🗊Презентация Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне

Категория: Химия
Нажмите для полного просмотра!
Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №1Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №2Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №3Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №4Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №5Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №6Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №7Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №8Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №9Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №10Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №11Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №12Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №13Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №14Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №15Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №16Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №17Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №18Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №19Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №20Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №21Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №22
Скачать

Содержание ▲

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне. Доклад-сообщение содержит 22 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1


Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №1
Описание слайда:

Слайд 2


Микроскопия. Микроскопы, их устройство и возможности для изучения поверхности на микро- и наноуровне, слайд №2
Описание слайда:

Слайд 3


Методы исследования поверхности Сканирующая зондовая микроскопия
Описание слайда:
Методы исследования поверхности Сканирующая зондовая микроскопия

Слайд 4


Открытие сканирующей зондовой микроскопии Сканирующий микроскоп – Герд Биннинг и Генрих Рорер (1982 г.) Нобелевская премия за открытие туннельной и атомно-силовой микроскопии (1986 г.)
Описание слайда:
Открытие сканирующей зондовой микроскопии Сканирующий микроскоп – Герд Биннинг и Генрих Рорер (1982 г.) Нобелевская премия за открытие туннельной и атомно-силовой микроскопии (1986 г.)

Слайд 5


Виды сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) Сканирующая туннельная микроскопия Атомно–силовая микроскопия СТМ (англ. STM — scanning tunneling microscope) — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением. АСМ используется для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного.
Описание слайда:
Виды сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) Сканирующая туннельная микроскопия Атомно–силовая микроскопия СТМ (англ. STM — scanning tunneling microscope) — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением. АСМ используется для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного.

Слайд 6


Принцип сканирующей зондовой микроскопии Регистрация неизлучательной компоненты электромагнитного поля – основной принцип сканирующей зондовой микроскопии. Отличительной особенностью СЗМ является наличие: зонда, системы перемещения зонда относительно образца по двум (X-Y) или трем (X-Y-Z) координатам, регистрирующей системы. Регистрирующая система фиксирует значение функции, зависящей от расстояния зонд-образца. Обычно регистрируемое значение обрабатывается системой отрицательной обратной связи, которая управляет положением образца или зонда по одной из координат (Z).
Описание слайда:
Принцип сканирующей зондовой микроскопии Регистрация неизлучательной компоненты электромагнитного поля – основной принцип сканирующей зондовой микроскопии. Отличительной особенностью СЗМ является наличие: зонда, системы перемещения зонда относительно образца по двум (X-Y) или трем (X-Y-Z) координатам, регистрирующей системы. Регистрирующая система фиксирует значение функции, зависящей от расстояния зонд-образца. Обычно регистрируемое значение обрабатывается системой отрицательной обратной связи, которая управляет положением образца или зонда по одной из координат (Z).

Слайд 7


Основные задачи, которые решает СЗМ Определение размеров частиц Исследование активных центров на поверхности твердого тела Изучение механизмов сшивания каучуков и реактопластов Определение молекулярной поверхностной структуры Определение жесткости, вязкости нанообъектов Изучение электронных и квантово-размерных свойств Оценка модификации поверхности на атомном уровне
Описание слайда:
Основные задачи, которые решает СЗМ Определение размеров частиц Исследование активных центров на поверхности твердого тела Изучение механизмов сшивания каучуков и реактопластов Определение молекулярной поверхностной структуры Определение жесткости, вязкости нанообъектов Изучение электронных и квантово-размерных свойств Оценка модификации поверхности на атомном уровне

Слайд 8


Сканирующий зондовый микроскоп
Описание слайда:
Сканирующий зондовый микроскоп

Слайд 9


Сканирующая туннельная микроскопия 1. Физический принцип - туннельный эффект 2. Регистрируемый сигнал – величина туннельного тока, определяемая по формуле: Y = U·exp(-A·Ф1/2·S), U – напряжение между зондом и образцом, Ф – величина потенциального барьера в зазоре, S – ширина зазора 3. Принцип работы прибора – сканирование зондом по поверхности образца с разрешением 0,3–1 нм 4. Изучаемые объекты – твердые проводящие поверхности.
Описание слайда:
Сканирующая туннельная микроскопия 1. Физический принцип - туннельный эффект 2. Регистрируемый сигнал – величина туннельного тока, определяемая по формуле: Y = U·exp(-A·Ф1/2·S), U – напряжение между зондом и образцом, Ф – величина потенциального барьера в зазоре, S – ширина зазора 3. Принцип работы прибора – сканирование зондом по поверхности образца с разрешением 0,3–1 нм 4. Изучаемые объекты – твердые проводящие поверхности.

