🗊Презентация Оже-электронная спектроскопия

Категория: Технология
Нажмите для полного просмотра!
Оже-электронная спектроскопия, слайд №1Оже-электронная спектроскопия, слайд №2Оже-электронная спектроскопия, слайд №3Оже-электронная спектроскопия, слайд №4Оже-электронная спектроскопия, слайд №5Оже-электронная спектроскопия, слайд №6Оже-электронная спектроскопия, слайд №7Оже-электронная спектроскопия, слайд №8Оже-электронная спектроскопия, слайд №9Оже-электронная спектроскопия, слайд №10Оже-электронная спектроскопия, слайд №11

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Оже-электронная спектроскопия. Доклад-сообщение содержит 11 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации


Слайд 1





Оже-электронная спектроскопия
Описание слайда:
Оже-электронная спектроскопия

Слайд 2





Электронная Оже-спектроскопия — метод анализа строения вещества по энергетическим спектрам электронов, возникающих в результате оже-эффекта, проявляющегося при облучения образца высокоэнергетическими пучками.
Электронная Оже-спектроскопия — метод анализа строения вещества по энергетическим спектрам электронов, возникающих в результате оже-эффекта, проявляющегося при облучения образца высокоэнергетическими пучками.
Описание слайда:
Электронная Оже-спектроскопия — метод анализа строения вещества по энергетическим спектрам электронов, возникающих в результате оже-эффекта, проявляющегося при облучения образца высокоэнергетическими пучками. Электронная Оже-спектроскопия — метод анализа строения вещества по энергетическим спектрам электронов, возникающих в результате оже-эффекта, проявляющегося при облучения образца высокоэнергетическими пучками.

Слайд 3





Метод выделения полезного сигнала
Описание слайда:
Метод выделения полезного сигнала

Слайд 4





Энергоанализатор типа “цилиндрическое зеркало”
Описание слайда:
Энергоанализатор типа “цилиндрическое зеркало”

Слайд 5





КОЛИЧЕСТВЕННАЯ ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ
Выражение, связывающее ток Ii оже-электронов, эмитируемых твердым телом под углом θ к его поверхности, и концентрацию атомов в твердом теле Ni (i – индекс элемента):

  Ii = const ⋅ IP ⋅ Gi ⋅ Ni ⋅ σi ⋅ (1 − ωi) ⋅ Ri ⋅ λi ⋅ sec θ
Описание слайда:
КОЛИЧЕСТВЕННАЯ ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ Выражение, связывающее ток Ii оже-электронов, эмитируемых твердым телом под углом θ к его поверхности, и концентрацию атомов в твердом теле Ni (i – индекс элемента): Ii = const ⋅ IP ⋅ Gi ⋅ Ni ⋅ σi ⋅ (1 − ωi) ⋅ Ri ⋅ λi ⋅ sec θ

Слайд 6





Метод эталонов
Для реализации метода эталонов необходим контрольный образец с идентичной матрицей и известной концентрацией атомов исследуемого элемента. 
Концентрация атомов в твердом теле
Описание слайда:
Метод эталонов Для реализации метода эталонов необходим контрольный образец с идентичной матрицей и известной концентрацией атомов исследуемого элемента. Концентрация атомов в твердом теле

Слайд 7





Метод, учитывающий факторы элементной чувствительности
Относительная атомная концентрация Сх (выраженная в долях единицы) для атомов любого сорта:
Описание слайда:
Метод, учитывающий факторы элементной чувствительности Относительная атомная концентрация Сх (выраженная в долях единицы) для атомов любого сорта:

Слайд 8





Спектр оже-электронов от поверхности нержавеющей стали
В результате расчета получены следующие концентрации компонентов в относительных единицах: Fe 0,68(0,702), Ni 0,09(0,093), Сr 0,22(0,205).
Описание слайда:
Спектр оже-электронов от поверхности нержавеющей стали В результате расчета получены следующие концентрации компонентов в относительных единицах: Fe 0,68(0,702), Ni 0,09(0,093), Сr 0,22(0,205).

Слайд 9





Преимущества:
очень малая глубина анализа (обычно не превышает 2–3 нм);
высокая чувствительность при проведении элементного анализа приповерхностной области толщиной 5–20 Å; 
возможность обнаружения всех элементов, следующих за гелием в таблице Менделеева.
Описание слайда:
Преимущества: очень малая глубина анализа (обычно не превышает 2–3 нм); высокая чувствительность при проведении элементного анализа приповерхностной области толщиной 5–20 Å;  возможность обнаружения всех элементов, следующих за гелием в таблице Менделеева.

Слайд 10





ПРИМЕНЕНИЕ ОЭС
Традиционные области применения ОЭС – изучение процессов адсорбции и десорбции на поверхностях твердых тел, коррозии, контроль за чистотой поверхности в различных технологических процессах.
Описание слайда:
ПРИМЕНЕНИЕ ОЭС Традиционные области применения ОЭС – изучение процессов адсорбции и десорбции на поверхностях твердых тел, коррозии, контроль за чистотой поверхности в различных технологических процессах.

Слайд 11


Оже-электронная спектроскопия, слайд №11
Описание слайда:



Похожие презентации
Mypresentation.ru
Загрузить презентацию