🗊Презентация Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия

Категория: Физика
Нажмите для полного просмотра!
Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №1Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №2Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №3Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №4Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №5Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №6Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №7Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №8Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №9Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №10Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №11Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №12Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №13Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №14Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №15Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №16Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №17Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №18Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №19Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №20

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия. Доклад-сообщение содержит 20 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации


Слайд 1





 
ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ

 В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин

презентация к лекциям по курсу «Физические методы исследования поверхности и наноструктур»
Описание слайда:
ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин презентация к лекциям по курсу «Физические методы исследования поверхности и наноструктур»

Слайд 2





Лекция 1
Описание слайда:
Лекция 1

Слайд 3





Лекция 1
Описание слайда:
Лекция 1

Слайд 4





Лекция 1
Описание слайда:
Лекция 1

Слайд 5


Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №5
Описание слайда:

Слайд 6





Лекция 1
Описание слайда:
Лекция 1

Слайд 7


Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №7
Описание слайда:

Слайд 8





Лекция 2
Описание слайда:
Лекция 2

Слайд 9





Лекция 2
Описание слайда:
Лекция 2

Слайд 10


Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №10
Описание слайда:

Слайд 11





Лекция 2
Описание слайда:
Лекция 2

Слайд 12





Лекция 2
Описание слайда:
Лекция 2

Слайд 13





Лекция 3
Описание слайда:
Лекция 3

Слайд 14





Оже-электронный спектрометр PHI-680 (США) с цилиндрическим энергоанализатором
Описание слайда:
Оже-электронный спектрометр PHI-680 (США) с цилиндрическим энергоанализатором

Слайд 15





Характеристики оже-спектрометра PHI-680 
- пространственное разрешение до 10 нм, 
- глубина анализа 0,5-5 нм, 
- ускоряющее напряжение 0-30 кВ, 
- разрешение по энергии 0.5%, 
- чувствительность 0,3-1,5 ат.% при идентификации всех химических элементов, кроме водорода и гелия.
Описание слайда:
Характеристики оже-спектрометра PHI-680 - пространственное разрешение до 10 нм, - глубина анализа 0,5-5 нм, - ускоряющее напряжение 0-30 кВ, - разрешение по энергии 0.5%, - чувствительность 0,3-1,5 ат.% при идентификации всех химических элементов, кроме водорода и гелия.

Слайд 16





Лекция 4

Kинетическая энергия оже-электрона:
KE ≈ BE(L2) - BE(L3)- BE (M*) 
ВЕ – энергия связи электрона (относительно уровня Ферми), 
IP – потенциал ионизации (относительно уровня вакуума)

Переход Костера-Кронига происходит если:

KEКК>0  =>  BE(L2)-BE(L3) > BE(M*)
Для меди:
Металл:
BE(L2)-BE(L3) = ΔBE(2p) = 19.8 эВ 
BE (M*) = E(3d) =10.2 эВ 		ΔBE(2p) > E(3d)  ->  переход КK есть 

Атом: 
IP играет роль BЕ
IP(3d) ≈ 20 эВ			∆E < IР  ->  перехода КК нет
=> Для нанокластеров Cu процесс Костера-Кронига можно использовать для наблюдения перехода металл-неметалл!
Описание слайда:
Лекция 4 Kинетическая энергия оже-электрона: KE ≈ BE(L2) - BE(L3)- BE (M*) ВЕ – энергия связи электрона (относительно уровня Ферми), IP – потенциал ионизации (относительно уровня вакуума) Переход Костера-Кронига происходит если: KEКК>0 => BE(L2)-BE(L3) > BE(M*) Для меди: Металл: BE(L2)-BE(L3) = ΔBE(2p) = 19.8 эВ BE (M*) = E(3d) =10.2 эВ ΔBE(2p) > E(3d) -> переход КK есть Атом: IP играет роль BЕ IP(3d) ≈ 20 эВ ∆E < IР -> перехода КК нет => Для нанокластеров Cu процесс Костера-Кронига можно использовать для наблюдения перехода металл-неметалл!

Слайд 17





Лекция 4
Описание слайда:
Лекция 4

Слайд 18





Лекция 4
Описание слайда:
Лекция 4

Слайд 19





Электронная оже-микроскопия: изображения участка поверхности образца с микрочастицами Fe во вторичных электронах и карты распределения элементов C, S, Fe, Na, O.
Описание слайда:
Электронная оже-микроскопия: изображения участка поверхности образца с микрочастицами Fe во вторичных электронах и карты распределения элементов C, S, Fe, Na, O.

Слайд 20


Физические методы исследования поверхности и наноструктур. ОЖЕ-электронная спектроскопия, слайд №20
Описание слайда:



Похожие презентации
Mypresentation.ru
Загрузить презентацию