Дифракционные методы исследований наноматериалов - презентация, доклад, проект скачать

Нажмите для полного просмотра!

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №1

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №2

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №3

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №4

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №5

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №6

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №7

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №8

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №9

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №10

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №11

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №12

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №13

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №14

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №15

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №16

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №17

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №18

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №19

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №20

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №21

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №22

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №23

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №24

Дифракционные методы исследований наноматериалов, слайд №25

Содержание ▲

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Дифракционные методы исследований наноматериалов. Доклад-сообщение содержит 25 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1

Описание слайда:

Дифракционные методы исследований наноматериалов.

Слайд 2

Описание слайда:

Дифракционные методы - совокупность методов исследования атомного строения вещества, использующих дифракцию пучка фотонов, электронов или нейтронов, рассеиваемого исследуемым объектом Рентгеноструктурный анализ позволяет определять координаты атомов в трёхмерном пространстве кристаллических веществ Газовая электронография определяют геометрию свободных молекул в газах Нейтронография, в основе которой лежит рассеяние нейтронов на ядрах атомов, в отличие от первых двух методов, где используется рассеяние на электронных оболочках, Прочие методы

Слайд 3

Описание слайда:

Рентгеноструктурный анализ - один из дифракционных методов исследования структуры вещества. Основа: явление дифракции рентгеновских лучей на трёхмерной кристаллической решётке Метод позволяет определять атомную структуру вещества, включающую в себя пространственную группу элементарной ячейки, её размеры и форму, а также определить группу симметрии кристалла.

Слайд 4

Описание слайда:

РИ (X-Rays) – электромагнитное излучение с длиной волны 5*10-2 - 102 A. (E = 250 кэВ – 100 эВ). РИ (X-Rays) – электромагнитное излучение с длиной волны 5*10-2 - 102 A. (E = 250 кэВ – 100 эВ).

Слайд 5

Описание слайда:

Энергия связи электронов на низшей (К) оболочке атомов: Энергия связи электронов на низшей (К) оболочке атомов: H: 13.6 эВ, Be: 115.6 эВ, Cu: 8.983 кэВ Например, для Cu K-серии:

Слайд 6

Описание слайда:

Слайд 7

Описание слайда:

Слайд 8

Описание слайда:

Слайд 9

Описание слайда:

Рентгенография Взаимодействие рентгеновских лучей с кристаллами, частицами металлов, молекулами ведет к их рассеиванию. Из начального пучка лучей с длиной волны X ~ 0,5-5 Å возникают вторичные лучи с той же длиной волны, направление и интенсивность которых связаны со строением рассеивающего объекта. Интенсивность дифрагированного луча зависит также от размеров и формы объекта.

Слайд 10

Описание слайда:

Рентгенография Рентгенография наноструктурных материалов позволяет по уширению рентгеновских пиков достаточно надежно определить размеры зерен при величинах 2- 100 нм. Уменьшение размера зерен и увеличение микродеформаций приводят к уширению рентгеновских пиков. Степень уширения оценивается по полуширине пика или с помощью отношения интегральной интенсивности рентгеновского пика к его высоте (интегральная ширина).

Слайд 11

Описание слайда:

Слайд 12

Описание слайда:

Размер областей когерентного рассеяния (ОКР) можно рассчитать с помощью уравнения Debye-Scherrer по формуле: D ср = k · / (β*cos  ), Размер областей когерентного рассеяния (ОКР) можно рассчитать с помощью уравнения Debye-Scherrer по формуле: D ср = k · / (β*cos  ),

Слайд 13

Описание слайда:

Дифракционная картина LaMnO3, полученного золь-гель технологией, прокаленного при Т= 900С.

Слайд 14

Описание слайда:

D ср = k · / (β*cos  ), D ср = k · / (β*cos  ),

Слайд 15

Описание слайда:

Рентгенограммы материалов диоксида титана, полученных осаждением (1, 2) и золь-гель метом (3, 4), прокаленных при 500 ⁰C (3), 600 ⁰C (2,4).

Слайд 16

Описание слайда:

Наночастицы платины на углеродном носителе, размер – 4,2 нм

Слайд 17

Описание слайда:

Слайд 18

Описание слайда:

Слайд 19

Описание слайда:

Слайд 20

Описание слайда:

Слайд 21

Описание слайда:

Слайд 22

Описание слайда:

Слайд 23

Описание слайда:

Слайд 24

Описание слайда:

Нейтронография Нейтрон - частица, подходящая по своим свойствам для анализа различных материалов. Ядерные реакторы дают тепловые нейтроны с максимальной энергией 0,06 эВ, которой соответствует волна де Бройля, соизмеримая с величинами межатомных расстояний. На этом и основан метод структурной нейтронографии. Соизмеримость энергии тепловых нейтронов с тепловыми колебаниями атомов и групп молекул используют для анализа в нейтронной спектроскопии, а наличие магнитного момента является основой магнитной нейтронографии.