Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур

Нажмите для полного просмотра!

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №2

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №3

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №4

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №5

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №6

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №7

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №8

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №9

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №10

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №11

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №12

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №13

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №14

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №15

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №16

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №17

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №18

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №19

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №20

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №21

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №22

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №23

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №24

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №25

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №26

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №27

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №28

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №29

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №30

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №31

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №32

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №33

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №34

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №35

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №36

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №37

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №38

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №39

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №40

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №41

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №42

Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур, слайд №43

Содержание ▲

Вы можете ознакомиться и скачать презентацию на тему Методы лазерной дифракции в исследовании наноматериалов и наноструктур. Доклад-сообщение содержит 43 слайдов. Презентации для любого класса можно скачать бесплатно. Если материал и наш сайт презентаций Mypresentation Вам понравились – поделитесь им с друзьями с помощью социальных кнопок и добавьте в закладки в своем браузере.

Слайды и текст этой презентации

Слайд 1

Описание слайда:

Метод лазерной дифракции для исследования наноматериалов и наноструктур Лекция 1. Диагностика и методы исследования наноматериалов и наноструктур

Слайд 2

Описание слайда:

Слайд 3

Описание слайда:

Диапазоны размеров в зависимости от метода измерений

Слайд 4

Описание слайда:

Методы определения размера частиц Ситовый метод (>5мкм) Седиментационный метод (0.05-100мкм) Метод микроскопии (оптическая микроскопия(0,25-150мкм, электронная микроскопия (0.001мкм-5 мкм) Кондуктометрический метод (электрозонный или метод Культера) (0.4-1200 мкм) Метод лазерного светорассеивания (0.001-8000мкм) (Метод определения площади поверхности) и т.д.

Слайд 5

Описание слайда:

Требования Воспроизводимость Точность Скорость измерения (быстрота)

Слайд 6

Описание слайда:

Ситовый метод (Sieving) осуществляют просеиванием проб материала через набор стандартных сит с обычно квадратными, реже прямоугольными отверстиями, размер которых последовательно уменьшается сверху вниз; Число фракций, получаемых при просеивании через набор из n сит, составляет n + 1 и не должно быть менее 5 и более 20; Фракции частиц обозначают номерами сит. Напр., если класс получен последовательным просеиванием материала на ситах № 2 и №1, фракцию обозначают след. образом: — 2+1 мм; Крупные частицы анализируют сухим ситовым способом, а мелкие ( менее 100 - 150 мкм) – мокрым; Размер частиц, которые непосредственно определяются ситовым методом, составляет 5 мкм- 3 мм.

Слайд 7

Описание слайда:

Анализа осуществляют сухим либо мокрым способом; Анализа осуществляют сухим либо мокрым способом; Анализ можно производить вручную или механически; Метод сводится к определению весового процента отдельных фракций, остающихся последовательно на более мелком сите.

Слайд 8

Описание слайда:

Преимущества простота; возможность применения для частиц в широком «размерном» интервале 20мкм-125мм; дешевизна. Недостатки низкая воспроизводимость для частиц менее 100 мкм; износ и допуск; засорение сита; значение весового распределения вытянутых или игольчатых частиц оценить трудно; информация о размере даётся только для каждого отдельного сита; неприспособленность к слипшимся частицам; долгий процесс(необходимо взвешивать каждое сито).

Слайд 9

Описание слайда:

Седиментационный метод Принцип Частицы оседают в вязкой среде; Степень осаждения частиц пропорциональна их размеру; Расположение частиц различных размеров рассматривается как функция времени.

Слайд 10

Описание слайда:

Седиментационный метод Закон Стокса:

Слайд 11

Описание слайда:

Седиментационный метод Преимущества Простота аппаратурного оформления; Относительно недорогой метод; Возможность измерения частиц в широком «размерном» интервале с высокой точностью и воспроизводимостью. Недостатки Длительный метод; Некоторое завышение размеров частиц, так как крупные частицы при осаждении захватывают более мелкие; Возникает необходимость точной термостабилизации измеряемой системы; Для частиц менее 1μм Броуновское движение становится критичным параметром для движения частиц; Не приспособлен для частиц с разной плотностью; •Необходимо точно знать плотности.

Слайд 12

Описание слайда:

Кондуктометрический (электрозонный метод)

Слайд 13

Описание слайда:

Метод микроскопии Микроскопия (лат. μΙκροσ — мелкий, маленький и σκοποσ — вижу) — изучение объектов с использованием микроскопа.

Слайд 14

Описание слайда:

Типы диаметров Сферические частицы хорошо описываются их диаметрами Для несферических частиц: диаметр по Мартину(M) длина линии, которая делит частицу на две равные по площади части. диаметр по Ферету(F) то максимальное расстояние между краями частицы. диаметр проектируемой поверхности(da или dp) Его определяют как диаметр круга с площадью, равновеликой площади проекции частицы. Как показывает практика, диаметр Ферета превышает диаметр проектируемой поверхности, который в свою очередь больше диаметра Мартина.

Слайд 15

Описание слайда:

Разновидности микроскопов

Слайд 16

Описание слайда:

Оптическая микроскопия

Слайд 17

Описание слайда:

Оптическая микроскопия Основные составные элементы: Объектив Окуляр Конденсор Осветители Столик для образцов Электромеханические компоненты

Слайд 18

Описание слайда:

Разрешение оптического микроскопа (уравнение Аббе)

Слайд 19

Описание слайда:

Слайд 20

Описание слайда:

Взаимодействие электронов с образцом

Слайд 21

Описание слайда:

Упругое и неупругое рассеивание

Слайд 22

Описание слайда:

Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)

Слайд 23

Описание слайда:

Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)

Слайд 24

Описание слайда:

Подготовка образца

Слайд 25

Описание слайда:

Примеры использования ПЭМ

Слайд 26

Описание слайда:

Примеры использования СЭМ

Слайд 27

Описание слайда:

Электронная микроскопия

Слайд 28

Описание слайда:

Зондовая микроскопия

Слайд 29

Описание слайда:

Виды сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Слайд 30

Описание слайда:

Элементы СЗМ

Слайд 31

Описание слайда:

Зондовый датчик

Слайд 32

Описание слайда:

Виды зондовых датчиков

Слайд 33

Описание слайда:

Сканирующая туннельная микроскопия

Слайд 34

Описание слайда:

СТМ зонды

Слайд 35

Описание слайда:

Примеры СТМ

Слайд 36

Описание слайда:

Aтомно-силовая микроскопия

Слайд 37

Описание слайда:

Схема оптической регистрации изгиба консоли

Слайд 38

Описание слайда:

Примеры АСМ

Слайд 39

Описание слайда:

Слайд 40

Описание слайда:

Слайд 41

Описание слайда:

Метод лазерного светорассеивания: -Гибкий метод (порошки, суспензии, эмульсии); -Широкий диапазон по размеру (0.6 нм-8000 мкм ); -Быстрота измерения (как правило, около минуты); -Воспроизводимость (высокая); -Нет необходимости в калибровке по стандартным материалам.

Слайд 42

Описание слайда:

Метод лазерного светорассеивания Лазерная дифракция (Low Angel Laser Light Scattering) (0.04-2000 мкм) Фотонно - корреляционная спектроскопия (0,6 нм-8 мкм)