Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне

Нажмите для полного просмотра!

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №2

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №3

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №4

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №5

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №6

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №7

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №8

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №9

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №10

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №11

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №12

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №13

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №14

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №15

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №16

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №17

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №18

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №19

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №20

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №21

Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №22

Содержание ▲

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне. Доклад-сообщение содержит 22 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1

Описание слайда:

Слайд 2

Описание слайда:

Слайд 3

Описание слайда:

Методы исследования поверхности Сканирующая зондовая микроскопия

Слайд 4

Описание слайда:

Открытие сканирующей зондовой микроскопии Сканирующий микроскоп – Герд Биннинг и Генрих Рорер (1982 г.) Нобелевская премия за открытие туннельной и атомно-силовой микроскопии (1986 г.)

Слайд 5

Описание слайда:

Виды сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) Сканирующая туннельная микроскопия Атомно–силовая микроскопия СТМ (англ. STM — scanning tunneling microscope) — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением. АСМ используется для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного.

Слайд 6

Описание слайда:

Принцип сканирующей зондовой микроскопии Регистрация неизлучательной компоненты электромагнитного поля – основной принцип сканирующей зондовой микроскопии. Отличительной особенностью СЗМ является наличие: зонда, системы перемещения зонда относительно образца по двум (X-Y) или трем (X-Y-Z) координатам, регистрирующей системы. Регистрирующая система фиксирует значение функции, зависящей от расстояния зонд-образца. Обычно регистрируемое значение обрабатывается системой отрицательной обратной связи, которая управляет положением образца или зонда по одной из координат (Z).

Слайд 7

Описание слайда:

Основные задачи, которые решает СЗМ Определение размеров частиц Исследование активных центров на поверхности твердого тела Изучение механизмов сшивания каучуков и реактопластов Определение молекулярной поверхностной структуры Определение жесткости, вязкости нанообъектов Изучение электронных и квантово-размерных свойств Оценка модификации поверхности на атомном уровне

Слайд 8

Описание слайда:

Сканирующий зондовый микроскоп

Слайд 9

Описание слайда:

Сканирующая туннельная микроскопия 1. Физический принцип - туннельный эффект 2. Регистрируемый сигнал – величина туннельного тока, определяемая по формуле: Y = U·exp(-A·Ф1/2·S), U – напряжение между зондом и образцом, Ф – величина потенциального барьера в зазоре, S – ширина зазора 3. Принцип работы прибора – сканирование зондом по поверхности образца с разрешением 0,3–1 нм 4. Изучаемые объекты – твердые проводящие поверхности.

Слайд 10

Описание слайда:

Атомно – силовая микроскопия 1. Физический принцип – измерение силы, которая возникает при перемещении зонда по поверхности 2. Регистрируемый сигнал – деформация пружины с жесткостью ~1 Н/м или иного объекта 3. Принцип работы прибора – сканирование зондом по поверхности образца с разрешением 0,3–1 нм 4. Изучаемые объекты – твердые проводящие и непроводящие поверхности

Слайд 11

Описание слайда:

Атомно-силовой микроскоп

Слайд 12

Описание слайда:

Типы сканирующих зондовых микроскопов Лазерный силовой микроскоп Микроскоп магнитных сил Микроскоп электростатических сил Оптический микроскоп ближнего поля

Слайд 13

Описание слайда:

Схематическое изображение зондового датчика

Слайд 14

Описание слайда:

Изображения, получаемые методом СЗМ

Слайд 15

Описание слайда:

Возможности метода сканирующей зондовой микроскопии

Слайд 16

Описание слайда:

Преимущества метода сканирующей зондовой микроскопии Получение изображений проводящих и непроводящих поверхностей Информация о конкретной части поверхности Неразрушающий метод Нет необходимости высокого вакуума Возможность работы в среде диэлектрика или нормальных условиях Высокая скорость и низкая стоимость анализа, компактность прибора

Слайд 17

Описание слайда:

Методы зондирования поверхности заряженными частицами Спектроскопия ионного рассеяния Вторичная ионная масс-спектроскопия

Слайд 18

Описание слайда:

Взаимодействие ионов с поверхностью твердого тела при использовании метода СИР

Слайд 19

Описание слайда:

Физический принцип вторичной-ионной масс-спектроскопии Взаимодействие ионов высоких энергий >20 кЭВ с поверхностью твердого тела Разрушение поверхностных слоев с образованием нейтральных или заряженных частиц, кластеров, выброс фотонов или нейтронов