗОВАНИЯ ФУРЬЕ 
МАССИВА ОТСЧЁТОВ СИНУСОИДЫ МАКСИМАЛЬНОЙ АМПЛИТУДЫ
Описание слайда:
БОЛЬШИНСТВО «СМЕШАННЫХ» ХАРАКТЕРИСТИК АЦП ОПРЕДЕЛЯЕТСЯ ПО ГРАФИКУ ПРЕОБРАЗОВАНИЯ ФУРЬЕ МАССИВА ОТСЧЁТОВ СИНУСОИДЫ МАКСИМАЛЬНОЙ АМПЛИТУДЫ

Слайд 52





 «СМЕШАННЫЕ» ХАРАКТЕРИСТИКИ АЦП, ОПРЕДЕЛЯЕМЫЕ ПО ГРАФИКУ ПРЕОБРАЗОВАНИЯ ФУРЬЕ
SINAD (SIgnal to Noise And Distortion ratio) отношение сигнала к шуму и искажениям. Вычисляется как отношение мощности сигнала к суммарной мощности всех других (шумовых и гармонических) частотных составляющих в массиве отсчётов АЦП. Для идеального АЦП вычисляется теоретически.
THD (Total Harmonic Distortion) «полные гармонические искажения». Вычисляется как отношение суммарной мощности нескольких высших гармоник к мощности сигнала.
SFDR (Spurious Free Dynamic Range) динамический диапазон, свободный от помех. Находится как отношение сигнала к шумовой или гармонической частотной составляющей, имеющей максимальное значение.
Описание слайда:
«СМЕШАННЫЕ» ХАРАКТЕРИСТИКИ АЦП, ОПРЕДЕЛЯЕМЫЕ ПО ГРАФИКУ ПРЕОБРАЗОВАНИЯ ФУРЬЕ SINAD (SIgnal to Noise And Distortion ratio) отношение сигнала к шуму и искажениям. Вычисляется как отношение мощности сигнала к суммарной мощности всех других (шумовых и гармонических) частотных составляющих в массиве отсчётов АЦП. Для идеального АЦП вычисляется теоретически. THD (Total Harmonic Distortion) «полные гармонические искажения». Вычисляется как отношение суммарной мощности нескольких высших гармоник к мощности сигнала. SFDR (Spurious Free Dynamic Range) динамический диапазон, свободный от помех. Находится как отношение сигнала к шумовой или гармонической частотной составляющей, имеющей максимальное значение.

Слайд 53





ХАРАКТЕРИСТИКА АЦП, ОПРЕДЕЛЯЕМАЯ ПО РЕЗУЛЬТАТАМ ОТДЕЛЬНОГО ЭКСПЕРИМЕНТА
IMD (InterModulation Distortion) интермодуляционные искажения. Определяется при подаче на вход АЦП сигнала, состоящего из двух гармонических составляющих различных частот f1 и f2. В массиве отсчётов АЦП выделяются составляющие комбинационных частот: второго порядка f1 ± f2 и третьего порядка 2f1 ± f2; 2f2 ± f1..
Описание слайда:
ХАРАКТЕРИСТИКА АЦП, ОПРЕДЕЛЯЕМАЯ ПО РЕЗУЛЬТАТАМ ОТДЕЛЬНОГО ЭКСПЕРИМЕНТА IMD (InterModulation Distortion) интермодуляционные искажения. Определяется при подаче на вход АЦП сигнала, состоящего из двух гармонических составляющих различных частот f1 и f2. В массиве отсчётов АЦП выделяются составляющие комбинационных частот: второго порядка f1 ± f2 и третьего порядка 2f1 ± f2; 2f2 ± f1..

