🗊Презентация Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ

Категория: Физика
Нажмите для полного просмотра!
Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №1Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №2Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №3Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №4Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №5Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №6Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №7Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №8Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №9Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №10Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №11Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №12Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №13Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №14Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №15Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №16Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №17Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №18Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №19Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №20Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ, слайд №21

Содержание

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Ренгтенфлуоресценттік спектральді анализ. Доклад-сообщение содержит 21 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации


Слайд 1





РЕНГТЕНФЛУОРЕСЦЕНТТІК СПЕКТРАЛЬДІ АНАЛИЗ
Орындаған: Карина Айгерим
Описание слайда:
РЕНГТЕНФЛУОРЕСЦЕНТТІК СПЕКТРАЛЬДІ АНАЛИЗ Орындаған: Карина Айгерим

Слайд 2





Ренгтенфлуоресценттік анализ
Рентгенофлуоресценттік әдіс элементтік құрамды анықтайтын инструментальді әдісіне жатады. B мен U диапазон аралығында заттардың орналасу формасына тәуелсіз анықтайды. Анықтайтын құрамның ең  көп таралған диапазоны n*0,0001% мен 100% аралығы. Концентрлеу әдістерін қолдану көп жағдайда анықтау шегін ә сатыға төмендеуге мүмкіндік береді.
Описание слайда:
Ренгтенфлуоресценттік анализ Рентгенофлуоресценттік әдіс элементтік құрамды анықтайтын инструментальді әдісіне жатады. B мен U диапазон аралығында заттардың орналасу формасына тәуелсіз анықтайды. Анықтайтын құрамның ең көп таралған диапазоны n*0,0001% мен 100% аралығы. Концентрлеу әдістерін қолдану көп жағдайда анықтау шегін ә сатыға төмендеуге мүмкіндік береді.

Слайд 3





Ренгтенфлуоресценттік әдістің физикалық негізі
«Рентген-». Ренгтендік түтікшемен алынатын ренгтендік сәулелену қолданылады. Қазіргі ренгтенфлуоресценттік әдіспен жұмыс жасайтын құрылғылардың барлығы бір жолата көпшілікке қолдануға арналған. Біріншілік сәулелену ретінде ренгтендік трубка  
Описание слайда:
Ренгтенфлуоресценттік әдістің физикалық негізі «Рентген-». Ренгтендік түтікшемен алынатын ренгтендік сәулелену қолданылады. Қазіргі ренгтенфлуоресценттік әдіспен жұмыс жасайтын құрылғылардың барлығы бір жолата көпшілікке қолдануға арналған. Біріншілік сәулелену ретінде ренгтендік трубка  

Слайд 4





Ренгтенфлуоресценттік әдістің физикалық негізі
«Флуоресценттік». Бұл жерде флуоресцентті сынама атомдардың қолданылуын түсінеміз – яғни, толқын ұзындығы облысындағы біріншілік сәулелену әсерінен пайда болған екіншілік ренгтендік сәулелену.
Описание слайда:
Ренгтенфлуоресценттік әдістің физикалық негізі «Флуоресценттік». Бұл жерде флуоресцентті сынама атомдардың қолданылуын түсінеміз – яғни, толқын ұзындығы облысындағы біріншілік сәулелену әсерінен пайда болған екіншілік ренгтендік сәулелену.

Слайд 5





Флуоресценттік сәулелену қалай қозады?
Бірінщілік сәулелену мен сынаманың әсерлесу нәтижесінде біріншілік кванттардың сынаманы құрайтын атом элементтерінде шашырауы немесе атомдық ішкі қабатшасындағы электронның жоюлуы болады.  Соңғы жағдайда атом қозған күйге өтеді. Энергиянық артықшылығы флуоресцентті сәлеленетін квант түрінде айқындалады.
Описание слайда:
Флуоресценттік сәулелену қалай қозады? Бірінщілік сәулелену мен сынаманың әсерлесу нәтижесінде біріншілік кванттардың сынаманы құрайтын атом элементтерінде шашырауы немесе атомдық ішкі қабатшасындағы электронның жоюлуы болады. Соңғы жағдайда атом қозған күйге өтеді. Энергиянық артықшылығы флуоресцентті сәлеленетін квант түрінде айқындалады.

Слайд 6





Флуоресценттік сәулелену қалай қозады?
Описание слайда:
Флуоресценттік сәулелену қалай қозады?

