🗊 Презентация Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия

Категория: Физика
Нажмите для полного просмотра!
Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №1 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №2 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №3 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №4 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №5 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №6 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №7 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №8 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №9 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №10 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №11 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №12 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №13 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №14 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №15 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №16 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №17 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №18 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №19 Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №20

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия. Доклад-сообщение содержит 20 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации


Слайд 1


ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин презентация к лекциям по курсу «Физические методы исследования...
Описание слайда:
ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин презентация к лекциям по курсу «Физические методы исследования поверхности и наноструктур»

Слайд 2


Лекция 1
Описание слайда:
Лекция 1

Слайд 3


Лекция 1
Описание слайда:
Лекция 1

Слайд 4


Лекция 1
Описание слайда:
Лекция 1

Слайд 5


Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №5
Описание слайда:

Слайд 6


Лекция 1
Описание слайда:
Лекция 1

Слайд 7


Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №7
Описание слайда:

Слайд 8


Лекция 2
Описание слайда:
Лекция 2

Слайд 9


Лекция 2
Описание слайда:
Лекция 2

Слайд 10


Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №10
Описание слайда:

Слайд 11


Лекция 2
Описание слайда:
Лекция 2

Слайд 12


Лекция 2
Описание слайда:
Лекция 2

Слайд 13


Лекция 3
Описание слайда:
Лекция 3

Слайд 14


Оже-электронный спектрометр PHI-680 (США) с цилиндрическим энергоанализатором
Описание слайда:
Оже-электронный спектрометр PHI-680 (США) с цилиндрическим энергоанализатором

Слайд 15


Характеристики оже-спектрометра PHI-680 - пространственное разрешение до 10 нм, - глубина анализа 0,5-5 нм, - ускоряющее напряжение 0-30 кВ, -...
Описание слайда:
Характеристики оже-спектрометра PHI-680 - пространственное разрешение до 10 нм, - глубина анализа 0,5-5 нм, - ускоряющее напряжение 0-30 кВ, - разрешение по энергии 0.5%, - чувствительность 0,3-1,5 ат.% при идентификации всех химических элементов, кроме водорода и гелия.

Слайд 16


Лекция 4 Kинетическая энергия оже-электрона: KE ≈ BE(L2) - BE(L3)- BE (M*) ВЕ – энергия связи электрона (относительно уровня Ферми), IP – потенциал...
Описание слайда:
Лекция 4 Kинетическая энергия оже-электрона: KE ≈ BE(L2) - BE(L3)- BE (M*) ВЕ – энергия связи электрона (относительно уровня Ферми), IP – потенциал ионизации (относительно уровня вакуума) Переход Костера-Кронига происходит если: KEКК>0 => BE(L2)-BE(L3) > BE(M*) Для меди: Металл: BE(L2)-BE(L3) = ΔBE(2p) = 19.8 эВ BE (M*) = E(3d) =10.2 эВ ΔBE(2p) > E(3d) -> переход КK есть Атом: IP играет роль BЕ IP(3d) ≈ 20 эВ ∆E < IР -> перехода КК нет => Для нанокластеров Cu процесс Костера-Кронига можно использовать для наблюдения перехода металл-неметалл!

Слайд 17


Лекция 4
Описание слайда:
Лекция 4

Слайд 18


Лекция 4
Описание слайда:
Лекция 4

Слайд 19


Электронная оже-микроскопия: изображения участка поверхности образца с микрочастицами Fe во вторичных электронах и карты распределения элементов C,...
Описание слайда:
Электронная оже-микроскопия: изображения участка поверхности образца с микрочастицами Fe во вторичных электронах и карты распределения элементов C, S, Fe, Na, O.

Слайд 20


Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №20
Описание слайда:



Похожие презентации
Mypresentation.ru
Загрузить презентацию