Слайд 54





ТЕОРЕТИЧЕСКИЙ РАСЧЁТ SINAD
Рассматривается двоичный n-разрядный АЦП с диапазоном 2nq, где q − квант (LSB). 
Сигнал максимального размаха можно выразить как (2nq/2)sinωt.
Среднеквадратическое значение этого сигнала в √2  меньше амплитуды и составляет 2nq/(2√2).
Идеальный АЦП имеет единственный источник шума − квантование. Среднеквадратическое значение погрешности квантования равно q/√12. 
Отношение среднеквадратических значений сигнала и шума составляет 2n√12/8 = 2n√1,5 .
Выражаем его в децибелах. Разрядность становится множителем; 2 в децибелах составляет примерно 6,02; √1,5 − примерно 1,76.
Окончательно для идеального АЦП 
	SINAD = 6,02n + 1,76 дБ.
Описание слайда:
ТЕОРЕТИЧЕСКИЙ РАСЧЁТ SINAD Рассматривается двоичный n-разрядный АЦП с диапазоном 2nq, где q − квант (LSB). Сигнал максимального размаха можно выразить как (2nq/2)sinωt. Среднеквадратическое значение этого сигнала в √2 меньше амплитуды и составляет 2nq/(2√2). Идеальный АЦП имеет единственный источник шума − квантование. Среднеквадратическое значение погрешности квантования равно q/√12. Отношение среднеквадратических значений сигнала и шума составляет 2n√12/8 = 2n√1,5 . Выражаем его в децибелах. Разрядность становится множителем; 2 в децибелах составляет примерно 6,02; √1,5 − примерно 1,76. Окончательно для идеального АЦП SINAD = 6,02n + 1,76 дБ.

Слайд 55





ЭФФЕКТИВНАЯ РАЗРЯДНОСТЬ
ENOB (Effective Number Of Bits) эффективная разрядность. Она вычисляется по формуле
Описание слайда:
ЭФФЕКТИВНАЯ РАЗРЯДНОСТЬ ENOB (Effective Number Of Bits) эффективная разрядность. Она вычисляется по формуле

Слайд 56





ТЕПЕРЬ МОЖНО ПРИВЕСТИ ПРИМЕР ДИНАМИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК РЕАЛЬНОГО АЦП
Описание слайда:
ТЕПЕРЬ МОЖНО ПРИВЕСТИ ПРИМЕР ДИНАМИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК РЕАЛЬНОГО АЦП

Слайд 57





ДИСКРЕТИЗАЦИЯ (КАК ИСТОЧНИК ПОГРЕШНОСТЕЙ)
Спектр последовательности дискретных отсчётов сигнала содержит бесконечное количество копий исходного спектра. 
Расстояние между этими копиями равно частоте дискретизации fдискр, т. е. частоте преобразований АЦП.
Описание слайда:
ДИСКРЕТИЗАЦИЯ (КАК ИСТОЧНИК ПОГРЕШНОСТЕЙ) Спектр последовательности дискретных отсчётов сигнала содержит бесконечное количество копий исходного спектра. Расстояние между этими копиями равно частоте дискретизации fдискр, т. е. частоте преобразований АЦП.

Слайд 58





ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ, СВЯЗАННЫЕ С ДИСКРЕТИЗАЦИЕЙ
	Представление непрерывного сигнала дискретными отсчётами подразумевает возможность восстановления исходного сигнала. Простейший способ восстановления − запоминание предыдущего отсчёта до появления следующего (как это делает ЦАП).
Описание слайда:
ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ, СВЯЗАННЫЕ С ДИСКРЕТИЗАЦИЕЙ Представление непрерывного сигнала дискретными отсчётами подразумевает возможность восстановления исходного сигнала. Простейший способ восстановления − запоминание предыдущего отсчёта до появления следующего (как это делает ЦАП).

Слайд 59





ВОССТАНОВЛЕНИЕ ЛИНЕЙНОЙ ИНТЕРПОЛЯЦИЕЙ
	Проектируя аналого-цифровые каналы, часто исходят из возможности восстановления сигнала линейной интерполяцией.
Описание слайда:
ВОССТАНОВЛЕНИЕ ЛИНЕЙНОЙ ИНТЕРПОЛЯЦИЕЙ Проектируя аналого-цифровые каналы, часто исходят из возможности восстановления сигнала линейной интерполяцией.