Слайд 7





Әрі қарай процесс қалай жүреді?
Қабатшалардың біреуіндегі пайда болған вакансия атомның кез-келген энергетикалық деңгейіндегі электронмен толу мүмкін. Осындай өту кезіндегі пайда болатын спектрдің барлық түзулері тағы осылай берілген (K, L, M, N, O, P) түзуді түзеді. К-бөлімнің сызығы – ең қысқа толқынды, және ары қарай өсу кезегімен болады. Әр химиялық элементтің элементі қатаң түрде белгілі бір энергиямен квант түзеді. Сол үшін екіншілік сәулеленуді характерлік деп атайды.
Описание слайда:
Әрі қарай процесс қалай жүреді? Қабатшалардың біреуіндегі пайда болған вакансия атомның кез-келген энергетикалық деңгейіндегі электронмен толу мүмкін. Осындай өту кезіндегі пайда болатын спектрдің барлық түзулері тағы осылай берілген (K, L, M, N, O, P) түзуді түзеді. К-бөлімнің сызығы – ең қысқа толқынды, және ары қарай өсу кезегімен болады. Әр химиялық элементтің элементі қатаң түрде белгілі бір энергиямен квант түзеді. Сол үшін екіншілік сәулеленуді характерлік деп атайды.

Слайд 8





Екіншілік сәулеленудің бейнесі
Описание слайда:
Екіншілік сәулеленудің бейнесі

Слайд 9





Екіншілік сәулеленудің сипаттамасы
Белгілі толқын ұзындығына сәкес келетін екіншілік сәулелену спектрометр конструкциясына байланысты әр түрлі әдістермен анықталады және құрылғының датчигімен тіркеледі. Датчиктің электрлік импульстердің жылдамдығы (имп/с) датчикте анықталып жатқан ренгтендік сәулеленудің квант ағынына пропорционал (квант/с) және спектрометрдің аналитикалық сигналы болып табылады (суретте көрсетілген)
Описание слайда:
Екіншілік сәулеленудің сипаттамасы Белгілі толқын ұзындығына сәкес келетін екіншілік сәулелену спектрометр конструкциясына байланысты әр түрлі әдістермен анықталады және құрылғының датчигімен тіркеледі. Датчиктің электрлік импульстердің жылдамдығы (имп/с) датчикте анықталып жатқан ренгтендік сәулеленудің квант ағынына пропорционал (квант/с) және спектрометрдің аналитикалық сигналы болып табылады (суретте көрсетілген)

Слайд 10





Екіншілік сәулеленудегі квант ағыны
Описание слайда:
Екіншілік сәулеленудегі квант ағыны

Слайд 11





Ренгтенфлуоресценттік әдістің жмыс істеу принципін қорытындылау
Атомның элемент номері мен характеистикалық энергияның сәкес келуі сынаманың құрамына кіретін элементтерді анықтауға мүмкіндік береді. Яғни, сапалық анализ орындалады. Характеристикалық сәулеленудің Қарқындылығы (квант мөлшері) және сынамадағы элементтердің болуының тәуелділігі сапалық анализді орындауға мүмкіндік береді.
Описание слайда:
Ренгтенфлуоресценттік әдістің жмыс істеу принципін қорытындылау Атомның элемент номері мен характеистикалық энергияның сәкес келуі сынаманың құрамына кіретін элементтерді анықтауға мүмкіндік береді. Яғни, сапалық анализ орындалады. Характеристикалық сәулеленудің Қарқындылығы (квант мөлшері) және сынамадағы элементтердің болуының тәуелділігі сапалық анализді орындауға мүмкіндік береді.

Слайд 12





РФА приборларының негізгі түрлері
Өндірісте қолданылатын ренгтенфлуоресценттік анализөткізетін құрылғылар 2 типке бөлінеді:
Толқындық дисперсиялы спектрометрлер (wavelength-dispersive spectrometers - WDS)
Энергетикалық дисперсиялы спектрометрлер (energy-dispersive spectrometers - EDS)
Описание слайда:
РФА приборларының негізгі түрлері Өндірісте қолданылатын ренгтенфлуоресценттік анализөткізетін құрылғылар 2 типке бөлінеді: Толқындық дисперсиялы спектрометрлер (wavelength-dispersive spectrometers - WDS) Энергетикалық дисперсиялы спектрометрлер (energy-dispersive spectrometers - EDS)

Слайд 13





Толқындық дисперсиялы спектрометрлер (wavelength-dispersive spectrometers - WDS)

Құрылғының бұл типінде екіншілік сәулеленудің белгілі толқын ұзындығымен бөлінуі үшін кристалдық тордағы ренгтендік сәуеленудің дифракциясын қолданады. Кристалл-дифракционды әдіс арқасында ренгтендік сәулеленудің тарауы немесе кеңеюі көпкомпонентті күрделі сынаманың анализін орындауға мүмкіндігі бар. Яғни спектральді түзулерді ажырата алады.
Описание слайда:
Толқындық дисперсиялы спектрометрлер (wavelength-dispersive spectrometers - WDS) Құрылғының бұл типінде екіншілік сәулеленудің белгілі толқын ұзындығымен бөлінуі үшін кристалдық тордағы ренгтендік сәуеленудің дифракциясын қолданады. Кристалл-дифракционды әдіс арқасында ренгтендік сәулеленудің тарауы немесе кеңеюі көпкомпонентті күрделі сынаманың анализін орындауға мүмкіндігі бар. Яғни спектральді түзулерді ажырата алады.

