Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ

Нажмите для полного просмотра!

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №2

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №3

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №4

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №5

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №6

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №7

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №8

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №9

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №10

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №11

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №12

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №13

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №14

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №15

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №16

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №17

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №18

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №19

Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ, слайд №20

Содержание ▲

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ. Доклад-сообщение содержит 20 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 1 Темы лекции Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ. Колебательные методики в МСМ.

Слайд 2

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 2 Магнитно-силовой микроскоп (МСМ) был изобретен И. Мартином и К. Викрамасингхом в 1987 г. для исследования локальных магнитных свойств образцов. Данный прибор представляет собой атомно-силовой микроскоп, у которого зонд покрыт слоем ферромагнитного материала с удельной намагниченностью M(r). Принцип действия МСМ

Слайд 3

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 3 В общем случае описание взаимодействия зонда МСМ с полем образца H(r) представляет собой достаточно сложную задачу. В качестве простейшей модели рассмотрим зонд МСМ в виде одиночного магнитного диполя, характеризующегося магнитным моментом . Потенциальная энергия такой системы U = –H. В поле H на магнитный диполь действует сила f = –gradU и момент сил N = [H]. В однородном магнитном поле сила f = 0, так что на диполь действует лишь момент сил, который разворачивает магнитный момент  вдоль поля. В неоднородном поле диполь втягивается в область с большей напряженностью H.

Слайд 4

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 4 В общем случае магнитный момент зонда МСМ можно представить как суперпозицию диполей вида M(r)dV, где M(r) – удельная намагниченность магнитного покрытия. Взаимодействие зонда МСМ с магнитным полем образца

Слайд 5

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 5 Полная энергия магнитного взаимодействия зонда и образца в соответствие с предыдущим рисунком может быть представлена в следующем виде: где интегрирование проводится по магнитному слою зонда. Отсюда сила взаимодействия зонда с полем образца Соответственно z-компонента силы:

Слайд 6

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 6 Квазистатические методики Для образцов, имеющих слабо развитый рельеф поверхности. МСМ изображение поверхности получают следующим образом. Во время сканирования зондовый датчик перемещается над образцом на некотором расстоянии h = const. При этом величина изгиба кантилевера, регистрируемая оптической системой, записывается в виде МСМ изображения F(x,y), представляющего собой распределение силы магнитного взаимодействия зонда с образцом.

Слайд 7

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 7 Для исследований магнитных образцов с сильно развитым рельефом поверхности применяется двухпроходная методика. В каждой строке сканирования производится следующая процедура. На первом проходе снимается АСМ изображение рельефа в контактном или полуконтактном режиме. Затем зондовый датчик отводится от поверхности на расстояние z0, и осуществляется повторное сканирование

Слайд 8

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 8 Расстояние z0 выбирается таким образом, чтобы сила Ван-дер-Ваальса была меньше силы магнитного взаимодействия. На втором проходе датчик перемещается над поверхностью по траектории, повторяющей рельеф образца. Поскольку в этом случае локальное расстояние между зондовым датчиком и поверхностью в каждой точке постоянно, изменения изгиба кантилевера в процессе сканирования связаны с неоднородностью магнитных сил, действующих на зонд со стороны образца. Таким образом, итоговый МСМ кадр представляет собой двумерную функцию F(x,y), характеризующую распределение силы магнитного взаимодействия зонда с образцом.

Слайд 9

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 9 Колебательные методики Применение колебательных методик в магнитно-силовой микроскопии позволяет реализовать большую (по сравнению с квазистатическими методиками) чувствительность и получать более качественные МСМ изображения образцов. Как было показано в лекции, посвященной бесконтактной методике АСМ, наличие градиента силы приводит к изменению резонансной частоты, а следовательно, к сдвигу АЧХ и ФЧХ системы зонд-образец. Данные изменения резонансных свойств системы используются для получения информации о неоднородном распределении намагниченности на поверхности образцов. В случае магнитного взаимодействия зонда с поверхностью сдвиг резонансной частоты колеблющегося кантилевера будет определяться производной по координате z от величины Fz

Слайд 10

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 10 Для получения МСМ изображения поверхности используется двухпроходная методика. С помощью пьезовибратора возбуждаются колебания кантилевера на частоте ω вблизи резонанса. На первом проходе в полуконтактном режиме записывается рельеф поверхности. На втором проходе зондовый датчик движется над образцом по траектории, соответствующей рельефу, так, что расстояние между ним и поверхностью в каждой точке равно величине z0 = const, определяемой оператором. МСМ изображение формируется посредством регистрации изменений амплитуды или фазы колебаний кантилевера.