Слайд 60





ТЕОРЕМА КОТЕЛЬНИКОВА
	Предельное соотношение между параметрами сигнала и допустимой частотой дискретизации  (частотой преобразований АЦП) даёт теорема Котельникова (в англоязычной литературе теорема найквиста):
Сигнал с ограниченным спектром может быть точно восстановлен по дискретным отсчётам, если эти отсчёты следуют с частотой, более чем вдвое превышающей граничную частоту спектра сигнала.
Восстанавливающие функции − это функции sinc с амплитудами, равными амплитудам отсчёирв сигнала.
Описание слайда:
ТЕОРЕМА КОТЕЛЬНИКОВА Предельное соотношение между параметрами сигнала и допустимой частотой дискретизации (частотой преобразований АЦП) даёт теорема Котельникова (в англоязычной литературе теорема найквиста): Сигнал с ограниченным спектром может быть точно восстановлен по дискретным отсчётам, если эти отсчёты следуют с частотой, более чем вдвое превышающей граничную частоту спектра сигнала. Восстанавливающие функции − это функции sinc с амплитудами, равными амплитудам отсчёирв сигнала.

Слайд 61





ПРИМЕР И ВАЖНЫЙ ТЕРМИН
Таким образом, например, микросхема АЦП AD7452 (её характеристики были приведены на слайде 56) с пропускной способностью 
	555 kSPS может применяться для оцифровки сигнала, спектр которого ограничен частотой 277,5 кГц.
Если частота fдискр преобразований АЦП задана, то половина этой частоты fдискр/2  называется частотой Найквиста. 
График спектра, полученного преобразованием Фурье массива данных АЦП по которому вычисляются SINAD и другие «смешанные» характеристики, ограничивается частотой Найквиста (на слайде 51 это 277,5 кГц),.
Описание слайда:
ПРИМЕР И ВАЖНЫЙ ТЕРМИН Таким образом, например, микросхема АЦП AD7452 (её характеристики были приведены на слайде 56) с пропускной способностью 555 kSPS может применяться для оцифровки сигнала, спектр которого ограничен частотой 277,5 кГц. Если частота fдискр преобразований АЦП задана, то половина этой частоты fдискр/2 называется частотой Найквиста. График спектра, полученного преобразованием Фурье массива данных АЦП по которому вычисляются SINAD и другие «смешанные» характеристики, ограничивается частотой Найквиста (на слайде 51 это 277,5 кГц),.

Слайд 62





ТЕОРЕМА КОТЕЛЬНИКОВА НЕ ВСЕГДА ПРИМЕНИМА
Частота дискретизации может быть ниже частоты, требуемой теоремой Котельникова, при стробоскопическом преобразовании периодического сигнала (см. слайд 48).
Если не требуется восстанавливать форму сигнала, а нужно, например, определить только распределение вероятностей его значений, частоту дискретизации можно выбирать произвольно.
Описание слайда:
ТЕОРЕМА КОТЕЛЬНИКОВА НЕ ВСЕГДА ПРИМЕНИМА Частота дискретизации может быть ниже частоты, требуемой теоремой Котельникова, при стробоскопическом преобразовании периодического сигнала (см. слайд 48). Если не требуется восстанавливать форму сигнала, а нужно, например, определить только распределение вероятностей его значений, частоту дискретизации можно выбирать произвольно.

Слайд 63





НЕВЫПОЛНЕНИЕ ТРЕБОВАНИЙ ТЕОРЕМЫ КОТЕЛЬНИКОВА ПРИВОДИТ К НАЛОЖЕНИЮ СПЕКТРОВ
	Если спектр сигнала выходит за частоту Найквиста fн, то возникает наложение спектров (aliasing). Оно проявляется как погрешность, не поддающаяся коррекции.
Описание слайда:
НЕВЫПОЛНЕНИЕ ТРЕБОВАНИЙ ТЕОРЕМЫ КОТЕЛЬНИКОВА ПРИВОДИТ К НАЛОЖЕНИЮ СПЕКТРОВ Если спектр сигнала выходит за частоту Найквиста fн, то возникает наложение спектров (aliasing). Оно проявляется как погрешность, не поддающаяся коррекции.

Слайд 64





КОСОЕ СЕЧЕНИЕ
	В многоканальных системах последовательный опрос каналов приводит к «косому сечению». Если результаты измерений обрабатываются совместно (например, по значениям тока и напряжения находится мощность), косое сечение оказывается причиной фазовых погрешностей.
	Для устранения косого сечения используют АЦП с одновременной выборкой (simultaneous sampling ADC).
Описание слайда:
КОСОЕ СЕЧЕНИЕ В многоканальных системах последовательный опрос каналов приводит к «косому сечению». Если результаты измерений обрабатываются совместно (например, по значениям тока и напряжения находится мощность), косое сечение оказывается причиной фазовых погрешностей. Для устранения косого сечения используют АЦП с одновременной выборкой (simultaneous sampling ADC).

