Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи

Нажмите для полного просмотра!

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №2

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №3

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №4

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №5

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №6

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №7

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №8

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №9

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №10

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №11

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №12

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №13

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №14

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №15

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №16

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №17

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №18

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №19

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №20

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №21

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №22

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №23

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №24

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №25

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №26

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №27

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №28

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №29

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №30

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №31

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №32

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №33

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №34

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №35

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи, слайд №36

Содержание ▲

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи. Доклад-сообщение содержит 36 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1

Описание слайда:

Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи Лекція №8 30.03.16

Слайд 2

Описание слайда:

Методи дослідження наносистем: 2.Дифракційні методи:

Слайд 3

Описание слайда:

Методи дослідження поверхні

Слайд 4

Описание слайда:

Дифракційні методи для наносистем: Завдання рентгеноструктурного аналізу нанокристалів: 1.Атомна структура наночастинок (наноблоків). 2.Форма наночастинок (наноблоков). 3.Размір часточок, параметри розподілу по розмірам 4. Наноструктура –структура міжблочних границь.

Слайд 5

Описание слайда:

Нанокристал:

Слайд 6

Описание слайда:

Методи рентгенографічного аналізу наносистем

Слайд 7

Описание слайда:

Малокутове рентгенівське розсіювання

Слайд 8

Описание слайда:

Вплив дефектів на ширину ліній

Слайд 9

Описание слайда:

Малокутове рентгенівське розсіювання

Слайд 10

Описание слайда:

Фактори впливу на ширину ліній

Слайд 11

Описание слайда:

Дифракція електронів для дослідження поверхні:

Слайд 12

Описание слайда:

Дифракція повільних електронів

Слайд 13

Описание слайда:

Дифракція швидких електронів

Слайд 14

Описание слайда:

Нейтронна дифракція по часу прольоту

Слайд 15

Описание слайда:

Рентгенівська та фотоелектронна спектроскопія

Слайд 16

Описание слайда:

Рентгенівська спектроскопія поглинання X-ray Absorption Fine Structure (XAFS)

Слайд 17

Описание слайда:

Локальна структура плівок GaAs

Слайд 18

Описание слайда:

XAFS – спектри фулеренів

Слайд 19

Описание слайда:

Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія Області застосування: Якісний і кількісний аналіз поверхні (всі елементи, починаючи з He); аналіз ступеня окиснення виявлених елементів; вивчення зонної структури твердого тіла; дослідження розподілу ступенів окиснення по глибині (профілювання) і по поверхні (картування); вивчення реакцій на поверхні, зокрема, каталізу; аналіз домішок і дефектів та ін.

Слайд 20

Описание слайда:

Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія: оглядовий спектр

Слайд 21

Описание слайда:

Вторинний спектр: природа сателітів

Слайд 22

Описание слайда:

Стан Оксигену на срібних наноплівках

Слайд 23

Описание слайда:

Електронна Оже-спектроскопія

Слайд 24

Описание слайда:

Оже-переходи. Точки, що мають інтенсивніший чорний колір, є найімовірніші Оже-переходи

Слайд 25

Описание слайда:

Оже-спектроскопія наноалмазів

Слайд 26

Описание слайда:

Слайд 27

Описание слайда:

Діагностика складу приповерхневих шарів наносистем

Слайд 28

Описание слайда:

ІЧ та Раманівська спектроскопія

Слайд 29

Описание слайда:

Фізико-хімічні характеристики наносистем

Слайд 30

Описание слайда:

Іммобілізація продуктів відновлення сульфід-йоном Au3+

Слайд 31

Описание слайда:

Комплексне застосування фізико-хімічних методів дослідження на прикладі полішарових плівок

Слайд 32

Описание слайда:

Комплексне застосування фізико-хімічних методів дослідження на прикладі полішарових плівок

Слайд 33

Описание слайда:

Слайд 34

Описание слайда:

Встановлення механізму витіснення наночасточок золота

Слайд 35

Описание слайда:

Короткі нотатки: 1. Дифракційні методи аналізу включають дифракцію рентгенівського випромінювання, нейтронографію та дифракцію повільних та швидких електронів. Користуючись цими методами встановлюють атомну будову поверхні твердих зразків, аналізують шорсткість та середній розмір наночасточок. 2. При взаємодії рентгенівського випромінювання з атомами можлива реалізація трьох процесів: фотоіонізації, флуоресценції, Оже-процесу. 3. Рентгенівська та фотоелектронна спектроскопія вивчає електронні переходи за участю валентних та внутрішніх електронів для встановлення ближнього та дальнього порядку, зарядового стану атомів. 4. У спектрах рентгенівської фотоелектронної спектроскопії крім характеристичних смуг спостерігаються елементи вторинної структури: рентгенівські сателіти, мультиплетне розширення та ін. 5. Оже - спектроскопія хоча і має обмеження, однак може бути використана і для кількісного аналізу.

Слайд 36

Описание слайда:

Рекомендована література: С.В. Цыбуля, С.В. Черепанова // Введение в структурный анализ нанокристаллов – Новосибирск, - 2008 – 92с. Суздалев И.П. Нанотехнология: Физико-химия нанокластеров, наноструктур и наноматериаллов // М: ЛИБРОКОМ, 2009, 592с. Уиндзор К. Рассеяние нейтронов от импульсных источников, М.Энергоатомиздат, 1985. Аксенов В.Л., Тютюнников С.И., Кузьмин А.Ю., Пуранс Ю. EXAFS – спектроскопия на пучках синхротронного излучения // Физика элементарных частиц и атомного ядра - 2001 – том 32, вып. №6 – с. 1299 – 1358. Н.А.Петров, Л.В.Яшина. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия // Москва, МГУ, 2011. 6. В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела / Под ред. В.Д. Бормана: Учебное пособие. – М.: МИФИ, 2008. – 260 с.