Слайд 11

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 11 Изменения амплитуды и сдвиг фазы колебаний, связанные с вариациями градиента силы, при условии, что изменения Fz' вдоль поверхности невелики, будут равны Коэффициенты перед ΔFz' определяют чувствительность амплитудного и фазового методов измерения. Максимум чувствительности достигается при определенных частотах возбуждения кантилевера.

Слайд 12

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 12 МСМ изображения поверхности магнитного диска. (а) – АСМ изображение рельефа поверхности; (б) – МСМ изображение фазового контраста; (в) – МСМ изображение амплитудного контраста; (г) – МСМ изображение распределения силы взаимодействия зонда с поверхностью.

Слайд 13

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 13 МСМ изображение массива магнитных наночастиц, сформированных методом интерференционного лазерного отжига пленок Fe-Cr

Слайд 14

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 14 Недостатком контактных АСМ методик является непосредственное механическое взаимодействие зонда с поверхностью. Это часто приводит к поломке зондов и разрушению поверхности образцов. Кроме того, контактные методики практически не пригодны для исследования образцов, обладающих малой механической жесткостью (структуры на основе ряда органических материалов и многие биологические объекты). Для исследования таких образцов применяются колебательные АСМ методики, основанные на регистрации параметров взаимодействия колеблющегося кантилевера с поверхностью. Данные методики позволят существенно уменьшить механическое воздействие зонда на поверхность в процессе сканирования.

Слайд 15

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 15 Точное описание колебаний кантилевера зондового датчика АСМ представляет собой весьма сложную математическую задачу. С целью упрощения задачи, рассмотрим процессы, происходящие при взаимодействии колеблющегося кантилевера с поверхностью, в рамках модели сосредоточенной массы. Пусть имеется кантилевер в виде упругой консоли с жесткостью k, с сосредоточенной массой m на одном конце. Другой конец консоли закреплен на пьезовибраторе ПВ

Слайд 16

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 16 Если пьезовибратор совершает гармонические колебания u = u0cosωt с частотой ω, тогда уравнение движения такой колебательной системы имеет вид где член, пропорциональный первой производной по времени, учитывает силы вязкого трения со стороны воздуха, а посредством F0 обозначена сила тяжести и другие возможные постоянные силы. Как известно, постоянная сила лишь смещает положение равновесия системы и не влияет на частоту, амплитуду и фазу колебаний. Делая замену переменных z = z + F0/k (т.е. рассматривая колебания относительно нового состояния равновесия), можно привести уравнение движения кантилевера к виду:

Слайд 17

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 17 Разделив уравнение на m и введя параметр добротности системы Q = 0m/γ, получим уравнение движения в следующем виде: Амплитудно-частотная (АЧХ) и фазо-частотная (ФЧХ) характеристики кантилевера, отвечающие данному уравнению Величина rd, определяющая сдвиг относительно резонансной частоты 0 находится из соотношения rd2 = 02(1 – 1/2Q2).

Слайд 18

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 18 В бесконтактном режиме кантилевер совершает вынужденные колебания с малой амплитудой порядка 1 нм. При приближении зонда к поверхности на кантилевер начинает действовать дополнительная сила со стороны образца. При ван-дер-ваальсовом взаимодействии это соответствует области расстояний между зондом и образцом, где действует сила притяжения. Появление такой дополнительной силы немного модифицирует вышеприведенные уравнения и в результате АЧХ и ФЧХ приобретают вид Дополнительный сдвиг фазы при наличии градиента силы

Слайд 19

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 19 Регистрация изменения амплитуды и фазы колебаний кантилевера в бесконтактном режиме требует высокой чувствительности и устойчивости работы обратной связи. На практике чаще используется т.н. полуконтактный режим колебаний кантилевера. При работе в этом режиме возбуждаются вынужденные колебания кантилевера вблизи резонанса с амплитудой порядка 10 – 100 нм. Кантилевер подводится к поверхности так, чтобы в нижнем полупериоде колебаний происходило касание поверхности образца. При сканировании образца регистрируется изменение амплитуды и фазы колебаний кантилевера.

Слайд 20

Описание слайда:

Лекция 22 Слайд 20 Формирование АСМ изображения поверхности в режиме колебаний кантилевера происходит следующим образом. С помощью пьезовибратора возбуждаются колебания кантилевера на частоте ω (близкой к резонансной частоте кантилевера) с амплитудой Аω. При сканировании система обратной связи АСМ поддерживает постоянной амплитуду колебаний кантилевера на уровне A0, задаваемом оператором (A0 < Аω). Напряжение в петле обратной связи (на z-электроде сканера) записывается в память компьютера в качестве АСМ изображения рельефа поверхности. Одновременно при сканировании образца в каждой точке регистрируется изменение фазы колебаний кантилевера, которое записывается в виде распределения фазового контраста.