Слайд 65





ПРИМЕР АЦП С ОДНОВРЕМЕННОЙ ВЫБОРКОЙ − AD7605
Четыре УВХ могут перейти в режим 
хранения одновременно или попарно.
Описание слайда:
ПРИМЕР АЦП С ОДНОВРЕМЕННОЙ ВЫБОРКОЙ − AD7605 Четыре УВХ могут перейти в режим хранения одновременно или попарно.

Слайд 66





ОДИН ИЗ ВОЗМОЖНЫХ РЕЖИМОВ ЧТЕНИЯ ДАННЫХ ИЗ АЦП AD7705
Описание слайда:
ОДИН ИЗ ВОЗМОЖНЫХ РЕЖИМОВ ЧТЕНИЯ ДАННЫХ ИЗ АЦП AD7705

Слайд 67





ДРУГОЙ ВАРИАНТ − ОДНОВРЕМЕННО РАБОТАЮЩИЕ АЦП (AD7768)
Описание слайда:
ДРУГОЙ ВАРИАНТ − ОДНОВРЕМЕННО РАБОТАЮЩИЕ АЦП (AD7768)

Слайд 68





ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ФУНКЦИОНАЛОВ
Измерению могут подлежать не мгновенные размеры величины, а функционалы, такие как действующее (среднеквадратическое) напряжение или средняя мощность в цепи переменного тока. 
В цифровых устройствах функционалы могут вычисляться по выборке мгновенных значений непосредственно измеряемых величин. 
В подобных случаях нужно обеспечивать представительность выборки: измерять за период сигнала или за время, намного большее периода, избегать синхронизации измерений с сигналом (возможны измерения в случайные моменты) и т. д.
Типичной погрешностью может быть погрешность от некратности времени усреднения функционала периоду сигнала или статистический разброс при случайном сигнале
Описание слайда:
ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ФУНКЦИОНАЛОВ Измерению могут подлежать не мгновенные размеры величины, а функционалы, такие как действующее (среднеквадратическое) напряжение или средняя мощность в цепи переменного тока. В цифровых устройствах функционалы могут вычисляться по выборке мгновенных значений непосредственно измеряемых величин. В подобных случаях нужно обеспечивать представительность выборки: измерять за период сигнала или за время, намного большее периода, избегать синхронизации измерений с сигналом (возможны измерения в случайные моменты) и т. д. Типичной погрешностью может быть погрешность от некратности времени усреднения функционала периоду сигнала или статистический разброс при случайном сигнале

Слайд 69





ИТАК, РАССМОТРЕНЫ ПОГРЕШНОСТИ:
Статические (аддитивная, мультипликативная, нелинейная, погрешность квантования, шумы, воздействие температуры и других влияющих факторов).
Динамические (связанные с переходными процессами, полосой пропускания аналоговой части АЦП и с датированием).
Погрешности, характеризуемые «смешанными» характеристиками.
Погрешности восстановления непрерывного сигнала по дискретным отсчётам и погрешность от косого сечения.
Погрешности измерения функционалов
	Осталось рассмотреть воздействие внешних помех на цифровой прибор или измерительный канал с АЦП.
Описание слайда:
ИТАК, РАССМОТРЕНЫ ПОГРЕШНОСТИ: Статические (аддитивная, мультипликативная, нелинейная, погрешность квантования, шумы, воздействие температуры и других влияющих факторов). Динамические (связанные с переходными процессами, полосой пропускания аналоговой части АЦП и с датированием). Погрешности, характеризуемые «смешанными» характеристиками. Погрешности восстановления непрерывного сигнала по дискретным отсчётам и погрешность от косого сечения. Погрешности измерения функционалов Осталось рассмотреть воздействие внешних помех на цифровой прибор или измерительный канал с АЦП.