Слайд 10


Атомно – силовая микроскопия 1. Физический принцип – измерение силы, которая возникает при перемещении зонда по поверхности 2. Регистрируемый сигнал – деформация пружины с жесткостью ~1 Н/м или иного объекта 3. Принцип работы прибора – сканирование зондом по поверхности образца с разрешением 0,3–1 нм 4. Изучаемые объекты – твердые проводящие и непроводящие поверхности
Описание слайда:
Атомно – силовая микроскопия 1. Физический принцип – измерение силы, которая возникает при перемещении зонда по поверхности 2. Регистрируемый сигнал – деформация пружины с жесткостью ~1 Н/м или иного объекта 3. Принцип работы прибора – сканирование зондом по поверхности образца с разрешением 0,3–1 нм 4. Изучаемые объекты – твердые проводящие и непроводящие поверхности

Слайд 11


Атомно-силовой микроскоп
Описание слайда:
Атомно-силовой микроскоп

Слайд 12


Типы сканирующих зондовых микроскопов Лазерный силовой микроскоп Микроскоп магнитных сил Микроскоп электростатических сил Оптический микроскоп ближнего поля
Описание слайда:
Типы сканирующих зондовых микроскопов Лазерный силовой микроскоп Микроскоп магнитных сил Микроскоп электростатических сил Оптический микроскоп ближнего поля

Слайд 13


Схематическое изображение зондового датчика
Описание слайда:
Схематическое изображение зондового датчика

Слайд 14


Изображения, получаемые методом СЗМ
Описание слайда:
Изображения, получаемые методом СЗМ

Слайд 15


Возможности метода сканирующей зондовой микроскопии
Описание слайда:
Возможности метода сканирующей зондовой микроскопии

Слайд 16


Преимущества метода сканирующей зондовой микроскопии Получение изображений проводящих и непроводящих поверхностей Информация о конкретной части поверхности Неразрушающий метод Нет необходимости высокого вакуума Возможность работы в среде диэлектрика или нормальных условиях Высокая скорость и низкая стоимость анализа, компактность прибора
Описание слайда:
Преимущества метода сканирующей зондовой микроскопии Получение изображений проводящих и непроводящих поверхностей Информация о конкретной части поверхности Неразрушающий метод Нет необходимости высокого вакуума Возможность работы в среде диэлектрика или нормальных условиях Высокая скорость и низкая стоимость анализа, компактность прибора

Слайд 17


Методы зондирования поверхности заряженными частицами Спектроскопия ионного рассеяния Вторичная ионная масс-спектроскопия
Описание слайда:
Методы зондирования поверхности заряженными частицами Спектроскопия ионного рассеяния Вторичная ионная масс-спектроскопия

Слайд 18


Взаимодействие ионов с поверхностью твердого тела при использовании метода СИР
Описание слайда:
Взаимодействие ионов с поверхностью твердого тела при использовании метода СИР

Слайд 19


Физический принцип вторичной-ионной масс-спектроскопии Взаимодействие ионов высоких энергий >20 кЭВ с поверхностью твердого тела Разрушение поверхностных слоев с образованием нейтральных или заряженных частиц, кластеров, выброс фотонов или нейтронов
Описание слайда:
Физический принцип вторичной-ионной масс-спектроскопии Взаимодействие ионов высоких энергий >20 кЭВ с поверхностью твердого тела Разрушение поверхностных слоев с образованием нейтральных или заряженных частиц, кластеров, выброс фотонов или нейтронов

Слайд 20


Взаимодействие ионов с поверхностью твердого тела при использовании метода ВИМС
Описание слайда:
Взаимодействие ионов с поверхностью твердого тела при использовании метода ВИМС

Слайд 21


Литература Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. – М.: Техносфера, 2004, 143 с. https://koltovoi.nethouse.ru/page/941254
Описание слайда:
Литература Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. – М.: Техносфера, 2004, 143 с. https://koltovoi.nethouse.ru/page/941254

Слайд 22


Пожалуйста, задавайте вопросы
Описание слайда:
Пожалуйста, задавайте вопросы

Скачать

Похожие презентации
Mypresentation.ru
Загрузить презентацию