Индексы пригодности процессов - презентация, доклад, проект скачать

Нажмите для полного просмотра!

Индексы пригодности процессов, слайд №10

Индексы пригодности процессов, слайд №11

Индексы пригодности процессов, слайд №12

Индексы пригодности процессов, слайд №13

Содержание ▲

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Индексы пригодности процессов. Доклад-сообщение содержит 13 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1

Описание слайда:

Индексы пригодности процессов Яцун М. С., гр. 2407

Слайд 2

Описание слайда:

Общеупотребительными индексами пригодности процесса являются индексы пригодности (Cp и Cpk), т.к. они достаточно полно отражают отношения технически возможных отклонений (размаха процесса) к ±3 сигма пределам от первоначальных спецификаций. Общеупотребительными индексами пригодности процесса являются индексы пригодности (Cp и Cpk), т.к. они достаточно полно отражают отношения технически возможных отклонений (размаха процесса) к ±3 сигма пределам от первоначальных спецификаций.

Слайд 3

Описание слайда:

Для вычислений нам потребуется стандартное отклонение Сигма Для вычислений нам потребуется стандартное отклонение Сигма Находим размах R(i) для каждой выборки, где R(i) = максимальное значение - минимальное значение для i - ой выборки; Вычисляем средний размах Вычисляем сигма , где d(2) можно найти по стандартным статистическим таблицам

Слайд 4

Описание слайда:

Формулы индексов пригодности Потенциальная пригодность (Cp). Это простейший и самый естественный показатель пригодности производственного процесса. Он определяется как отношение размаха допуска к размаху процесса; при использовании границ ±3 сигма данный показатель можно выразить в виде

Слайд 5

Описание слайда:

Слайд 6

Описание слайда:

Нижняя/верхняя потенциальная пригодность (Cpl, Cpu). Нижняя/верхняя потенциальная пригодность (Cpl, Cpu). Недостаток показателя Cp состоит в том, что он может дать неверную информацию о производственном процессе в том случае, если среднее процесса отличается от номинального, иными словами, если процесс не центрирован.

Слайд 7

Описание слайда:

Подтвержденное качество (Cpk). Подтвержденное качество (Cpk). Если процесс идеально центрирован, то Cpk равно Cp, но, при смещении процесса смещается от своего номинального значения, Cpk становится меньше Cp. Высокий Cpk будет только в том случае, когда цель достигнута при минимальном отклонении от среднего.

Слайд 8

Описание слайда:

Индекс Cpk

Слайд 9

Описание слайда:

Слайд 10

Описание слайда:

Индекс Cp

Слайд 11

Описание слайда:

Слайд 12

Описание слайда:

Cpk=1/2 – Вы врезались в край двери; Cpk=1/2 – Вы врезались в край двери; Cpk=1 – Вы слегка поцарапали машину о край двери; Cpk=2 – все в норме, даже если Ваша ширина возрастет чуть меньше, чем в 2 раза; Cpk=3 – а теперь можете расширяться почти в 3 раза.

Слайд 13

Описание слайда:

Показателями качества процессам Pp и Ppk (process performance) - они описывают фактическое поведение процесса. Показателями качества процессам Pp и Ppk (process performance) - они описывают фактическое поведение процесса.