Слайд 70





ОБЩИЕ СПОСОБЫ БОРЬБЫ С ПОМЕХАМИ
Правильное экранирование (например, у преобразователей ёмкость→код с ΣΔ-модуляторами следует оба провода от исследуемого конденсатора экранировать раздельно).
Правильное заземление (в одной точке, чтобы не образовывалось контуров).
Разделение сигнальных и «силовых» цепей: дифференциальная передача слабого сигнала лучше, чем передача с общим обратным проводом.
Усиление слабого сигнала, а ещё лучше − аналого-цифровое преобразование по возможности близко к источнику сигнала.
и т. д.
Описание слайда:
ОБЩИЕ СПОСОБЫ БОРЬБЫ С ПОМЕХАМИ Правильное экранирование (например, у преобразователей ёмкость→код с ΣΔ-модуляторами следует оба провода от исследуемого конденсатора экранировать раздельно). Правильное заземление (в одной точке, чтобы не образовывалось контуров). Разделение сигнальных и «силовых» цепей: дифференциальная передача слабого сигнала лучше, чем передача с общим обратным проводом. Усиление слабого сигнала, а ещё лучше − аналого-цифровое преобразование по возможности близко к источнику сигнала. и т. д.

Слайд 71





ВИДЫ ПОМЕХ
Uпрод − продольная (синфазная, общего вида, common mode)
Uпопер − поперечная (нормального вида, normal mode)
	Подразумевается, что входной блок прибора изолирован от корпуса. Rут и Cут− сопротивление и ёмкость утечки; r1 и r2 − сопротивления линий связи с датчиком.
Описание слайда:
ВИДЫ ПОМЕХ Uпрод − продольная (синфазная, общего вида, common mode) Uпопер − поперечная (нормального вида, normal mode) Подразумевается, что входной блок прибора изолирован от корпуса. Rут и Cут− сопротивление и ёмкость утечки; r1 и r2 − сопротивления линий связи с датчиком.

Слайд 72





БОРЬБА С ПРОДОЛЬНОЙ ПОМЕХОЙ
Приступая к борьбе с определённой помехой, нужно выяснить, а) чем она опасна и б) чем она отличается от сигнала.
Продольная помеха опасна тем, что из-за несимметрии входных цепей она переходит в поперечную помеху, неотличимую от сигнала. Кроме того, продольная помеха может быть настолько сильной, что выведет из режима или повредит вход прибора.
Продольная помеха отличается от сигнала способом включения в цепь.
Значит, бороться с ней нужно схемными методами. 
	Наиболее эффективным методом (есть и другие) является гальваническое разделение (или иначе гальваническая развязка, изоляция), разрывающая контуры, в которых действует помеха. Изоляция входного блока прибора от корпуса на предыдущем слайде подразумевает цифровую гальваническую развязку на выходе этого входного блока.
Описание слайда:
БОРЬБА С ПРОДОЛЬНОЙ ПОМЕХОЙ Приступая к борьбе с определённой помехой, нужно выяснить, а) чем она опасна и б) чем она отличается от сигнала. Продольная помеха опасна тем, что из-за несимметрии входных цепей она переходит в поперечную помеху, неотличимую от сигнала. Кроме того, продольная помеха может быть настолько сильной, что выведет из режима или повредит вход прибора. Продольная помеха отличается от сигнала способом включения в цепь. Значит, бороться с ней нужно схемными методами. Наиболее эффективным методом (есть и другие) является гальваническое разделение (или иначе гальваническая развязка, изоляция), разрывающая контуры, в которых действует помеха. Изоляция входного блока прибора от корпуса на предыдущем слайде подразумевает цифровую гальваническую развязку на выходе этого входного блока.

Слайд 73





СРЕДСТВА ГАЛЬВАНИЧЕСКОЙ РАЗВЯЗКИ
Гальваническая развязка обычно осуществляется с помощью оптронов или трансформаторов с модуляторами на входе и демодуляторами на выходе.
Гальваническую развязку в цифровой части измерительного канала следует предпочитать развязке в аналоговой части канала, так как последняя вносит погрешности.
Имеются микросхемы для гальванической развязки цифровых сигналов
Общего применения
Предназначенные для межмикросхемных интерфейсов SPI и I2C
Трансиверы системных интерфейсов RS485 и других, обеспечивающие развязку не только сигнальных цепей, но и питания.
Развязка на выходе в систему крайне желательна!
Описание слайда:
СРЕДСТВА ГАЛЬВАНИЧЕСКОЙ РАЗВЯЗКИ Гальваническая развязка обычно осуществляется с помощью оптронов или трансформаторов с модуляторами на входе и демодуляторами на выходе. Гальваническую развязку в цифровой части измерительного канала следует предпочитать развязке в аналоговой части канала, так как последняя вносит погрешности. Имеются микросхемы для гальванической развязки цифровых сигналов Общего применения Предназначенные для межмикросхемных интерфейсов SPI и I2C Трансиверы системных интерфейсов RS485 и других, обеспечивающие развязку не только сигнальных цепей, но и питания. Развязка на выходе в систему крайне желательна!