Слайд 14





Толқындық дисперсиялы спектрометрлер (wavelength-dispersive spectrometers - WDS)
Описание слайда:
Толқындық дисперсиялы спектрометрлер (wavelength-dispersive spectrometers - WDS)

Слайд 15





Энергетикалық дисперсиялы спектрометрлер (energy-dispersive spectrometers - EDS)

Құрылғының бұл типінде екіншілік әулеленуді тіркеу үшін арнайы детекторлер қолданылады. Олардң сигналы ренгтендік сәулеленуге пропорционал болып келеді, яғни бұл амплитудтік селекцияны қолдана отырып спектрдің қажет аймағын анықтай алады. Бұл құрылғыларда көрші спектральді түзулерді қабаттасуы жөнінде едәуір деңгейі бар. Сондықтан, көпкомпонентті күрделі заттардың анықтауын қиындатып,  аналитикалық нәтижелердің дәлдігін нашарлатады.
Описание слайда:
Энергетикалық дисперсиялы спектрометрлер (energy-dispersive spectrometers - EDS) Құрылғының бұл типінде екіншілік әулеленуді тіркеу үшін арнайы детекторлер қолданылады. Олардң сигналы ренгтендік сәулеленуге пропорционал болып келеді, яғни бұл амплитудтік селекцияны қолдана отырып спектрдің қажет аймағын анықтай алады. Бұл құрылғыларда көрші спектральді түзулерді қабаттасуы жөнінде едәуір деңгейі бар. Сондықтан, көпкомпонентті күрделі заттардың анықтауын қиындатып, аналитикалық нәтижелердің дәлдігін нашарлатады.

Слайд 16





Энергетикалық дисперсиялы спектрометрлер (energy-dispersive spectrometers - EDS)
Описание слайда:
Энергетикалық дисперсиялы спектрометрлер (energy-dispersive spectrometers - EDS)

Слайд 17





Ренгтенфлуоресценттік әдістің артықшылығы
Описание слайда:
Ренгтенфлуоресценттік әдістің артықшылығы

Слайд 18





Ренгтенфлуоресценттік әдістің артықшылығы
1. Қатты заттарды тікелей, ерітіндіге айналдырмай анализдеу мүмкіндігі.Ал сұйық сынамаларды органикалық негізінен бөлу қажетсіздігі.
2.Орындау оңайлығы және жоғары дәлдігі.
3. Сынаманы бұзбай анализ жүргізу мүмкіндігі. Бұл бір ғана экземплярдағы қалған заттарды еш зиянсыз зерттеуге болады деген сөз. 
4. Кең аналитикалық диапазон n*1,0 мг/кг-нан 100% -ға дейін еш концентрациялаусыз  және n*0,01 мг/кг концентрациялаған жағдайда.
Описание слайда:
Ренгтенфлуоресценттік әдістің артықшылығы 1. Қатты заттарды тікелей, ерітіндіге айналдырмай анализдеу мүмкіндігі.Ал сұйық сынамаларды органикалық негізінен бөлу қажетсіздігі. 2.Орындау оңайлығы және жоғары дәлдігі. 3. Сынаманы бұзбай анализ жүргізу мүмкіндігі. Бұл бір ғана экземплярдағы қалған заттарды еш зиянсыз зерттеуге болады деген сөз. 4. Кең аналитикалық диапазон n*1,0 мг/кг-нан 100% -ға дейін еш концентрациялаусыз және n*0,01 мг/кг концентрациялаған жағдайда.

Слайд 19





Портативті ренгтенфлуореценттік спектрометр
Описание слайда:
Портативті ренгтенфлуореценттік спектрометр

Слайд 20





Спектрометрмен орындалған спектр
Описание слайда:
Спектрометрмен орындалған спектр

Слайд 21






Назар аударғаныңызға рахмет!
 Слайдтың соңы
Описание слайда:
Назар аударғаныңызға рахмет! Слайдтың соңы



Похожие презентации
Mypresentation.ru
Загрузить презентацию