Слайд 74





ПРИМЕР МИКРОСХЕМ ЦИФРОВОЙ ГАЛЬВАНИЧЕСКОЙ РАЗВЯЗКИ ОБЩЕГО ПРИМЕНЕНИЯ
Описание слайда:
ПРИМЕР МИКРОСХЕМ ЦИФРОВОЙ ГАЛЬВАНИЧЕСКОЙ РАЗВЯЗКИ ОБЩЕГО ПРИМЕНЕНИЯ

Слайд 75





НАЧАЛЬНАЯ ЧАСТЬ ТАБЛИЦЫ ВЫБОРА МИКРОСХЕМ РАЗВЯЗКИ ОБЩЕГО ПРИМЕНЕНИЯ
Среди параметров обратим внимание на напряжение изоляции: 
5000 вольт (среднеквадратических)!
Описание слайда:
НАЧАЛЬНАЯ ЧАСТЬ ТАБЛИЦЫ ВЫБОРА МИКРОСХЕМ РАЗВЯЗКИ ОБЩЕГО ПРИМЕНЕНИЯ Среди параметров обратим внимание на напряжение изоляции: 5000 вольт (среднеквадратических)!

Слайд 76





ПРИМЕР МИКРОСХЕМ РАЗВЯЗКИ 
ДЛЯ I2C
Описание слайда:
ПРИМЕР МИКРОСХЕМ РАЗВЯЗКИ ДЛЯ I2C

Слайд 77





ПРИМЕР МИКРОСХЕМ РАЗВЯЗКИ 
ДЛЯ SPI
Описание слайда:
ПРИМЕР МИКРОСХЕМ РАЗВЯЗКИ ДЛЯ SPI

Слайд 78





ПРИМЕР МИКРОСХЕМ РАЗВЯЗКИ 
ДЛЯ RS-485
Описание слайда:
ПРИМЕР МИКРОСХЕМ РАЗВЯЗКИ ДЛЯ RS-485

Слайд 79





БОРЬБА С ПОПЕРЕЧНОЙ ПОМЕХОЙ
Поперечная помеха опасна тем, что по способу включения в цепь она неотличима от сигнала, и поэтому непосредственно вносит погрешность. 
Поперечная помеха часто отличается от сигнала спектром: сигнал меняется медленно, а помеха имеет частоту сети или является высокочастотной. Поэтому основным средством борьбы с ней является частотная фильтрация.
Если сигнал (например, от тензомоста) меняется медленно, а помеха (например. термоэдс) − тоже, то можно искусственно разнести спектры сигнала и помехи, питая тензомост переменным напряжением.
В некоторых случаях (например, при измерении биологических вызванных потенциалов) различие между сигналом и помехой в том, что сигнал детерминирован и может многократно повторяться, а помеха случайна. При этом их спектры могут перекрываться. Детерминированный сигнал выделяют из случайной помехи методом синхронного накопления.
Описание слайда:
БОРЬБА С ПОПЕРЕЧНОЙ ПОМЕХОЙ Поперечная помеха опасна тем, что по способу включения в цепь она неотличима от сигнала, и поэтому непосредственно вносит погрешность. Поперечная помеха часто отличается от сигнала спектром: сигнал меняется медленно, а помеха имеет частоту сети или является высокочастотной. Поэтому основным средством борьбы с ней является частотная фильтрация. Если сигнал (например, от тензомоста) меняется медленно, а помеха (например. термоэдс) − тоже, то можно искусственно разнести спектры сигнала и помехи, питая тензомост переменным напряжением. В некоторых случаях (например, при измерении биологических вызванных потенциалов) различие между сигналом и помехой в том, что сигнал детерминирован и может многократно повторяться, а помеха случайна. При этом их спектры могут перекрываться. Детерминированный сигнал выделяют из случайной помехи методом синхронного накопления.

Слайд 80





ЧЕТЫРЕ ТИПА ФИЛЬТРОВ НИЖНИХ ЧАСТОТ
	По статье: Tutorial 928. Filter basics. Anti-Aliasing, размещённой на сайте www.maximintegrated.com

 	Выбор фильтра рассмотрим в следующей главе.
Описание слайда:
ЧЕТЫРЕ ТИПА ФИЛЬТРОВ НИЖНИХ ЧАСТОТ По статье: Tutorial 928. Filter basics. Anti-Aliasing, размещённой на сайте www.maximintegrated.com Выбор фильтра рассмотрим в следующей главе.

Слайд 81





ФИЛЬТРУЮЩИЕ СВОЙСТВА АЦП
	АЦП двухтактного интегрирования ведёт себя как фильтр нижних частот с прямоугольной весовой функцией и амплитудно-частотной характеристикой
Описание слайда:
ФИЛЬТРУЮЩИЕ СВОЙСТВА АЦП АЦП двухтактного интегрирования ведёт себя как фильтр нижних частот с прямоугольной весовой функцией и амплитудно-частотной характеристикой

Слайд 82





МИКРОСХЕМЫ ФИЛЬТРОВ
Описание слайда:
МИКРОСХЕМЫ ФИЛЬТРОВ

Слайд 83





ЧАСТЬ НОМЕНКЛАТУРЫ ФИЛЬТРОВ MAXIM
Описание слайда:
ЧАСТЬ НОМЕНКЛАТУРЫ ФИЛЬТРОВ MAXIM

Слайд 84





ПРИМЕР СТРУКТУРЫ УНИВЕРСАЛЬНОГО ФИЛЬТРА
Описание слайда:
ПРИМЕР СТРУКТУРЫ УНИВЕРСАЛЬНОГО ФИЛЬТРА

Слайд 85





СИНХРОННОЕ НАКОПЛЕНИЕ
Рисунок из книги: Кнорринг В.Г., Марамзина М.Г. 
Метрология, стандартизация, сертификация. − 
СПб.: Изд-во Политехн. ун-та, 2006. − 240 с.
Описание слайда:
СИНХРОННОЕ НАКОПЛЕНИЕ Рисунок из книги: Кнорринг В.Г., Марамзина М.Г. Метрология, стандартизация, сертификация. − СПб.: Изд-во Политехн. ун-та, 2006. − 240 с.

Слайд 86





НОРМИРОВАНИЕ ПОМЕХОУСТОЙЧИВОСТИ
Помехоустойчивость АЦП и цифровых вольтметров нормируется в децибелах, раздельно для продольных помех постоянного тока, продольных помех 50 Гц и поперечных помех 50 Гц в некотором диапазоне частот, например, (50 ± 0,5) Гц. 
У цифровых вольтметров двухтактного интегрирования подавление продольной помехи постоянного тока может составлять 120 дБ. Поперечная помеха (50 ± 0,5) Гц подавляется при отсутствии системы ФАПЧ, подстраивающей время интегрирования под период сетевой помехи, примерно на 40 дБ; при наличии системы ФАПЧ − 
	на 80 дБ.
Описание слайда:
НОРМИРОВАНИЕ ПОМЕХОУСТОЙЧИВОСТИ Помехоустойчивость АЦП и цифровых вольтметров нормируется в децибелах, раздельно для продольных помех постоянного тока, продольных помех 50 Гц и поперечных помех 50 Гц в некотором диапазоне частот, например, (50 ± 0,5) Гц. У цифровых вольтметров двухтактного интегрирования подавление продольной помехи постоянного тока может составлять 120 дБ. Поперечная помеха (50 ± 0,5) Гц подавляется при отсутствии системы ФАПЧ, подстраивающей время интегрирования под период сетевой помехи, примерно на 40 дБ; при наличии системы ФАПЧ − на 80 дБ.



Теги Глава 5
Похожие презентации
Mypresentation.ru
Загрузить презентацию